「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide microscope equipment capable of resolving a minute pattern exceeding the theoretical resolution of the microscope equipment, and to provide a resolution inspecting method using the microscope equipment.例文帳に追加

顕微鏡装置の理論分解能を超える細密なパターンを解像可能な顕微鏡装置および顕微鏡装置を用いた解像検査方法を提供する。 - 特許庁

SPACER FOR NANO-IMPRINTING, PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR CONDITIONING ELECTRON-MICROSCOPE USING IT, SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE CONDITIONING AND ELECTRON-MICROSCOPE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

ナノインプリント用スペーサ、及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料の製造方法、並びに電子顕微鏡調整用試料、及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, CONTROL METHOD FOR THE SAME, AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡システムの制御方法、及び制御プログラム - 特許庁

SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型容量顕微鏡およびこの顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING IMAGE DISTORTIONS IN CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡における画像歪みを補正する方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡 - 特許庁

TRANSMITTED ILLUMINATION DEVICE, MICROSCOPE EQUIPPED WIGHT THE SAME AND TRANSMITTED ILLUMINATION METHOD例文帳に追加

透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE, OBJECTIVE REGION SPECIFYING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、注目領域指定方法、及びプログラム - 特許庁

To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.例文帳に追加

新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME例文帳に追加

３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁

ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE HOLDER例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法に関する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING SCANNED IMAGE AND PROGRAM THEREFOR, AND LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

走査画像の補正方法、そのプログラム、及びレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁

IMAGE PICKUP DEVICE PROVIDED WITH AUTOMATIC MICROSCOPE RECOGNIZING FUNCTION AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡自動認識機能付き撮像装置及びその制御方法 - 特許庁

OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE例文帳に追加

光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for detection with a scanning microscope.例文帳に追加

走査顕微鏡を用いた検出装置および方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING OBSERVATION SAMPLE USED FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で使用する被観察試料の調製方法 - 特許庁

APPARATUS FOR DETERMINING LIGHT POWER LEVEL, MICROSCOPE, AND METHOD FOR MICROSCOPY例文帳に追加

光パワーレベルを決定するための装置、顕微鏡および顕微鏡法 - 特許庁

FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFORCAL MICROSCOPE AND POSITIONING METHOD FOR LIGHT SHIELDING PLATE例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡及びその遮光板の位置調整方法 - 特許庁

DISPLACEMENT DETECTING DEVICE, MICROSCOPE APPARATUS, REFERENCE POINT DETECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

変位検出装置、顕微鏡装置、基準点検出方法、及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING GAIN OF TRANSMISSION DETECTOR IN IMAGING TYPE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

撮像型顕微鏡装置における透過ディテクタのゲイン決定方法 - 特許庁

METHOD FOR IMAGE ACQUISITION OF OBJECT BY MEANS OF OPTICAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

光走査型顕微鏡による対象物の画像捕捉のための方法 - 特許庁

X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR例文帳に追加

Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁

To provide a method for labeling by which observation can be made with an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡で観察可能な標識法を提供すること。 - 特許庁

ELECTRIC STAGE MONITORING SYSTEM FOR MICROSCOPE, ITS MONITORING DEVICE AND ITS MONITORING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用電動ステージ監視システム、該監視装置、及び該監視方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法 - 特許庁

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM例文帳に追加

陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE AND TESTER HAVING PROBE例文帳に追加

プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁

PHOTOACTIVATION LOCALIZATION MICROSCOPE AND PHOTOACTIVATION LOCALIZATION OBSERVATION METHOD例文帳に追加

光活性化限局顕微鏡及び光活性化限局観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, OBSERVATION IMAGE CORRECTION PROGRAM, AND OBSERVATION IMAGE CORRECTION METHOD例文帳に追加

顕微鏡システム、観察画像補正プログラム、及び観察画像補正方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE, CONTROL METHOD THEREFOR, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型共焦点レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁

PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁