「memory testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MEMORY TESTING METHOD, MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

メモリ試験方法・メモリ試験装置 - 特許庁

MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリ試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリの試験方法 - 特許庁

MEMORY TESTING DEVICE AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリ試験装置およびメモリ試験方法 - 特許庁

MEMORY IC TESTING SYSTEM例文帳に追加

メモリＩＣテストシステム - 特許庁

MEMORY ARRAY-TESTING CIRCUIT例文帳に追加

メモリアレイ試験回路 - 特許庁

MEMORY DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加

メモリデバイス試験装置 - 特許庁

DUAL PORT MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

デュアルポートメモリ試験装置 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体メモリ試験装置 - 特許庁

MEMORY TESTING AND INITIALIZING CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト兼初期化回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ検査装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置 - 特許庁

MEMORY MODULE AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリモジュ−ル及びメモリを試験する装置 - 特許庁

INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY例文帳に追加

メモリ用内蔵自己テスト回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリの検査回路 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEMORY SELF TESTING例文帳に追加

メモリ自己テストの方法と装置 - 特許庁

PATTERN GENERATING DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験用パターン発生装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY CAPABLE OF TESTING REDUNDANT MEMORY CELL例文帳に追加

冗長メモリセルがテスト可能な半導体メモリ - 特許庁

FLASH MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

フラッシュメモリ及びその試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験方法・メモリ試験装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリを試験する方法及びデバイス - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR MEMORY TESTING例文帳に追加

メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁

INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY ELEMENT例文帳に追加

メモリー素子用内蔵自己テスト回路 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリの試験装置および試験方法 - 特許庁

MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

記憶装置及び半導体試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリ試験装置及びメモリ試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加

メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ、半導体メモリのテスト方法およびシステム - 特許庁

SCANNED MEMORY TESTING METHOD OF MULTI-PORT MEMORY ARRAY (MEMORY ARRAY, MEMORY ARRAY TESTING METHOD, AND MULTI-PORT FLOATING POINT REGISTER)例文帳に追加

マルチポート・メモリ・アレイの走査メモリ・テスト方法（メモリ・アレイ、メモリ・アレイのテスト法、及びマルチポート浮動小数点レジスタ） - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置並びにその試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF MEMORY CELL OF INTEGRATED MEMORY AND INTEGRATED MEMORY例文帳に追加

集積メモリのメモリセルの機能をテストする方法および集積メモリ - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

不揮発性メモリ試験装置およびプログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの検査方法 - 特許庁

METHOD OF ELECTRONICALLY TESTING MEMORY MODULES例文帳に追加

メモリモジュールを電子的に試験する方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁

a method of testing the memory called reproduction process 例文帳に追加

再生法という,記憶の試験方法 - EDR日英対訳辞書

MEMORY ELEMENT TESTING BY UTILIZING SENSE AMPLIFIER例文帳に追加

センスアンプを利用してテストを行うメモリ素子 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPROCESSOR MEMORY例文帳に追加

マルチプロセッサメモリをテストするシステム及び方法 - 特許庁

FAIL DATA MEMORY CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のフェイルデータメモリ回路 - 特許庁