「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE ILLUMINATION METHOD IN MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

顕微鏡装置、外観検査装置、半導体外観検査装置及び顕微鏡装置における試料照明方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR FOCUS CONTROL OF MICROSCOPE WITH DIGITAL IMAGING, IN PARTICULAR CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

デジタル画像式顕微鏡、それも特に共焦点顕微鏡に使用するフォーカス制御のための装置および方法 - 特許庁

OPTICAL ANALYSIS DEVICE AND OPTICAL ANALYSIS METHOD USING OPTICAL SYSTEM OF CONFOCAL MICROSCOPE OR MULTIPHOTON MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置及び光分析方法 - 特許庁

SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF IMAGE TAKEN BY SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡装置および走査型荷電粒子顕微鏡装置で取得した画像の処理方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INSPECTION DEVICE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法および走査型プローブ顕微鏡による表面検査装置 - 特許庁

GRAIN-LIKE SAMPLE OBSERVATION METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE AND GRAIN-LIKE SAMPLE BODY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体 - 特許庁

CANTILEVER FOR NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, PLASMA ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, AND FLUORESCENCE DETECTION METHOD例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用カンチレバー、それを用いたプラズモン増強蛍光顕微鏡及び蛍光検出方法 - 特許庁

MICROSCOPE USING OIL IMMERSION SYSTEM OBJECTIVE LENS, AND OBSERVATION METHOD OF MICROSCOPE USING OIL IMMERSION SYSTEM OBJECTIVE LENS例文帳に追加

油浸系対物レンズを用いた顕微鏡、及び油浸系対物レンズを用いた顕微鏡の観察方法 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope capable of displaying an optimal moving picture in accordance with the operating state of a microscope, an imaging program for a microscope and an imaging method for a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の操作状態に応じて最適な動画像の表示行なうことが可能な顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像プログラムおよび顕微鏡用撮像方法を提供すること。 - 特許庁

PROBE FOR PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE MICROSCOPE, NEEDLE-SHAPED BODY AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRONIC ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡探針及びその製造方法並びにプローブ顕微鏡並びに針状体及びその製造方法並びに電子素子及びその製造方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

LASER MICROSCOPE, LASER BEAM SCANNER, LASER BEAM SCANNING METHOD, AND METHOD FOR GENERATING IMAGE DATA例文帳に追加

レーザ顕微鏡、レーザ光走査装置、レーザ光走査方法、画像データ生成方法 - 特許庁

IRIS DEVICE TO BE USED FOR ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING IRIS DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡に用いる絞り装置及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁

HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁

SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム - 特許庁

SPECIMEN OBSERVATION METHOD, OPTICAL MICROSCOPE, AND FLUORESCENT CORRELATION ANALYZER例文帳に追加

試料観測方法、光学顕微鏡及び蛍光相関分析装置 - 特許庁

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CHARGED PARTICLE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD USING IT例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡装置及びそれを用いた画像処理方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁

MAPPING TYPE OBSERVATION METHOD AND MAPPING TYPE CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE例文帳に追加

写像型観察方法及び写像型荷電粒子線顕微鏡 - 特許庁

PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁

PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING LIGHTNESS OF IMAGE IN IMAGING TYPE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁

UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF例文帳に追加

透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁