「force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法 - 特許庁

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

METHOD OF OPERATING ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH REDUCED IMPACT FORCE IN TAPPING MODE例文帳に追加

タッピングモードにおける衝撃力を低減化した原子間力顕微鏡の操作方法 - 特許庁

QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPIC METHOD, AND QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡 - 特許庁

To provide a properly automatically surface engageable scanning force microscope.例文帳に追加

自動表面係合の走査型力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁

MOUNT FOR SURGICAL MICROSCOPE WITH FORCE ACCUMULATION ELEMENT例文帳に追加

力蓄積要素を具備する、特に手術用顕微鏡用の架台 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND HIGH SPATIAL RESOLUTION MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び高空間分解能磁場測定方法 - 特許庁

WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE FINE WORKING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた加工方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針およびその製造方法 - 特許庁

WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally.例文帳に追加

プローブ走査装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を一体的に備える。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁

MOUNT FOR SURGICAL MICROSCOPE IN PARTICULAR WITH FORCE ACCUMULATION ELEMENT例文帳に追加

力蓄積要素を備える、とりわけ手術用顕微鏡用架台 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁

MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD OF INSULATION MATERIAL WITH ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING PARTICLE OF PHOTOMASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォトマスクのパーティクル除去方法 - 特許庁

To enable quantitative measurement of a friction force by a cantilever in a friction force microscope.例文帳に追加

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーによる定量的な摩擦力の測定を可能とすること。 - 特許庁

NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法 - 特許庁

SIGNAL DETECTING APPARATUS BY SCANNING PROBE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、および原子間力顕微鏡 - 特許庁

The front case 800A and the rear case 800B do not come into contact with the atomic force microscope 10, the optical microscope 20, and the microscope coupling member 40.例文帳に追加

フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂは、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０に接触していない。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁

MAGNETIC-RESONANCE-TYPE EXCHANGE INTERACTION FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF EXCHANGE INTERACTION FORCE USING IT例文帳に追加

磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE EXCELLENT IN HEIGHT CONTROLLABILITY例文帳に追加

高さ制御性に優れた原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.例文帳に追加

原子間力顕微鏡は、ＡＦＭスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF POLYMERIC MATERIAL AT HIGH TEMPERATURE STATE例文帳に追加

高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法 - 特許庁

To perform calibration on measurement distances of a cantilever probe for a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡のカンチレバープローブの測定距離に関する較正を行う。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加

疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁

TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING COERCIVE FORCE DISTRIBUTION IN VERTICAL MAGNETIC RECORDING MEDIUM USING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用した垂直磁気記録媒体中の保磁力分布解析法並びにその解析装置 - 特許庁

ATOMIC FORCE/HORIZONTAL FORCE MICROSCOPE WITH CALIBRATION FUNCTION AND METHOD FOR CALIBRATING SENSITIVITY THEREOF例文帳に追加

校正機能付き原子間力／水平力顕微鏡と原子間力／水平力顕微鏡の感度校正方法 - 特許庁

To provide a cantilever used for an atomic force microscope formed by integrating a highly sensitive force displacement sensors.例文帳に追加

高感度な力変位センサを集積した、原子間力顕微鏡等に用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

In the microscope system, a user mounts a sample on a sample mounting stand of an atomic force microscope (step S1), and observes the sample with an optical microscope (step S2).例文帳に追加

顕微鏡システムにおいて、使用者は、原子間力顕微鏡の試料載置台上に試料を載置し（ステップＳ１）、光学顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁

The magnetic recording head measuring device for measuring the force related to the magnetic force of the magnetic recording head 3 or the force gradient by utilizing the magnetic force microscope, is disclosed.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、磁気記録ヘッド３の磁気力に関係する力又は力勾配を測定するための磁気記録ヘッド測定装置が開示されている。 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE HAVING MAGNETIC PROBE COATED WITH EXCHANGE-COUPLED MAGNETIC MULTI-LAYER例文帳に追加

交換結合された磁気多層でコートされた磁気プローブを持つ磁気力顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING MASK EXCESS DEFECT BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたマスク余剰欠陥除去方法 - 特許庁