「force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

When analyzing the composite material by using the atomic force microscope, data of the phase delay of the composite material acquired by using a noncontact mode of the atomic force microscope are acquired under the condition of at least two set temperatures.例文帳に追加

複合材料を原子間力顕微鏡を用いて解析するとき、少なくとも２つの設定温度の条件下、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られる複合材料の位相遅れのデータを取得する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can precisely detect interaction quantity due to interatomic force between a cantilever and a sample with a measurement method using light such as an optical lever method, even when the cantilever is driven in high speed in the Z direction, and to provide a cantilever support of the atomic force microscope.例文帳に追加

カンチレバーをＺ方向に高速に駆動した場合にも、光てこ法等の光を使った測定法でカンチレバーの試料との間の原子間力による相互作用量を正確に検出できる原子間力顕微鏡及びそのカンチレバー支持具を提供する。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の４探針のプローブを導入すること。 - 特許庁

The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.例文帳に追加

修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁

The resin molding surface 3 has <0.2 [nm] surface roughness Ra measured by an atomic force microscope (AFM).例文帳に追加

樹脂成形面３の表面粗さＲａは、原子間顕微鏡（ＡＦＭ）で測定した場合に、０．２［ｎｍ］未満となっている。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

The period of the ruggedness of the surface is determined by a power spectral function of a rugged image which is obtained by an atomic force microscope.例文帳に追加

表面の凹凸の周期は、原子間力顕微鏡で得られた凹凸像のパワースペクトル関数を求め、決定する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加

ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁

To provide an XY stage for an electron microscope with little disturbance of electron beams by magnetic force lines, though of high speed.例文帳に追加

高速でありながら、磁力線による電子ビームの擾乱が少ない電子顕微鏡用ＸＹステージを実現する。 - 特許庁

When analyzing and processing the polymer, polymer phase-data is obtained by using a non-contact mode of an atomic force microscope.例文帳に追加

ポリマーの解析処理を行うとき、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いてポリマーの位相データを取得する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope having high usability and high measuring precision, and a method therefor.例文帳に追加

一層高い有用性及び測定精度を有する原子間力顕微鏡及びその測定方法を提供すること。 - 特許庁

An all metal probe suitable for an electric interatomic force microscope is manufactured only by two lithography processes.例文帳に追加

電気式原子間力顕微鏡に適した全金属プローブをたった２つのリソグラフィー工程だけで製造するようにした。 - 特許庁

To provide a rack for microscope which easily gives necessary supporting force when a column is held at a desired tilted position, and to provide a microscope equipped with the rack, further to provide a rack for microscope in which tilting operation of the column is easily performed with small force, and to provide a microscope equipped with the rack.例文帳に追加

支柱を所望傾倒位置に保持する際、必要な保持力を容易に確保することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とし、更に、前記支柱の傾倒操作に際し、小さな力で容易に傾倒操作することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.例文帳に追加

専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an AFM probe for use in an atomic force microscope (AFM), which is suitable for testing both topographical and mechanical properties of a microstructure having a size on the order of micrometers or nanometers.例文帳に追加

本発明は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope；AFM）に用いられるＡＦＭプローブに関し、より詳しくは、マイクロ単位またはナノ単位のサイズを有する微小構造物の形状及び機械的物性試験に共用可能なＡＦＭプローブを提供すること。 - 特許庁

To provide a dental microscope apparatus which improves positional restoration properties of the microscope with a unidirectional movement of the microscope, by allowing a lever to turn in one direction when a doctor tries to move the microscope in the prescribed direction with a small force, thereby enabling an easy focus adjustment to a diseased part at the time of a dental examination or treatment.例文帳に追加

歯科診療，治療を行う際に、医師が小さい力で顕微鏡を所定の方向に移動させようとしたとき、レバーの回動を一方向にのみ許容することで、顕微鏡を一定方向に移動させて顕微鏡の位置復元性を向上させることにより、患部に対するピント合わせを容易にする。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

In the section observed with the horizontal force microscope, the area proportion of the phase having the lowest horizontal force is ≥5% and that of the phase having the highest horizontal force is ≥10%.例文帳に追加

断面を水平力顕微鏡で観察した場合、水平力が最も低い相の面積率が５％以上、最も水平力が高い相が10％以上である前記 記載の水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

To provide a probe apparatus for a magnetic force microscope having resolution suitable for measuring a high-recording-density magnetic recording medium.例文帳に追加

高記録密度の磁気記録媒体の測定に適した分解能を有する磁気力顕微鏡用プローブ装置を提供する。 - 特許庁

The disconnectable/interchangeable adjustment knob for a microscope is fixed on an adjustment means by magnetic force.例文帳に追加

取り外し可能で交換可能な顕微鏡用調節ノブであって、該調節ノブが調節手段に磁力により固定可能である。 - 特許庁

This atomic force microscope 100 has the cantilever 130 and a stage 110 for holding liquid L and the cantilever 130.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００は、カンチレバー１３０と、液体Ｌとカンチレバー１３０を保持するステージ１１０とを有している。 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

To reduce time required for correcting a defect due to mechanical processing using an atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工による欠陥修正に要する時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To improve the throughput of a removing process without overetching or leaving an unetched part of a fine working device using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いた微細加工装置のオーバーエッチや削り残しのない除去加工のスループットを向上させる。 - 特許庁

To make efficiently measurable a physical quantity concerning a cantilever probe and a scanning force microscope.例文帳に追加

カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡に関し、効率的に物理量の測定を行うことができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope probe structure which is cost-effectively manufactured to achieve ultrahigh resolution and high yield.例文帳に追加

優れた費用効果で製造可能であり、超高分解能で高い歩留まりが可能な原子間力顕微鏡プローブ構成を提供する。 - 特許庁

In the magnetic probe for magnetic force microscope, a layered structure is formed on the surface of a needle-like part made of a nonmagnetic material.例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針においては、非磁性材料からなる針状部表面上に積層構造が形成されている。 - 特許庁

A cantilever 2 for an atomic force microscope 1 includes: a vibration part formed of a vertical spring 2A and a rotary spring 2B; and a probe 2C.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１用のカンチレバー２は縦バネ２Ａおよび回転バネ２Ｂからなる振動部と探針２Ｃとを備える。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND SIGNAL DETECTION DEVICE AND/OR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出方法および信号検出装置、並びに該信号検出装置を備えた原子間力顕微鏡 - 特許庁

To achieve a miniaturization and an improvement of resolving power in a probe microscope, having a cantilever activated by the inter-atomic force with the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面との原子間力で動作するカンチレバーを有するプローブ顕微鏡にあって、小型化、解像度の改善を図る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of separately measuring frictional force deriving from surface force such as adsorptive force corresponding to the surface conditions of a sample and frictional force caused by the coefficient of friction of the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の摩擦力を測定する際に、試料の表面状態に対応した吸着力等の表面力に基づく摩擦力と、試料表面の摩擦係数に基づく摩擦力とを分離して測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A friction force microscope includes a calculation mechanism which calculates the effective probe height and twist spring constant of a cantilever in the friction force microscope by bending sensitivity obtained from displacement information of the cantilever in the bending direction and twisting sensitivity obtained from displacement information in the twisting direction, respectively, and calculates a friction force using the calculation values.例文帳に追加

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーの有効な探針高さおよび捻れバネ定数を、それぞれカンチレバーの撓み方向の変位情報から求めた撓み感度および捩れ方向の変位情報から求めた捩れ感度により算定し、該算定値を用いた摩擦力の算定機構を備えた摩擦力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of providing an irregular image containing no magnetic information even in the observation of a sample in vacuum.例文帳に追加

真空中での試料観察においても磁気情報を含まない凹凸像を得ることができる磁気力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The inter-atom force microscope 23 measures a projecting and recessed profile on the surface of the wafer 28, where CMP work is terminated.例文帳に追加

本発明によれば、ＣＭＰ加工が終了したウェーハ２８の表面の凹凸プロファイルを、原子間力顕微鏡２３によって測定する。 - 特許庁

The sample body 30 is set as a sample for an atomic force microscope, and the sample body 30 is moved in the Z-axis direction very slowly.例文帳に追加

この様な試料体３０を原子間力顕微鏡の試料としてセットし、試料体３０をＺ軸方向に極めてゆっくり移動させる。 - 特許庁

To easily manufacture a colloid probe excellent in measuring precision constituted by bonding a spherical sample particle onto a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡探針に球状試料粒子を接着させてなる測定精度の良いコロイドプローブを容易に製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain.例文帳に追加

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。 - 特許庁

It is preferable to apply the external force to the capsule 11 for submerged observation in the scanning electron microscope and the external force is preferably applied to the capsule 11 for submerged observation while vibrating the capsule.例文帳に追加

前記走査型電子顕微鏡内で前記液中観察用カプセルに外力を加えることが好ましく、前記液中観察用カプセルを振動させて外力を加えることが好ましい。 - 特許庁

To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力（挟持力）を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

To attain high accuracy of processing of an atomic force microscope microprocessing device and to make it possible to remove process waste produced in a cutting step by a process probe.例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置の加工の高精度化と加工探針による切削で発生した加工屑をインラインで除去可能にする。 - 特許庁

To observe samples with high accuracy with respect to an approach control method and an apparatus of interatomic force microscope.例文帳に追加

本発明は原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置に関し、高精度の試料観察を行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁