「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

ILLUMINATION DEVICE, ILLUMINATION METHOD, AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

照明装置、照明方法、及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁

IMAGE FORMING METHOD FOR OPTICAL MICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法。 - 特許庁

METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF GENERATING FOCUSED COLOR IMAGE例文帳に追加

共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, PHASE DIFFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像処理装置、位相差顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING AND USING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを形成し、かつ使用するための方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD FOR RECORDING MICROSCOPIC IMAGE, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡画像の記録方法、及びプログラム - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

MICROSCOPE OBSERVATION SYSTEM AND MICROSCOPIC IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

顕微鏡観察システムおよび顕微鏡画像の表示方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

CONTROLLER FOR SYSTEM MICROSCOPE, AND UNIT RECOGNITION METHOD THEREOF例文帳に追加

システム顕微鏡の制御装置、及びそのユニット認識方法 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法 - 特許庁

IMAGE ACQUISITION DEVICE, IMAGE COMPOSITION METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像取得装置、画像合成方法、及び顕微鏡システム - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, MICROSCOPE SYSTEM, AND WHITE BALANCE ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

撮像装置、顕微鏡システム、及びホワイトバランス調整方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁

AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE, TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

温度測定装置、温度測定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加

走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE SETTING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料装着方法 - 特許庁

SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁

PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡及び該顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法 - 特許庁

DRAWING PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡用絞りプレート板及びその製造方法 - 特許庁