「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD例文帳に追加

光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

CONFOCAL IMAGE MEASURING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL IMAGE MEASURING METHOD例文帳に追加

共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法 - 特許庁

To provide a method of preparing a rubber particle sample for electron microscope observation.例文帳に追加

電子顕微鏡観察のためのゴム粒子試料を調製する方法の提供。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

MEASURING METHOD BY TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE-ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY SPECTROGRAPH例文帳に追加

透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分光装置の測定方法 - 特許庁

SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE AND METHOD USING SAME FOR DISCRIMINATING CONDUCTION-TYPE OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

走査型容量顕微鏡とそれを用いた半導体の導電形判定方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE, ITS POSITIONING METHOD, PROGRAM FOR THE SAME, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、その位置合わせ方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁

EMISSION MICROSCOPE EQUIPMENT FOR HIGH-CURRENT PULSE PHENOMENON, AND METHOD FOR OPERATING IT例文帳に追加

高電流パルス現象用のエミション顕微鏡装置およびその動作させる方法 - 特許庁

MOON GRID SPECIALIZED FOR THREE-DIMENSIONAL OBSERVATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE , AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドおよびその製造方法 - 特許庁

SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置 - 特許庁

The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSICAL PROPERTIES OF MINUTE REGION AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USED THEREIN例文帳に追加

微小領域の物性評価方法及びそれに用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, DIAPHRAGM PLATE USED IN IT, AND MANUFACTURING METHOD OF DIAPHRAGM PLATE例文帳に追加

電子顕微鏡及びそれに用いられる絞り板並びに絞り板の製造方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method.例文帳に追加

電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

CELL OBSERVATION APPARATUS, CELL OBSERVATION METHOD, MICROSCOPE SYSTEM, AND CELL OBSERVATION PROGRAM例文帳に追加

細胞観察装置、細胞観察方法、顕微鏡システム、及び細胞観察プログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH PROBE CLEANING MECHANISM AND PROBE CLEANING METHOD例文帳に追加

探針洗浄機構を備えた走査型プローブ顕微鏡および探針洗浄方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF IMPROVING IMAGE THEREFORE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡における画像の改良方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR DIRECT OBSERVATION OF IRON OXIDE REDUCTION IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法 - 特許庁

BEAM INDUCTION CONSTRUCTION, IMAGE FORMING METHOD, ELECTRONIC MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRONIC LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

ビーム誘導構成体、結像方法、電子顕微鏡システムおよび電子リソグラフィシステム - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, IMAGE PROCESSING PROGRAM AND VIRTUAL MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラムおよびバーチャル顕微鏡システム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING CONTOUR SCANNING BY USE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のコロイドプローブカンチレバーの製造方法および製造装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE, FLAW INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム顕微鏡、欠陥検査装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF TRACKING FREQUENCY DRIFT AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING TRACKING FUNCTION例文帳に追加

周波数ドリフト追跡法及び該追跡機能を備えた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁

SUPER LUBRICATION SYSTEM AND ITS STRUCTURING METHOD, FLAKE INTERVENTION TYPE FRICTIONAL-FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

超潤滑システムとその構成方法、及びフレーク介在型摩擦力顕微鏡 - 特許庁

CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING IMAGE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF SAMPLE HAVING LAMINATED STRUCTURE例文帳に追加

積層構造を有する試料の透過型電子顕微鏡による画像形成方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, IMAGE PROCESSING PROGRAM, IMAGE PROCESSING METHOD, AND VIRTUAL MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理装置、画像処理プログラム、画像処理方法およびバーチャル顕微鏡システム - 特許庁

FOCUSING DEVICE, FOCUSING METHOD, OPTICAL CONSTANT MEASURING INSTRUMENT AND MICROSCOPE例文帳に追加

焦点合わせ装置および方法並びに光学定数測定装置および顕微鏡 - 特許庁

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING-TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、ならびに走査型近視野顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC AXIS OF ELECTRON LENS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置 - 特許庁

To provide an infrared microscope having a calibration function capable of achieving calibration of high reliability, and a calibration method of the infrared microscope.例文帳に追加

信頼性の高い校正を実現可能にした校正機能を有する赤外顕微鏡及び赤外顕微鏡の校正方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope.例文帳に追加

標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加

電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a magnification calibrating method of deriving calibration regarding the entire magnification area by easily calibrating the magnification of a microscope, such as a variable magnification stereoscopic microscope, to arbitrary magnification and the microscope.例文帳に追加

倍率可変のステレオ顕微鏡等の顕微鏡の倍率の較正を任意の倍率に対し容易に実行し、倍率全域に関する較正を導出する倍率較正方法及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁