「dummy entry」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The semiconductor device having a test mode for conducting a test is equipped with a first circuit that generates a first signal based upon a first dummy command signal inputted a plurality of times, and a second dummy command signal and a third dummy command signal different from the first dummy command signal and generates a second signal designating an entry into a corresponding test mode or an exit from the corresponding test mode based upon the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力される第１のダミーコマンド信号と、前記第１のダミーコマンド信号とは異なる第２のダミーコマンド信号及び第３のダミーコマンド信号とに基づいて第１の信号を生成し、前記第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する第１の回路を備えるように構成する。 - 特許庁

The user sector LBA(Y) of the destination of transfer is copied to a dummy sector LBA(D), and entry is written in a mapping table RDM, and the storage information of the user sector LBA(X) at the transfer origin is copied to the LBA(Y).例文帳に追加

転送先のユーザ・セクタＬＢＡ（Ｙ）をダミー・セクタＬＢＡ（Ｄ）にコピーし、マッピング・テーブルＲＤＭにエントリを書き込み、転送元のユーザ・セクタＬＢＡ（Ｘ）の記憶情報をＬＢＡ（Ｙ）にコピーする。 - 特許庁

In the management device, in the case where a request of reconstructing a specific region is received, the presence or absence of a dummy file whose name has been changed is searched based on file identification information recorded in file entry (FE) of individual files (management information) (S11, S12).例文帳に追加

本管理装置では、特定領域の再構築要求を受けた場合、各ファイルのＦＥ（管理情報）に記録されているファイル識別情報に基づいて、名称変更されたダミーファイルの有無を探索する（Ｓ１１・Ｓ１２）。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁