「Electron Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for labeling by which observation can be made with an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡で観察可能な標識法を提供すること。 - 特許庁

In this transmission electron microscope, when a sample 1 is inclined, a sample inclining/rotating mechanism 2 is driven by the control from an electron microscope body control system 7.例文帳に追加

試料１を傾斜させる場合、電子顕微鏡本体制御系７からの制御により、試料傾斜・回転機構２が駆動される。 - 特許庁

the electrode that is the source of electrons in a cathode-ray tube or electron microscope 例文帳に追加

ブラウン管または電子顕微鏡における電子源である電極 - 日本語WordNet

electron microscope used to observe the surface structure of a solid 例文帳に追加

固体の表層構造を観察するために使用される電子顕微鏡 - 日本語WordNet

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE REDUCING GEOMETRICAL ABERRATIONS AND SPACE-CHARGE EFFECTS例文帳に追加

幾何収差と空間電荷効果を低減した写像型電子顕微鏡 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 - 特許庁

ACCURATE AXIS ADJUSTMENT METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の高精度な軸調整方法及びその装置 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope.例文帳に追加

標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。 - 特許庁

To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample.例文帳に追加

試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。 - 特許庁

ELECTRIC MANIPULATOR FOR POSITIONING SPECIMEN ON TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター - 特許庁

SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR OUTERMOST LAYER OF STEEL PLATE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による鋼板の最表層の評価方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH IN-SITU SAMPLE PRETREATING FUNCTION例文帳に追加

Ｉｎ−ｓｉｔｕ試料前処理機能を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

This scanning electron microscope is structured by assembling an image processing device in it.例文帳に追加

走査電子顕微鏡に、画像処理装置を組み込んだ構成である。 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR REMOVING LENS HYSTERESIS OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のレンズヒステリシス除去方法及びレンズヒステリシス除去プログラム - 特許庁

With the electron microscope years and years ago例文帳に追加

これは何年も何年も前に撮った 電子顕微鏡を使ったイメージです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a sample holder for a microscope that can observe almost a total region of a sample with high resolution using a scanning electron microscope, and to provide an electron microscope equipped with such a sample holder for a microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて試料の略全域を高分解能で観察することができる顕微鏡用試料ホルダ、及びそのような顕微鏡用試料ホルダを具備する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

To provide an electron microscope, where an electron beam will not irradiate photographing visual field at focus-adjustment.例文帳に追加

焦点合わせの際に電子線が撮影視野を照射することない電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron beam irradiation apparatus and a scanning electron microscope apparatus, which have a high resolution and are small.例文帳に追加

分解能が良くかつ小型の電子線照射装置と走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of safely and surely blocking an X-ray generated when an electron beam is radiated, in relation to an electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、電子線を照射した際に発生するＸ線を安全かつ確実に遮蔽することができる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast.例文帳に追加

透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron source used for an electron microscope capable of causing field emission of an electron beam at a low voltage and high efficiency.例文帳に追加

低電圧で高効率に電子ビームを電界放出することができる電子顕微鏡などに用いられる電子源を実現する。 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法 - 特許庁

SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料作製装置及び電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁

LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

of or relating to or involving an electron microscope 例文帳に追加

電子顕微鏡の、電子顕微鏡に関する、または、電子顕微鏡にかかわる - 日本語WordNet

METHOD FOR ANALYZING MATERIAL IN MICROCAPSULE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁

The sample holder 10 is for a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

試料ホルダー１０は、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の試料ホルダーである。 - 特許庁

DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLING APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置 - 特許庁