「force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ATOMIC FORCE AND MOLECULAR FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子及び分子間力顕微鏡 - 特許庁

PROBE USED IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡、トンネル顕微鏡に用いる探針 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND PROBE例文帳に追加

原子間力顕微鏡及びプローブ - 特許庁

HIGH-BANDWIDTH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

高帯域原子間力顕微鏡装置 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE例文帳に追加

原子間力顕微鏡プローブ - 特許庁

PROBE AND MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

探針および磁気力顕微鏡 - 特許庁

PROBE APPARATUS FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用プローブ装置 - 特許庁

SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡 - 特許庁

CONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

接触式原子間力顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡装置 - 特許庁

PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用プローブ - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC-FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡装置 - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBER AND INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用プローバ及び原子間力顕微鏡 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁

MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE (MRFM), AND MAGNETIC CHIP FOR MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気共鳴力顕微鏡および磁気共鳴力顕微鏡用磁気チップ - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND STATIC ELECTRICITY MICROSCOPE例文帳に追加

非接触原子間力顕微鏡、磁気力顕微鏡、および静電気力顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁

CANTILEVER WITH FORCE AZIMUTH SENSOR FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用力方位センサ付カンチレバー - 特許庁

FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁

An atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 are attached to a microscope coupling member 40.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０は、顕微鏡連結部材４０に取り付けられる。 - 特許庁

The microscope system 1 is provided with an atomic force microscope 10 and the optical microscope 20.例文帳に追加

顕微鏡装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を備える。 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC FORCE TYPE MINUTE MATERIAL TESTING MACHINE WITH MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡付電磁力式微小材料試験機 - 特許庁

CALIBRATION OF MAGNETIC FORCE OR SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力または走査ホールプローブ顕微鏡の較正 - 特許庁

PROBE UNIT AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブユニットおよび原子間力顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査機構および原子間力顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER PROBE STRUCTURE, AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡 - 特許庁

APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置 - 特許庁

CANTILEVER WITH HIGH PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用背高探針付き片持ちレバー - 特許庁

VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用カンチレバー - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁

FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁

SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁

MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁界発生装置 - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR ELECTRIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

電気力顕微鏡用標準試料 - 特許庁

OPTICAL-LEVER TYPE OPTICAL SYSTEM FOR INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用光てこ光学系 - 特許庁

DEVICE FOR IMPRESSING VERTICAL MAGNETIC FIELD FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡の垂直磁場印加装置 - 特許庁

CANTILEVER FOR DETECTING NORMAL FORCE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡のための垂直力検出用カンチレバー - 特許庁