「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE EVALUATING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針評価法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び基板検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SILVER PROBE OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

SAMPLING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

サンプリング走査プローブ顕微鏡および走査方法 - 特許庁

REMOVAL METHOD FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び三次元像構築方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

MESH FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡用メッシュ及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

BIOLOGICAL ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF SAMPLE OBSERVATION例文帳に追加

バイオ電子顕微鏡及び試料の観察方法 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE DEVICE AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

赤外顕微鏡装置および分光分析方法 - 特許庁

SHADING CORRECTION METHOD FOR SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, PRESSURE CONTROL METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

電子顕微鏡、圧力制御方法及びプログラム - 特許庁

METHOD OF OBSERVING LIVING UNIT UNDER ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による生体ユニットの観察法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MOUNTING ADJUSTED MICROSCOPE STAGE TO MICROSCOPE STAND例文帳に追加

顕微鏡ステージを調節済みの状態で顕微鏡スタンドに取り付けるための装置と方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加

ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND MANUFACTURING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料の製造方法および電子顕微鏡用試料の製造装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料作製方法及び電子顕微鏡観察用の試料 - 特許庁

METHOD OF LITHOGRAPHY USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR IT例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法及びこのための走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPE IMAGE DISPLAY SYSTEM, OBJECT IMAGE DISPLAY METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡画像表示システム、観察体画像表示方法、及びプログラム - 特許庁

MICROSCOPE CAPABLE OF EPIFLUORESCENT AND REFLECTION CONTRAST OBSERVATION AND METHOD FOR USING SAME MICROSCOPE例文帳に追加

落射蛍光及びリフレクションコントラスト観察可能な顕微鏡及びその顕微鏡の使用方法 - 特許庁

POLARIZATION MICROSCOPE, MAGNETIC FIELD APPLYING PART FOR THE POLARIZATION MICROSCOPE AND MAGNETIC FIELD APPLICATION METHOD例文帳に追加

偏光顕微鏡、偏光顕微鏡用の磁界印加部品および磁界印加方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE CONTROLLER, METHOD OF CONTROLLING LASER SCANNING MICROSCOPE AND PROGRAM例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡制御装置、レーザ走査型顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, EVALUATION METHOD OF PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラム - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGING APPARATUS, MICROSCOPE SYSTEM, RECORDING CONTROL METHOD AND RECORDING CONTROL PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置、顕微鏡システム、記録制御方法、および記録制御プログラム - 特許庁

METHOD FOR IMAGING SAMPLE USING MICROSCOPE, MICROSCOPE AND DATA STORAGE CARRIER例文帳に追加

顕微鏡を用いて試料を撮像するための方法、顕微鏡、およびデータ記憶キャリア - 特許庁