| 例文 |
microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2071件
METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN例文帳に追加
透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法 - 特許庁
POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ENCODING LIVE IMAGE OBTAINED THROUGH MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡の生画像を符号化する方法および装置 - 特許庁
PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁
CULTURE OBSERVATION METHOD AND INVERTED MICROSCOPE USED THEREFOR例文帳に追加
培養観察方法及びそれに用いる倒立顕微鏡 - 特許庁
CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
3次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁
AUTOMATIC FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND AUTOMATIC FOCUSING METHOD例文帳に追加
自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁
OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加
走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁
ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁
CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE PICKUP METHOD例文帳に追加
荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 - 特許庁
SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD例文帳に追加
顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁
ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁
SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD例文帳に追加
赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用 - 特許庁
ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
ILLUMINATION DEVICE AND METHOD FOR MICROSCOPE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡用照明装置、方法およびコンピュータプログラム - 特許庁
POLARIZING MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD AND POLARIZING MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
偏光顕微鏡観察法及び偏光顕微鏡システム - 特許庁
METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁
CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF ITS VS IMAGE FORMATION例文帳に追加
顕微鏡システム、そのVS画像生成方法、プログラム - 特許庁
OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加
透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁
MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁
IMAGING METHOD OF OPTICAL MICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE例文帳に追加
光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法 - 特許庁
POLARIZATION CONTROL ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加
偏光制御素子とその製造方法、並びに、顕微鏡 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|