「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD TO GRASP AT LEAST ONE SAMPLE REGION USING OPTICAL RASTER MICROSCOPE例文帳に追加

光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT, MICROSCOPE EQUIPPED WITH OPTICAL ELEMENT AND METHOD FOR ASSEMBLY OF OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

光学素子、光学素子を備えた顕微鏡装置ならびに光学素子の組み立て方法 - 特許庁

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁

EXTREMELY THIN ILLUMINATION LIGHT PRODUCING DEVICE FOR MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING IMAGE REFLECTING PHYSICAL PROPERTY VALUE OF SPECIMEN例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料の物性値を反映した画像を取得する方法 - 特許庁

FLUORESCENT MICROSCOPE AND VERTICAL ILLUMINATOR FOR FLUORESCENT OBSERVATION, AND VERTICAL ILLUMINATION METHOD例文帳に追加

蛍光顕微鏡、並びに、蛍光観察用の落射照明装置および落射照明方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING SPECIMEN SIZE THROUGH SINGLE MICROSCOPE AND SPECIMEN HOLDING INSTRUMENT APPLYING PREVIOUS TREATMENT例文帳に追加

単式顕微鏡における試料サイズの決定方法と前処理をした試料保持器具 - 特許庁

MICROSPOT EMISSION GENERATING DEVICE, DISTANCE CONTROLLING METHOD AND SCANNING PROXIMITY MICROSCOPE例文帳に追加

微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

To provide an optical microscope for obtaining a bright image, and an observation method.例文帳に追加

明るい画像を得ることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁

FOCAL POSITION INFORMATION DETECTOR, MICROSCOPE DEVICE AND FOCAL POSITION INFORMATION DETECTION METHOD例文帳に追加

焦点位置情報検出装置、顕微鏡装置及び焦点位置情報検出方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR MATCHING TEMPORAL RESOLUTION IN LATERAL DIRECTION OF MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像の横方向で経時的な解像能を整合するための方法と設備 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁

ARRANGEMENT FOR CATCHING LIGHTING BEAM IN LASER SCANNING MICROSCOPE AND ITS METHOD例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡における照明光線を捕捉するための配置およびその方法 - 特許庁

XENON LAMP DRIVING DEVICE, LIGHT SOURCE EQUIPMENT, ANALYZER, MICROSCOPE AS WELL AS DIAGNOSTIC DEVICE AND METHOD例文帳に追加

キセノンランプ駆動装置、光源装置、分析装置、顕微鏡並びに診断装置及び方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁

To provide a common sample holder, and a sample preparation method for a transmission electron microscope.例文帳に追加

共用試料ホルダーと透過型電子顕微鏡用の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD例文帳に追加

櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁

ILLUMINATING METHOD FOR MICROSCOPIC SAMPLE AND MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR USING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡標本の照明方法とこれを用いた照明装置を有する顕微鏡 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample sensitive to heat or a solvent for electron microscope observation.例文帳に追加

熱や溶剤に弱い電子顕微鏡観察用の試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

MALARIA MICROSCOPE, EXCITATION FILTER FOR USE IN THE SAME, AND OBSERVATION METHOD OF MALARIA PLASMODIA例文帳に追加

マラリア顕微鏡及びそれに用いる励起フィルター並びにマラリア原虫の観察方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEPARATING DIFFERENT EMISSION WAVELENGTHS IN SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査顕微鏡において複数の異なる放射波長を分離するための方法及び装置 - 特許庁

MULTIFUNCTIONAL CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR CUTTING OBJECT TO BE PROCESSED例文帳に追加

多機能カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡並びに加工対象物の切削方法 - 特許庁

MICRO-GRID FOR HOLDING SPECIMEN OF ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN例文帳に追加

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及び電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SLICED SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAND USED THEREFOR例文帳に追加

透過電子顕微鏡用薄片試料の作製方法、及びそれに用いる試料台 - 特許庁

SURGERY MICROSCOPE WITH OBSERVATION OBJECT FIELD ILLUMINATION, AND CONTROL METHOD FOR MICROSCOPIC ILLUMINATION例文帳に追加

観察対象野照明を有する手術顕微鏡及び顕微鏡照明制御方法 - 特許庁

METHOD FOR ALIGNING ROTARY AXIS OF CHUCK TABLE AND CENTER OF MICROSCOPE IN CUTTER例文帳に追加

切削装置におけるチャックテーブルの回転軸と顕微鏡の中心との位置合わせ方法 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE, IMAGE MANAGEMENT SERVER, IMAGE PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGE MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、画像管理サーバ、画像処理方法、プログラム及び画像管理システム - 特許庁

QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPIC METHOD, AND QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡 - 特許庁

To provide a method for simplifying astigmatism correcting work of a scanning type charged particle microscope.例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正作業の簡易化方法に関する。 - 特許庁

The electron microscope and the processing system constituted for executing this method are provided.例文帳に追加

並びに、この方法を実施するように構成された電子顕微鏡及び加工システム。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁

INTERFEROMETER, MICROSCOPE FOR SURGICAL OPERATION, AND INTERFEROMETRIC MEASURING METHOD FOR MOVING SPEED OF OBJECT例文帳に追加

干渉計、手術用顕微鏡、および対象物の運動速度の干渉測定法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

レジストパターン測定方法、走査電子顕微鏡型測長装置及び半導体装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 - 特許庁

DICING SAW AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE PIECE FOR ELECTRONIC MICROSCOPE OBSERVATION USING IT例文帳に追加

ダイシング装置およびそれを用いた電子顕微鏡観察用試料片の作成方法 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING PROCESSING POSITION IN CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND INFRARED MICROSCOPE USED IN IT例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置での加工位置決め方法及びそれに用いる赤外顕微鏡 - 特許庁

TRACKING DEVICE, TRACKING METHOD, AND BIOLOGICAL MICROSCOPE WITH THIS TRACKING DEVICE例文帳に追加

トラッキング装置およびトラッキング方法、並びに、このトラッキング装置を備えた生物顕微鏡 - 特許庁