「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡装置、顕微鏡制御方法、および、プログラム - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD AND SAMPLE STRUCTURE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用試料作製方法と試料構造 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF CHEMILUMINESCENT SAMPLE AND MICROSCOPE例文帳に追加

化学発光試料の観察方法および顕微鏡 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ顕微鏡及びそれを用いた測定方法 - 特許庁

FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

三次元顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁

SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, SAMPLE OBSERVATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、標本観察方法およびプログラム - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD FOR OBSERVING SPECIMEN, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、標本観察方法およびプログラム - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電気物性の測定方法および顕微鏡装置 - 特許庁

PHOTOMETRIC ANALYZER, ITS OPERATION METHOD, AND MICROSCOPE例文帳に追加

光分析装置、その運転方法及び顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS, ITS CONTROL PROGRAM AND CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置、該制御プログラム、及び該制御方法 - 特許庁

MICROSCOPE, AUTOFOCUS DEVICE AND AUTOFOCUS METHOD例文帳に追加

顕微鏡とオートフォーカス装置およびオートフォーカス方法 - 特許庁

MICROSCOPE AND BRIGHTNESS ADJUSTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

顕微鏡及び顕微鏡の明るさ調整方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE例文帳に追加

走査探針顕微鏡および試料観察方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT PARAMETER OF SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法 - 特許庁

ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON GENERATION METHOD例文帳に追加

電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁

QUALITY CONTROL METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による品質管理方法 - 特許庁

CELL OBSERVATION METHOD AND SCANNING MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

細胞観察方法および走査型顕微鏡装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

透過形電子顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE AND METHOD OF PREVENTING DEW CONDENSATION ON OBJECTIVE LENS例文帳に追加

顕微鏡及び対物レンズの結露防止方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

顕微鏡システム、該制御プログラム、及び該制御方法 - 特許庁

SCANNING AC HOLE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型ＡＣホール顕微鏡とその測定方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡システム及び画像データ処理方法 - 特許庁

OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SLIT CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法 - 特許庁

PROBE REGENERATION METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針再生方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PHOTOACOUSTIC MICROSCOPE APPARATUS AND ITS IMAGING METHOD例文帳に追加

光音響顕微鏡装置及びその映像方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

MICROSCOPIC ILLUMINATION ADJUSTING METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用照明調整方法及び顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁

SYNTHESIS METHOD OF MONTAGE IMAGE, AND ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

モンタージュ画像の合成方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

IMAGE PHOTOGRAPHING DEVICE FOR MICROSCOPE AND IMAGE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

顕微鏡の画像撮影装置、画像撮影方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁