「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

To propose a focusing device, a focusing method, a focusing program and a microscope for reducing the time required for focusing.例文帳に追加

合焦に要する時間を短縮させ得る合焦装置、合焦方法、合焦プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a carbon nanotube film composite structure, a method for manufacturing the same, and a transmission electron microscope grid.例文帳に追加

カーボンナノチューブフィルム複合構造体及びその製造方法、透過型電子顕微鏡グリッドを提供する。 - 特許庁

SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE, AND METHOD OF PROCESSING IMAGE ACQUIRED BY THE SAME例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡装置及び走査型荷電粒子顕微鏡装置で取得した画像の処理方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND FINE- MACHINING DEVICE USING THEM例文帳に追加

近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置 - 特許庁

To provide a method and a device for generating a three dimensional tomographic image in a scanning electron microscope system.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡システムにおける３次元トモグラフィ・イメージ生成のための方法と装置を提供する。 - 特許庁

DETECTING DEVICE, DETECTING METHOD, VEIN SENSING DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, DISTORTION DETECTING DEVICE, AND METAL DETECTOR例文帳に追加

検出装置、検出方法、静脈センシング装置、走査プローブ顕微鏡、歪み検知装置および金属探知機 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

ATOMIC FORCE/HORIZONTAL FORCE MICROSCOPE WITH CALIBRATION FUNCTION AND METHOD FOR CALIBRATING SENSITIVITY THEREOF例文帳に追加

校正機能付き原子間力／水平力顕微鏡と原子間力／水平力顕微鏡の感度校正方法 - 特許庁

PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE SUPPRESSING CHARGING OR POTENTIAL STRAIN OF INSULATOR SAMPLE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

絶縁物試料の帯電又は電位歪みを抑制した放射電子顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

SAMPLE TREATMENT APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER FOR THE SAME, AND METHOD OF MAKING OBSERVATIONS UNDER THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡用試料処理装置および電子顕微鏡用試料ホルダ、並びに、電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

To provide a microscopic observation method realizing observation in a wide range, and a microscope for using it.例文帳に追加

広い範囲の観察を可能とした顕微鏡の観察方法及びそれを用いるための顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for creating a virtual microscope slide having optimum image quality characteristics.例文帳に追加

最適なイメージ画質特性を有する仮想顕微鏡スライドを作成するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING SCALE BAR OF ELECTRON MICROSCOPE USING PERIODICAL WAVEFORM ON VERTICAL SIDE WALL OF PHOTO RESIST LAYER例文帳に追加

フォトレジスト層の垂直側壁上の周期的な波形を用いた電子顕微鏡のスケールバー調整をする方法 - 特許庁

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE例文帳に追加

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING MAGNIFICATION OF SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

走査型光学顕微鏡の倍率調整方法及びその装置、並びにコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an electron microscope and its operation method capable of providing additional information on an inspected object.例文帳に追加

検査された物体上の付加情報を得ることが可能な、電子顕微鏡及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope and a spectrum measurement method for measuring a spectrum in a short time.例文帳に追加

短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and system for producing virtual microscope slides having optimum image quality characteristics.例文帳に追加

最適なイメージ画質特性を有する仮想顕微鏡スライドを作成するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION例文帳に追加

校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope.例文帳に追加

取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample.例文帳に追加

試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MULTIBAND UV LIGHTING OF WAFER FOR OPTICAL MICROSCOPE WAFER INSPECTION AND MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

光学顕微鏡ウエハインスペクション及び計測システムのためのウエハの多重バンドＵＶ光照明方法及びシステム - 特許庁

METHOD OF DESIGNING ARRAY SUBSTRATE WITH A PLURALITY OF LIGHT TRANSMISSION DOTS, ARRAY SUBSTRATE, LASER BEAM SCANNER AND LASER MICROSCOPE例文帳に追加

複数の光透過ドットを備えるアレイ基板の設計方法、アレイ基板、レーザ光走査装置、レーザ顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE FOR INSPECTING AND PROCESSING OBJECT HAVING MICROSTRUCTURE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE OBJECT例文帳に追加

微小化構造を有する物体を検査及び加工するための電子顕微鏡、並びに、当該物体の製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND REPRODUCIBILITY EVALUATION METHOD AS DEVICE IN THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置及び走査型電子顕微鏡装置における装置としての再現性能評価方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ITS SYSTEM, AND DIMENSION MEASURING METHOD USING THEM例文帳に追加

電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法 - 特許庁

As one example, a confocal microscope device for correcting the aberration dynamically by using the method is shown.例文帳に追加

その例として本発明の方法を用いて動的に収差を補正する共焦点顕微鏡装置を示す。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT REPLACEMENT DEVICE FOR MICROSCOPE, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡の光学素子交換装置、光学素子交換装置の制御方法、制御プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

CAPTURING DEVICE FOR OPTICALLY CAPTURING OBJECT, METHOD FOR OPERATING IT, SCANNER, AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

物体の光学的捕捉用捕捉装置、該捕捉装置の稼動方法ならびに走査装置および共焦点顕微鏡 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

To realize a method for regulating an electron microscope which can bring forward a degree of skill level of a beginner microscope by improving operability of the microscope by decreasing a regulating work by a complicated knob operation and increasing an operation by a computer.例文帳に追加

煩わしいつまみの操作による調整作業を減少させ、コンピュータによる操作を増やすことによって電子顕微鏡の操作性を向上させ、また初心者の電子顕微鏡の習熟度を早めることができる電子顕微鏡の調整方法を実現する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope, which is capable of accurately obtaining the time change of a phenomenon occurring in a biological sample by measuring a time from the input of a trigger signal to the start of exposure, and to provide an imaging program for the microscope and an imaging method for the microscope.例文帳に追加

トリガ信号入力から露光開始までの時間を測定し、生物標本に生じた現象の時間変化を正確に把握することが可能な顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像プログラムおよび顕微鏡用撮像方法を提供すること。 - 特許庁

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法 - 特許庁

To provide a microscope constituted so that the different kinds of observation methods such as the phase difference observation method and the bright visual field observation method can be quickly switched.例文帳に追加

位相差観察と明視野観察等の異なる種類の観察方法を、迅速に切り替えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

SENSITIVITY ADJUSTING METHOD FOR PHOTOMULTIPLIER, SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE INTRODUCING THE SAME METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING SENSITIVITY ADJUSTING PROGRAM例文帳に追加

フォトマルチプライヤの感度調整方法、該感度調整方法を採用した走査型レーザ顕微鏡および感度調整プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

ABERRATION EVALUATION PATTERN, ABERRATION EVALUATION METHOD, ABERRATION CORRECTION METHOD, ELECTRON BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON MICROSCOPE, MASTER, STAMPER, RECORDING MEDIUM AND STRUCTURE例文帳に追加

収差評価用パターン、収差評価方法、収差補正方法、電子線描画装置、電子顕微鏡、原盤、スタンパ、記録媒体、及び構造物 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for direct observation of an iron oxide reduction in a transmission electron microscope capable of analyzing on the spot a reduction process of an iron oxide simply in the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過電子顕微鏡内で簡便に酸化鉄の還元過程をその場解析できるような酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization microscope type crystal orientation analysis apparatus in which analysis is easily performed even in a state that a temperature load is applied on a sample, and to provide a polarization microscope type crystal orientation analysis method.例文帳に追加

試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compound scanning probe microscope, capable of accurately displaying a positional relation between the visual field of the objective lens of an optical microscope and the cantilever of an SPM unit, and to provide a method for displaying the position of the cantilever.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レンズの視野とＳＰＭユニットのカンチレバーとの位置関係を正確に表示できる複合型走査プローブ顕微鏡及びそのカンチレバー位置表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample fixing table allowing the location of a foreign substance to be rapidly and efficiently identified within an electron microscope image; an electron microscope equipped with it; and a position identifying method of the foreign substance.例文帳に追加

異物の場所を電子顕微鏡画像の中で素早く、効率的に特定できる試料固定台及びそれを備えた電子顕微鏡、並びに、その異物の位置特定方法を提供する。 - 特許庁

The body fluid is blood or sputum, and a Raman spectroscopic microscope or a transmission electron microscope is used for a detection method to detect the particles accumulated on the phagocytes.例文帳に追加

上記体液は血液または喀痰であることを特徴とし、検出方法はラマン分光顕微鏡や透過型電子顕微鏡を用いて、該食細胞に蓄積した上記粒子を検出する。 - 特許庁

To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.例文帳に追加

微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁