「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁

EXCITATION METHOD OF CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MEASURING VIBRATION, AND ULTRASONIC MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

振動計測方法及び超音波顕微鏡システム - 特許庁

DETECTION METHOD FOR USE IN CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法 - 特許庁

METHOD FOR CAPTURING IMAGE OF SAMPLE BY MICROSCOPE例文帳に追加

試料の画像を顕微鏡で捕捉するための方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PHASE-DIFFERENCE MICROSCOPE FOCUS CONTROL例文帳に追加

位相差顕微鏡フォーカス制御方法および装置 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR OPTICAL ILLUMINATION SYSTEM FOR LASER MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ顕微鏡の照明光学系の調整方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING PROBE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁

CULTURE BOARD FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡観察用培養基板および観察方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND SAMPLE IMAGE ACQUISITION METHOD例文帳に追加

走査型顕微鏡および標本画像取得方法 - 特許庁

PROBE MOVEMENT CONTROL METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING IMAGE AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

画像取得方法及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE TEST FOR X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡性能試験方法および装置 - 特許庁

LASER APPARATUS, METHOD OF MODULATING LASER AND LASER MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ装置、レーザ変調方法およびレーザ顕微鏡 - 特許庁

RAMAN MICROSCOPE AND DISPLAY METHOD OF RAMAN SPECTRUM IMAGE例文帳に追加

ラマン顕微鏡及びラマンスペクトルイメージの表示方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE USED THEREFOR例文帳に追加

顕微鏡観察方法及びそれに用いる顕微鏡 - 特許庁

WRONG MEASUREMENT VERIFICATION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の誤測定検証方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS, LIGHT CONTROLLABLE APPARATUS AND LIGHT CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置、調光装置及び調光方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の制御装置及び方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁

POTENTIAL DIFFERENCE DETECTION METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

電位差検出方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE AND ITS MEASURING POSITION DECISION METHOD例文帳に追加

赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 - 特許庁

MACHINING METHOD USING PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針を用いた加工方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION WITH SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査顕微鏡を用いた検出装置および方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE DEVICE AND METHOD OF OBSERVING SAMPLE例文帳に追加

複合型顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE, AND METHOD OF ADJUSTING OPTICAL AXIS OF LASER BEAM例文帳に追加

顕微鏡およびレーザ光の光軸調整方法 - 特許庁

To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.例文帳に追加

ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE FOR MICROSCOPE, SAMPLE PREPARING METHOD AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

近接場光学顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

TWEEZER-EQUIPPED SCANNING PROBE MICROSCOPE AND TRANSFER METHOD例文帳に追加

ピンセット付き走査型プローブ顕微鏡および搬送方法 - 特許庁

BINOCULAR MICROSCOPE AND IMAGE PICKUP METHOD BY THE SAME例文帳に追加

双眼顕微鏡と双眼顕微鏡による撮像方法 - 特許庁

SCANNING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE AND SPECIMEN OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING PROCESSING RANGE例文帳に追加

顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING POWER UNIT FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用電動ユニットの制御装置および方法 - 特許庁