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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > microscope methodに関連した英語例文

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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2071



例文

METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡による測定方法 - 特許庁

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ENCODING LIVE IMAGE OBTAINED THROUGH MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の生画像を符号化する方法および装置 - 特許庁

例文

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁


例文

CULTURE OBSERVATION METHOD AND INVERTED MICROSCOPE USED THEREFOR例文帳に追加

培養観察方法及びそれに用いる倒立顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, OBSERVATION METHOD AND SAMPLE LOADING MECHANISM例文帳に追加

顕微鏡装置、観察方法および試料搭載機構 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁

CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

例文

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

3次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

例文

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING DEVICE, MICROSCOPE, AND AUTOMATIC FOCUSING METHOD例文帳に追加

自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGE ANALYZING APPARATUS AND ITS IMAGE ANALYZING METHOD例文帳に追加

顕微鏡画像解析装置とその画像解析方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

FIBER ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

ファイバ照明型顕微鏡システム及びその制御方法 - 特許庁

PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁

SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁

ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

紫外線顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE PICKUP METHOD例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 - 特許庁

CONVEYING DEVICE, CONVEYING METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

搬送装置及び搬送方法並びに顕微鏡システム - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING FOCAL POSITION例文帳に追加

共焦点顕微鏡、及び焦点位置調整方法 - 特許庁

SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD例文帳に追加

顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING POSITION OF MICROSCOPE LENS例文帳に追加

顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム - 特許庁

NANOTUBE CUTTING METHOD AND PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ切断方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CREATING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

バーチャル顕微鏡スライドを作成する方法および装置 - 特許庁

ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁

SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE AND METHOD FOR MICROSCOPE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡用照明装置、方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR SCANNING TARGET例文帳に追加

走査顕微鏡及び目標物を走査するための方法 - 特許庁

POLARIZING MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD AND POLARIZING MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

偏光顕微鏡観察法及び偏光顕微鏡システム - 特許庁

MICROSCOPE EQUIPMENT AND RESOLVING METHOD OF MICROSCOPIC IMAGE例文帳に追加

顕微鏡装置および顕微鏡画像の解像方法 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF ITS VS IMAGE FORMATION例文帳に追加

顕微鏡システム、そのVS画像生成方法、プログラム - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁

IMAGING METHOD OF OPTICAL MICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法 - 特許庁

例文

POLARIZATION CONTROL ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加

偏光制御素子とその製造方法、並びに、顕微鏡 - 特許庁




  
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