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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2072件
SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE AND CONFOCAL PINHOLE ADJUSTING METHOD FOR THE SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法 - 特許庁
MIXING METHOD OF MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL, AND MEASURING SET OF THE MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL例文帳に追加
顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セット - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁
To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加
STM、AFM、SNOM用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING MICRO AMOUNT WITH THERMAL LENS MICROSCOPE例文帳に追加
熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PROPAGATION ELEMENT PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加
近視野顕微鏡用光伝搬体プローブの製造方法 - 特許庁
IMAGE REGULATING APPARATUS AND IMAGE REGULATING METHOD OF X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加
X線顕微鏡の像調整装置と像調整方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR A MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
磁気力顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING OPTICAL SCANNING MECHANISM OF SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡の光走査機構の制御方法 - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE, IMAGE DISPLAY METHOD, AND IMAGE DISPLAY PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡装置、画像表示方法および画像表示プログラム - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT OF CANTILEVER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME例文帳に追加
走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁
METHOD AND UNIT FOR CONTROLLING CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
共焦点型顕微鏡の制御方法および制御装置 - 特許庁
EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加
外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL TRANSMISSION MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加
三次元透過型顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁
LATTICE ILLUMINATION MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
格子照明顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF例文帳に追加
走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE MOUNT IN POROUS BODY例文帳に追加
多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法 - 特許庁
COVER GLASS, SLIDE GLASS, PREPARATION, OBSERVING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 - 特許庁
SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME例文帳に追加
試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁
IMAGE DISPLAY METHOD, PROGRAM, AND SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
画像表示方法、プログラム、及び走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加
散乱型近接場顕微鏡用プローブの製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING OF MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置 - 特許庁
TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加
全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁
HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD例文帳に追加
高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AS WELL AS PROGRAM例文帳に追加
コンフォーカル顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
顕微鏡画像処理装置及び顕微鏡画像処理方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁
SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁
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