「"microscope method"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

COLOR CONFOCAL MICROSCOPE, METHOD OF SELECTING MEASUREMENT RANGE AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

カラー共焦点顕微鏡、測定範囲選択方法、及びその制御プログラム - 特許庁

ALIGNMENT MICROSCOPE, METHOD FOR DETECTING MARK AND METHOD FOR MANUFACTURING STACKED SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アライメント顕微鏡、マーク検出方法及び積層型半導体装置の製造方法 - 特許庁

MICROSCOPE, MICRO-PLASMA ARRAY FOR MICROSCOPE, METHOD OF OBSERVING SURFACE, AND METHOD OF REFORMING SURFACE例文帳に追加

顕微鏡、顕微鏡用マイクロプラズマアレイ、表面観察方法、及び表面改質方法 - 特許庁

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method.例文帳に追加

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR IMAGE FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT REPLACEMENT DEVICE FOR MICROSCOPE, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡の光学素子交換装置、光学素子交換装置の制御方法、制御プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

To provide a method of enabling simple and reliable focusing like a wobblier device in a transmission electron microscope method.例文帳に追加

透過形電子顕微鏡法におけるワブラー装置のように簡単、確実に焦点合わせできる方法を提供する。 - 特許庁

SELECTIVE DETECTION IN COHERENT RAMAN MICROSCOPE METHOD BY SPECTRAL TEMPORAL EXCITATION SHAPING, AND SYSTEM AND METHOD FOR IMAGING例文帳に追加

スペクトル・時間励起成形によるコヒーレント・ラマン顕微鏡法における選択的検出およびイメージングのためのシステムおよび方法 - 特許庁

NEW OPTICAL MICROSCOPE, METHOD FOR OBSERVING CELL AND/OR LIVING TISSUE BY USING DETECTION OF BEAM DEFLECTION, AND ITS USE例文帳に追加

新規光学顕微鏡、および、ビーム偏向の検出を利用した細胞および／あるいは生体組織観察方法、並びに、その利用 - 特許庁

SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, METHOD OF FOCUSING IT AND METHOD OF COMPENSATING ITS ASTIGMATISM例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の焦点合わせ方法及び非点収差補正方法 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND RECORDED EQUIPMENT例文帳に追加

蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING OBJECTIVE LENS APERTURE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別方法、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a microscope system improved in microscope imaging performance by combination with fluorescence of an infrared or near infrared wavelength and a corresponding microscope method.例文帳に追加

赤外線または近赤外線波長での蛍光と組み合わせて顕微鏡結像性能を向上させる顕微鏡システムおよび対応する顕微鏡方法を提供する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

METHOD FOR SELECTIVELY COLLECTING TARGET AREA USING PROBE MICROSCOPE, METHOD OF MAKING SUBSTANCE CONTAINED IN TARGET AREA REACT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いて標的部位を選択的に採取する方法、その標的部位に含有される物質をそこにおいて反応させる方法、およびそれらの方法を行うための装置 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

A non-bonding constituent in a solution to be analyzed is separated from a bonding fraction, and bonding can be detected by a microscope method, a fluorescence method, an epifluorescence method, a luminescence method, a phosphorescence method, a radioactivity method, or an absorbance method.例文帳に追加

分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法によって検出することができる。 - 特許庁

This invention, preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscope method, is relate to a device irradiating sample (1) comprising: one irradiation beam path (2) of one light source (3) and at least another irradiation beam path (4) of another light source (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

The semiconductive belt includes an elastic layer made of a semiconductive rubber and a surface layer, wherein the surface layer is composed of a resin layer, containing a polytetrafluoroethylene resin fine powder, and a hardness-corresponding peak voltage value of the surface layer measured by an SPM (scanning probe microscope) method is ≤-6.35 V.例文帳に追加

半導電性ゴムからなる弾性層と表面層からなり，表面層はポリ四フッ化エチレン樹脂微粉末を含有する樹脂層からなり，表面層のＳＰＭ法（走査型プローブ顕微鏡）で測定した硬度対応ピーク電圧値が−６．３５Ｖ以下である半導電性ベルトとする。 - 特許庁