「force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a micro-hand which applies micro-operating force to a sample under electron beams in a vacuum of an electron microscope while ensuring vibration-isolation and suppressing outgassing.例文帳に追加

電子顕微鏡の真空中、電子線下でマイクロハンドにより耐振アウトガス抑制を保証しつつ試料に微細操作力を与えるようにする。 - 特許庁

To achieve a process without overetching or insufficient etching and a process with high accuracy in surplus defect correction of a photomask by using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたフォトマスクの余剰欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工や高精度な加工を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, the user observes the sample with the atomic force microscope in the observed region specified in the step S3 (step S4).例文帳に追加

その後、使用者は、ステップＳ３において指定した観察対象領域について原子間力顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ４）。 - 特許庁

AGGLUTINATION SIMULATOR FOR CONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, AND AGGLUTINATION SIMULATION METHOD例文帳に追加

接触モード原子間力顕微鏡の凝着シミュレータ、凝着シミュレーションプログラム、凝着シミュレーションプログラムを記憶した記録媒体及び凝着シミュレーション方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method and device for a metal atom micro-structure capable of fabricating a micro-electrode of nanometer scale using an interatomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、ナノメータスケールの微細電極を作製することができる微細金属原子構造物の作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Note that the average surface roughness Ra is measured by scanning an area of 10 μmx10 μm employing an interatomic force microscope (an AFM).例文帳に追加

ここで、平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて、１０μｍ×１０μｍの範囲を走査して測定されたものである。 - 特許庁

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。 - 特許庁

To extend a lifetime of a working probe used for a mechanical removal process with an atomic force microscope and to reduce a drift in a probe position during working.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による機械的な除去加工で加工用の探針の寿命を延ばし、加工中の探針位置のドリフトの低減を実現する。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the process surface is corrected to the opposite direction by a biaxial tilt stage provided in the atomic force microscope scanner system so as to flatten the processed figure.例文帳に追加

もしくは加工面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで反対方向に補正することで加工形状が平らになるようにする。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁

The surface to be measured is scanned by an atomic force microscope to efficiently and accurately know the correlation of the fine structure of surface plasmon with the surface structure of the sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いて被測定面を走査し、能率よく正確に表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関を知る。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.例文帳に追加

カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.例文帳に追加

あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁

The user further specifies the observed region of the sample with the atomic force microscope from the observed region retrieved in the step S2b (step S3).例文帳に追加

続いて、使用者は、ステップＳ２ｂにおいて探索した観察対象領域の中から、さらに原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域を指定する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.例文帳に追加

試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The atomic force microscope 100 is also equipped with a vibrator 154 for generating vibration, and a vibration transfer block 152 for transferring generated vibration to the glass plate 116.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００はさらに、振動を生成する振動子１５４と、生成された振動をガラス板１１６に伝達する振動伝達ブロック１５２とを備えている。 - 特許庁

(1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide a probe for a magnetic force microscope capable of observing a magnetic domain structure without causing the invasion problem of local magnetism even in the magnetic domain structure of a nanometer size.例文帳に追加

ナノメートルサイズの磁区構造であっても、局所磁性の侵襲の問題が生じることなく磁区構造の観測が可能な磁気力顕微鏡用プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.例文帳に追加

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁

To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

The silver halide photographic emulsion contains ≥50% by number of silver halide grains each having ≥10 nm thickness of a short-range repulsion region measured by a force curve method using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォースカーブ法によって測定される、近距離反発力領域の厚さが、１０ｎｍ以上であるハロゲン化銀粒子を粒子個数比率で５０％以上含有することを特徴とするハロゲン化銀写真乳剤である。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Measurement information, measured by the inter-atom force microscope 23, is outputted to a judgment device 140 and the judgment device 140 judges the quality of the wafer 28, based on measurement information.例文帳に追加

原子間力顕微鏡２３で測定された測定情報は、判定装置１４０に出力され、判定装置１４０は、測定情報に基づいてウェーハ２８の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance force microscope capable of providing sample information on the surface of a sample or a micro area on the surface of the sample while permitting wide area scanning.例文帳に追加

試料表面もしくは試料表面微小領域の試料情報を得ることができるとともに、より広域走査を可能にする磁気共鳴力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

This polybenzazole fiber is characterized by having an uneven fiber surface and having a fiber surface area rate of ≥1.03 in an AFM (atomic force microscope) observation visual field range of 1×1 μm^2.例文帳に追加

繊維表面に凹凸を有し、当該繊維表面のＡＦＭ観察視野範囲１×１μｍ^2における表面積率が１．０３以上であることを特徴とするポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the scanning plane and the mask surface is corrected by a biaxial tilt stage provided in an atomic force microscope scanner system to process the mask, while the mask surface is kept parallel to the scanning plane.例文帳に追加

もしくはスキャン面とマスク面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで補正してスキャン面とマスク面が平行になる状態で加工を行う。 - 特許庁

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁