「memory testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM例文帳に追加

テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY例文帳に追加

形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR TESTING SYNCHRONOUS MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

同期メモリ回路をテストするためのテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁

VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING PROCEDURES例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査手法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

MEMORY REPAIR ANALYSIS DEVICE, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法及び半導体記憶装置 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY CELL例文帳に追加

半導体記憶装置、及びメモリセルテスト方法 - 特許庁

TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路及びメモリ検査方法 - 特許庁

DATA TRANSFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体メモリ試験装置のデータ転送回路 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置の試験装置 - 特許庁

IC-TESTING APPARATUS, CONTROL METHOD AND MEMORY MEDIUM IN IC-TESTING APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ試験装置、ＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびメモリのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのウェハーテスト方法 - 特許庁

TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY例文帳に追加

メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING SAME例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE例文帳に追加

ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY例文帳に追加

ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS, PROGRAM, MEMORY MEDIUM, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、プログラム、記憶媒体、および、試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING THEREOF例文帳に追加

半導体メモリおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MEMORY AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

メモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING TESTING FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を有する不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加

フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁

NAND-TYPE FLASH MEMORY AND NAND-TYPE FLASH MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ、及び、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM FOR MEMORY IN THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置におけるメモリの試験方法および試験プログラム - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

TECHNIQUE FOR TESTING WORD LINE OF MEMORY ARRAY AND RELATED CIRCUIT例文帳に追加

メモリアレイのワード線及び関連回路をテストする技術 - 特許庁

DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING例文帳に追加

集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁

ERASE FUNCTION TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR NONVOLATILE MEMORY例文帳に追加

半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TO REDUCE PACKAGE TESTING TIME例文帳に追加

パッケージテスト時間を低減させるための半導体メモリ素子 - 特許庁

REDUNDANCY OPERATING METHOD AND DEVICE, AND MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加

半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁