「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning method in a scanning probe microscope attaining accurate magnetic measurement of a sample under a strong magnetic field, without causing disarray of the magnetic structure of the sample, and to provide a strong magnetic field scanning probe microscope device.例文帳に追加

プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Especially at the time of evaluation by a transmission electron microscope, a target material is frozen in a state including solvent such as water by quick-freezing and introduced to a cryo-type transmission electron microscope as it is with a cryo-transfer method and observed.例文帳に追加

特に透過電子顕微鏡による評価の際、急速凍結法により、対象となる物質を水分などの溶媒を含んだ状態で凍結し、クライオトランスファー法によりそのままの状態でクライオ型透過電子顕微鏡に導入し観察する。 - 特許庁

To provide a control method for optical illumination system for DUV (deep ultraviolet) laser microscope, by which highly accurate image observation or image measurement can be performed by easily removing luminosity non- uniformity inside an illumination field to occur in a DUV laser microscope.例文帳に追加

ＤＵＶレーザ顕微鏡において発生する照野内の輝度ムラを簡便に取り除き、高精度の画像観察や画像計測を行うことが可能ななＤＵＶレーザ顕微鏡の照明光学系の調整方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pattern dimension measuring method capable of measuring a cross-sectional shape using a scanning charged particle microscope such as a STEM (Scanning Transmission Electron Microscope), as to a plurality of cross sections, by one time of sample preparation, and a system therefor.例文帳に追加

ＳＴＥＭ等の走査型荷電粒子顕微鏡を用いた断面形状計測を１回のサンプル作成で複数の断面について行うことができるようにしたパターン寸法計測方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device, capable of performing sample observation in a short time in a transmission electron microscope, a scanning electron microscope or the like, and a sample observation device capable of observing the prepared sample in a short time.例文帳に追加

透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡などにおける試料観察を短時間に行える試料作製方法および試料作製装置、ならびにその作製された試料を短時間に観察できる試料観察装置を提供する。 - 特許庁

The microscope imaging apparatus comprises: an imaging means for outputting a microscope observation image as a color image; a coefficient setting means for setting the color images/monochromatic image conversion coefficient conformed to the selected microscope inspecting method; and an image conversion means for converting the color image into a monochromatic image by applying the set color image/monochromatic image conversion coefficient.例文帳に追加

顕微鏡観察画像をカラー画像として出力する撮像手段と、選択された検鏡法に適合するカラー画像／モノクロ画像変換係数を設定する係数設定手段と、前記設定されたカラー画像／モノクロ画像変換係数を適用して前記カラー画像をモノクロ画像に変換する画像変換手段とを具備する。 - 特許庁

To provide a method of measuring the height of a sample that is not affected by the reflection factor of the sample by reducing the traveling count of a Z stage without reducing the travel amount per one time of the Z stage in a confocal scanning type microscope, and to provide the confocal microscope, a record medium with the height measurement program of the conical microscope recorded thereon, and the program.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡のＺステージの１回当りの移動量を小さくすることなくＺステージの移動回数を少なくし、試料の反射率の影響を受けない試料の高さ測定方法及び共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡の高さ測定プログラムを記録した記録媒体およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SELECTIVELY COLLECTING TARGET AREA USING PROBE MICROSCOPE, METHOD OF MAKING SUBSTANCE CONTAINED IN TARGET AREA REACT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いて標的部位を選択的に採取する方法、その標的部位に含有される物質をそこにおいて反応させる方法、およびそれらの方法を行うための装置 - 特許庁

To provide a method for measuring a tilt angle of a liquid crystal cell, which can be carried out by measuring only once the intensity of transmitted light in the liquid crystal cell without requiring microscope optics.例文帳に追加

顕微光学系の必要がなく、液晶セルの透過光強度を１回測定するだけでできる液晶セルのチルト角測定方法を提供する。 - 特許庁

There is provided a method for judging the in vivo percutaneous absorbency or the skin barrier function which uses an image according to fluorescent video microscope observation of the skin coated with a fluorescent substance.例文帳に追加

蛍光物質を塗布した皮膚の蛍光ビデオマイクロスコープ観察で得た画像によりin vivo経皮吸収性又は皮膚バリア機能を判定する方法。 - 特許庁

To provide a solid observation method and an electron microscope capable of totally and accurately evaluating an electronic device structure or the like with a three-dimensional structure.例文帳に追加

３次元構造を持つ電子デバイス構造等を全体的且つ高精度に評価しうる立体観察方法及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a surface observing method using a scanning probe microscope which can perform a stable measurement by reducing the effect of the surface charge of a sample to the utmost.例文帳に追加

試料表面の帯電の影響をなるべく低減させ、安定な測定が行なえる走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a specimen measurement method for simply manufacturing a specimen measured by using an electron microscope and facilitating specimen measurement, and to provide a specimen base material for measurement.例文帳に追加

電子顕微鏡で測定する試料を簡易に作製でき試料測定が容易な試料測定方法及び測定用試料基材を提供すること。 - 特許庁

To observe samples with high accuracy with respect to an approach control method and an apparatus of interatomic force microscope.例文帳に追加

本発明は原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置に関し、高精度の試料観察を行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a human body dust detection method which easily identifies visual field to be searched under microscope without using acid in detection of such biologic materials as human body dust.例文帳に追加

人体ダストなどの生物由来物質の検出において、顕微鏡下で探索すべき視野を容易に認識でき、酸を使わない方法を提供する。 - 特許庁

The method further includes a step of then inspecting whether a non-through hole 13A which is not penetrating through the film 12, is generated or not by a scanning electron microscope.例文帳に追加

次に、走査型電子顕微鏡により第１の絶縁膜１２を貫通していない未貫通孔部１３Ａが生じているか否かを検査する。 - 特許庁

Superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method. 例文帳に追加

金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による２次元キャリア分布の評価に適した２次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.例文帳に追加

装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

In an image generation method, a first partial image obtained by imaging a target to be imaged which is observed by a microscope 50, with a prescribed resolution, is acquired.例文帳に追加

画像生成方法において、顕微鏡５０で観察される撮像対象物を所定の解像度で撮像した第１の部分画像を取得する。 - 特許庁

To provide a simulation apparatus which forms a simulation image in a scanning probe microscope at high speed, and also to provide a simulation method, and a simulation program.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるシミュレーション画像を高速に生成することができるシミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a target nucleic acid (DNA or RNA) by observing an aqueous solution in which the target nucleic acid is dissolved, under a microscope.例文帳に追加

標的核酸（ＤＮＡ又はＲＮＡ）を溶解させた水溶液中を顕微鏡で観察することにより、標的核酸を検出する方法の提供。 - 特許庁

An optical element module packaging part 26, an optical element module lens part 27, a microscope and a centering device 21 are prepared for the method of manufacturing the optical element module 22.例文帳に追加

光素子モジュール２２の製造方法は、光素子モジュールパッケージ部２６と光素子モジュールレンズ部２７と顕微鏡及び調心装置２１とを準備する。 - 特許庁

MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL IMAGE GENERATING METHOD, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER PERFORM CONTROL OF GENERATING THREE-DIMENSIONAL IMAGE AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

顕微鏡、三次元画像生成方法、三次元画像を生成する制御をコンピュータに行わせるプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a culture observation method by which a cell in culture solution is observed well for a long time, and an inverted microscope used therefor.例文帳に追加

培養液の中の細胞を良好に、しかも長時間観察することが可能な培養観察方法及び、それに使用する倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for accurately positioning a phase difference imparting member used for a phase microscope in a horizontal direction orthogonal to an optical axis.例文帳に追加

位相差顕微鏡に用いられる位相差付与部材を、光軸と直交する横方向について、精度良く位置決めすることができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method of a semiconductor structure capable of observing a structure having large aspect ratio with higher freedom, and to provide an electronic microscope system.例文帳に追加

アスペクト比の大きい構造をより高い自由度をもって観察することのできる半導体構造の観察方法及び電子顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a focal position information detector, a microscope device and a focal position information detection method which enable accurate detection of focal position information.例文帳に追加

正確な焦点位置情報の検出が可能な焦点位置情報検出装置、顕微鏡装置及び焦点位置情報検出方法を提供すること - 特許庁

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

The inclusion 3 can be analyzed by manufacturing the sample 1 for analysis by the manufacturing method, cutting it, and observing the cut surface by a microscope.例文帳に追加

本発明の製造方法により分析用サンプル(1)を製造し、切断し、切断面を顕微鏡により観察することにより、介在物(3)を分析できる。 - 特許庁

To provide a photoelectric sensor, from which the influence of interference fringe is removed, and to provide a pattern-inspecting device using the sensor, a microscope and the manufacturing method of a mask.例文帳に追加

干渉縞の影響を除去した光電センサと、それを用いたパターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for efficiently, speedily, and accurately bringing a probe and a microscope sample into electrical contact in a micro manipulation apparatus and provide its apparatus.例文帳に追加

マイクロマニピュレーション装置において、プローブと顕体試料の電気的接触を効率的にかつ迅速、正確に行なうための方法および装置の提供。 - 特許庁

To provide a new discrimination method and a device therefor capable of discriminating surely a nano-air bubble from other foreign matters by using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いてナノ気泡を確実にその他の異物から判別することのできる、新たな判別方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact low-cost polarizing microscope capable of obtaining an excellent observation image through conoscope observation and orthoscope observation, and an adjusting method.例文帳に追加

コノスコープ観察およびオルソスコープ観察による良好な観察像を得られるコンパクトでコスト的にも安価な偏光顕微鏡および調整方法を提供する。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of displaying generated fluorescence in a more easily visible manner and to provide a recording method for visualizing fluorescence.例文帳に追加

発生している蛍光をより見やすく表示することが可能な、顕微鏡システムおよび蛍光を可視化するための記録方法を提供すること。 - 特許庁

In the method for evaluating the SOI wafer, wherein a semiconductor layer, an insulating layer, and a supporting substrate are sequentially formed, the evaluation is carried out by a confocal laser microscope.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡により評価する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PHOTOPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target.例文帳に追加

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。 - 特許庁

AGGLUTINATION SIMULATOR FOR CONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH AGGLUTINATION SIMULATION PROGRAM, AND AGGLUTINATION SIMULATION METHOD例文帳に追加

接触モード原子間力顕微鏡の凝着シミュレータ、凝着シミュレーションプログラム、凝着シミュレーションプログラムを記憶した記録媒体及び凝着シミュレーション方法 - 特許庁