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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2071件
SCANNING LASER MICROSCOPE AND LASER SCANNING METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡及びレーザ走査方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁
ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR EVALUATING ASTIGMATISM例文帳に追加
電子顕微鏡、及び非点収差評価方法 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS PICTURE PROCESSING METHOD例文帳に追加
コンフォーカル顕微鏡及びその画像処理方法 - 特許庁
SCANNING ELECTROMAGNETIC WAVE MICROSCOPE AND CONTROL METHOD例文帳に追加
走査型電磁波顕微鏡および制御方法 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR IMAGE FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE METHOD例文帳に追加
走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法 - 特許庁
NONLINEAR MICROSCOPE AND NONLINEAR OBSERVATION METHOD例文帳に追加
非線形顕微鏡及び非線形観察方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び試料作成方法 - 特許庁
MICROSCOPE SAMPLE PLATE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
顕微鏡用サンプル板及びその製造方法 - 特許庁
SAMPLE OBSERVATION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡を用いた試料の観察方法 - 特許庁
PROBE ALIGNING METHOD FOR PROBE MICROSCOPE AND PROBE MICROSCOPE OPERATED BY THIS METHOD例文帳に追加
プローブ顕微鏡の探針位置合せ方法およびその方法により操作されるプローブ顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND ITS ADJUSTING METHOD例文帳に追加
顕微鏡対物レンズおよびその調整方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE AND ENLARGED IMAGE GENERATING METHOD例文帳に追加
顕微鏡装置及び拡大画像生成方法 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS, OBSERVATION METHOD, AND OBSERVED IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加
顕微鏡装置、観察方法、及び観察画像処理方法 - 特許庁
DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNING MIRROR DRIVING METHOD FOR LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
レーザー走査顕微鏡及びレーザ走査顕微鏡における走査ミラーの駆動方法 - 特許庁
MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁
SCANNING X-RAY MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF SCANNING X-RAY MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
走査型X線顕微鏡および走査型X線顕微鏡像の観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用試料及びその形成方法 - 特許庁
MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS, MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
顕微鏡画像撮影装置、顕微鏡画像撮影方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE, SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
顕微鏡および顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND AUTOMATIC FOCUS ADJUSTMENT METHOD BY CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
共焦点顕微鏡および該共焦点顕微鏡による自動焦点調節方法 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS AND OBSERVATION METHOD USING CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加
共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法 - 特許庁
NON-LINEAR MICROSCOPE AND NON-LINEAR OBSERVATION METHOD例文帳に追加
非線形顕微鏡及び非線形観察方法 - 特許庁
METHOD FOR ELIMINATING COLOR UNEVENNESS OF OPTICAL MICROSCOPE PHOTOGRAPH例文帳に追加
光学顕微鏡写真の色むら除去方法 - 特許庁
TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁
DIAPHRAGM CORRECTION METHOD AND DEVICE FOR ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置 - 特許庁
MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND AREA DETERMINATION METHOD例文帳に追加
顕微鏡制御装置及び領域判定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS AND SPHERICAL ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加
顕微鏡装置及び球面収差補正方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡および3次元像構築方法 - 特許庁
TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE, AND METHOD OF DISPLAYING COLOR IMAGE例文帳に追加
光学顕微鏡、及びカラー画像の表示方法 - 特許庁
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