「force microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately conduct inspection with a magnetic force microscope, with a scanning Hall probe microscope, or with a scanning magneto-resistive microscope with high speed by greatly shortening inspection time (tact time) with an atomic force microscope, and holding height of an inspection probe uniform.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化し、検査用探針の高さを一定に保持して磁気力顕微鏡、走査型ホールプローブ顕微鏡又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡による検査を正確かつ高速に行なえるようにする。 - 特許庁

In one embodiment, the electric field is impressed by using a probe 16 for an atomic force microscope.例文帳に追加

一態様では、電場は、原子間力顕微鏡用のプローブ１６を用いて印加される。 - 特許庁

COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD例文帳に追加

櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁

To provide an atomic force microscope having low sensitivity to low frequency environmental noise.例文帳に追加

低周波環境ノイズに対して感度が低い原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND MACHINING METHOD OF DIAMOND PROBE FOR MACHINING OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の加工用ダイヤモンド探針の観察方法及び加工方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK SURPLUS DEFECT USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROFABRICATING APPARATUS例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク余剰欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置 - 特許庁

PATTERN EXCESS DEFECT REPAIRING METHOD OF PHOTOMASK USING PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスクのパターン余剰欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROME MASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたクロムマスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

The potential distribution and the space resolution of the electric force microscope are evaluated by comparing the known values of potential and shape with measurements made by the electric force microscope.例文帳に追加

電気力顕微鏡の電位分解能及び空間分解能の評価を、電位及び形状について既知の値と電気力顕微鏡で測定した測定値との比較によって行う。 - 特許庁

To remove a process waste produced in micromachining with an atomic force microscope or foreign matters that is moved or scraped off by an atomic force microscope, without the use of wet cleaning.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による微細機械加工で発生した加工屑や移動により原子間力顕微鏡により移動または削り取った異物を、ウェット洗浄を用いないで除去する。 - 特許庁

To enhance the measuring precision of an atomic force microscope by destaticizing a sample efficiently without applying load to a sample measuring system when the sample is measured using the atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料を測定する際に、装置に負担をかけることなく効率よく試料を除電して、原子間力顕微鏡による測定の精度を高める。 - 特許庁

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method.例文帳に追加

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。 - 特許庁

OBJECT STATE DETECTING DEVICE, INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND LIGHT DISK DEVICE USED THEREOF例文帳に追加

物体の状態検出装置、並びにそれを利用した原子間力顕微鏡、及び光ディスク装置 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME例文帳に追加

原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 - 特許庁

To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。 - 特許庁

PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for exciting a cantilever without vibrating a cantilever holder.例文帳に追加

カンチレバーホルダーを振動させることなくカンチレバーを励振する原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, AND NONCONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

信号検出装置、及び信号検出装置を用いた非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁

These particles were assembled on a straight line using an atomic force microscope (AFM) in the contact mode. 例文帳に追加

これらの粒子は、原子間力顕微鏡(AFM)を使ったコンタクトモードで、一直線上に集められた。 - 科学技術論文動詞集

A front case 800A and a rear case 800B are attached to the base housing part 50 so as to cover over the atomic force microscope 10, the optical microscope 20 and the microscope coupling member 40.例文帳に追加

ベース筐体部５０には、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０を覆うように、フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂが取り付けられる。 - 特許庁

The user also retrieves an observed region of the sample with the atomic force microscope during observing the sample with the optical microscope (step S2b).例文帳に追加

また、使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域の探索も行う（ステップＳ２ｂ）。 - 特許庁

The Geissler tube is set in an atomic force microscope to make the X-ray from the Geissler tube irradiate the sample having the chargeability observed by the microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡にガイスラー管を設置して該顕微鏡で観察する帯電性のある試料に該ガイスラー管からＸ線を照射する。 - 特許庁

The resin composition has ≥25°C temperature Ts of starting the increase of a lateral force measured by a lateral force microscope.例文帳に追加

水平力顕微鏡を用いて、測定した組成物の水平力増大開始温度Ｔｓが２５℃以上であることを特徴とする。 - 特許庁

In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.例文帳に追加

リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.例文帳に追加

剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁

A micro-pipet probe 12, the tip of which is opened, is used as the probe of the scan type shear force microscope.例文帳に追加

走査型シェアフォース顕微鏡のプローブとして，先端が開口したマイクロピペットプローブ１２を用いる。 - 特許庁

To enhance a processing quality and a processing accuracy of a fine processing device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を応用した微細加工装置の加工品質や加工精度を向上させる。 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

To provide a movement control method for an automatically surface engageable scanning force microscope.例文帳に追加

自動表面係合の走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF OBTAINING INTERFACE INFORMATION AND METROLOGICAL INFORMATION OF SAMPLE, USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料の界面情報及び度量衡学的情報を得る方法 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

To obtain high-accuracy analysis results when analyzing and processing a polymer using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたポリマーの解析処理を行うとき、精度の高い解析結果を得る。 - 特許庁

The sample hybridized with the probe on a chip is traced by the probe of an atomic force microscope to be detected.例文帳に追加

チップ上のプローブにハイブリダイズした試料を原子間力顕微鏡のプローブでトレースして検出する。 - 特許庁

To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).例文帳に追加

ディジタルプロービング方式のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁

As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.例文帳に追加

すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁

By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.例文帳に追加

保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁

The water developable photosensitive flexographic printing plate has a phase structure having ≥3 distinguishable phases when a section of the plate is observed with a horizontal force (frictional force) microscope as a kind of scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の一種である水平力(摩擦力)顕微鏡で断面を観察した場合、識別可能な相が三相以上ある相構造を特徴とする水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加

該原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子間力顕微鏡チップ（ＡＦＭ）から金基板（ＡＵ）へ分子を移動して金基板（ＡＵ）上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ（ＤＰＮ）として作動する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope such as an atomic force microscope or the like enhanced in throughput as an in-line device by shortening a probe approach time.例文帳に追加

探針アプローチ時間を短縮してインライン装置としてのスループットを向上させた原子間力顕微鏡等の走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

The acting way of the force with charged electrophoretic particles fixed on a substrate by an atomic force microscope, having the charged electrophoretic particles fixed on its cantilevered beam.例文帳に追加

帯電泳動粒子を片持ち梁に固定化した原子間力顕微鏡で、基板上に固定化された帯電泳動粒子との力の働き方を測定する。 - 特許庁