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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > microscope methodに関連した英語例文

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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2072



例文

SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE AND CONFOCAL PINHOLE ADJUSTING METHOD FOR THE SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法 - 特許庁

MIXING METHOD OF MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL, AND MEASURING SET OF THE MICROSCOPE OBJECTIVE LIQUID IMMERSION OIL例文帳に追加

顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セット - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

STM、AFM、SNOM用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

例文

METHOD OF SURFACE TREATMENT, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

表面処理方法及び電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁


例文

MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope system and an image forming method.例文帳に追加

顕微鏡システムおよび画像生成方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING MICRO AMOUNT WITH THERMAL LENS MICROSCOPE例文帳に追加

熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁

例文

METHOD AND APPARATUS FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS OF LIGHT SOURCE OF MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の光源光軸調整方法および装置 - 特許庁

例文

METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PROPAGATION ELEMENT PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野顕微鏡用光伝搬体プローブの製造方法 - 特許庁

IMAGE REGULATING APPARATUS AND IMAGE REGULATING METHOD OF X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

X線顕微鏡の像調整装置と像調整方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR A MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

磁気力顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING OPTICAL SCANNING MECHANISM OF SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型光学顕微鏡の光走査機構の制御方法 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, IMAGE DISPLAY METHOD, AND IMAGE DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡装置、画像表示方法および画像表示プログラム - 特許庁

METHOD AND MICROSCOPE FOR DETECTING SUBJECT IMAGING例文帳に追加

対象の画像を検出するための方法及びマイクロスコープ - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT OF CANTILEVER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME例文帳に追加

走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁

METHOD AND UNIT FOR CONTROLLING CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点型顕微鏡の制御方法および制御装置 - 特許庁

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL TRANSMISSION MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

三次元透過型顕微鏡システムおよび画像表示方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法 - 特許庁

LATTICE ILLUMINATION MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

格子照明顕微鏡およびこれを用いた観察方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁

WEAK LIGHT OBSERVATION MICROSCOPE AND WEAK LIGHT OBTAINING METHOD例文帳に追加

微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE MOUNT IN POROUS BODY例文帳に追加

多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法 - 特許庁

COVER GLASS, SLIDE GLASS, PREPARATION, OBSERVING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME例文帳に追加

試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁

SLIT SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF OBTAINING IMAGE例文帳に追加

スリット走査共焦点顕微鏡、及び画像取得方法 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING SOLID PARTICLE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法 - 特許庁

VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, AND CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、及びプログラム - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD, PROGRAM, AND SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

画像表示方法、プログラム、及び走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡用プローブの製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING OF MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置 - 特許庁

TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加

全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING CONFOCAL LASER MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 - 特許庁

HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD例文帳に追加

高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AS WELL AS PROGRAM例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OBSERVING DEFECT BY USING MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡を用いた欠陥観察方法および観察装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像処理装置及び顕微鏡画像処理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁

例文

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁




  
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