「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

AUTOFOCUS (AF) SYSTEM FOR MICROSCOPE REALIZING REDUCTION OF AF RANGE AND OPTIMIZATION OF INVESTIGATING DIRECTION BEFORE INVESTIGATION, AND AF METHOD AND MICROSCOPIC DEVICE EQUIPPED WITH SAME SYSTEM例文帳に追加

探査に先立ちオートフォーカス（ＡＦ）範囲の縮小および探査方向の最適化を行う顕微鏡ＡＦシステム、ＡＦ方法および同システムを備えた顕微鏡装置 - 特許庁

The method comprises measuring the moisture content and the amount of cholesterol in a stratum corneum, by measuring the intensity of self-fluorescence, generated from a collected sample of the stratum corneum by using a confocal laser microscope.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を強度測定し、角層水分量とコレステロール量を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a measurement method of sample, using an electron microscope which can carry out precise measurements of the size of feature structure of the sample.例文帳に追加

オートフォーカスの失敗による影響を除去でき、試料の特徴構造の寸法を正確に測定し得る電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.例文帳に追加

適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にＩＩＩ族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁

In the comparison results of the microscope images, if it is determined that the examination object patterns are not acceptable, the method compares the profiles to finally determine whether the patterns are acceptable or not.例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像比較結果、不良であると判断されれば２次電子信号プロフィールを比較して最終的にパターンの不良の可否を判断する。 - 特許庁

The composition comprises the following (A) to (C) ingredients; (A) ceramic particles having a number average particle size of 0.01-0.5 μm by an electron microscope method, (B) a compound containing polymerizable functional groups and (C) a photopolymerization initiator.例文帳に追加

（Ａ）電子顕微鏡法による数平均粒径が０．０１〜０．５μｍのセラミックス粒子、 （Ｂ）重合性官能基を有する化合物、及び （Ｃ）光重合開始剤 - 特許庁

To provide a confocal microscope with which a high-quality focused color image that does not including blur is efficiently generated in a short period of time, and to provide a method of generating a focused color image.例文帳に追加

ボケを含まない良質の合焦カラー画像を短い時間で効率よく生成できる共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating method that can be easily applied to an observation sample for a scanning electron microscope and can fully observe fine structure of a sample surface.例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の観察試料に簡便に適用することができ、かつ試料表面の微細構造を十分に観察し得るコーティング方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a high-performance tuning fork with a relatively simple structure and a method for manufacturing the same, and a focusing device, a displacement sensor and a confocal microscope, using the same.例文帳に追加

比較的容易な構成で性能の高い音叉、及びその製造方法、並びに、音叉を用いた合焦装置、変位センサ、及び共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for processing a microscope image by which a high-contrast and clear image is obtained for a translucent and specimen having some thickness.例文帳に追加

半透明で厚みのある被検物に対し、コントラストが高くて明瞭な画像を得ることができる顕微鏡画像の処理装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To quickly inspect a specimen containing a fine grating by using a simple inspection apparatus and a simple inspection method without using a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な検査装置及び方法を用いて、微細なグレーティングを含む被検査物について迅速に検査を行えるようにする。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To surely detect an optimum focusing position as to a method and a device for adjusting an automatic optimum focusing of a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置に関し、最適合焦点位置を確実に検出することを目的としている。 - 特許庁

COLOR CORRECTION METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING SYMPTOM OF CATARACT BASED ON COLOR IMAGE DATA OF EYE SUFFERING CATARACT TO BE EXAMINED AS ACQUIRED FROM SLIT LAMP MICROSCOPE例文帳に追加

細隙灯顕微鏡から取得された白内障被検眼のカラー画像データに基づき、白内障の症状を定量化するための色補正方法および装置 - 特許庁

To establish a scanning image signal acquiring method and provide a scan type electron microscope, capable of producing an accurate image with a high resolution without requiring any expensive, complicated vibrationproof mechanism.例文帳に追加

高価で複雑な除振機構を必要とせず、高い分解能で正確な像を得ることができる走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In this inspection method, an observation image of the electrode pad 10a through a transparent mounting substrate 10 by the differential interference microscope 1 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る検査方法では、微分干渉顕微鏡１による、透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of measuring spectra by a spectrograph and imaging a sample speedily with high resolution, and to provide an observation method.例文帳に追加

分光器によってスペクトルを測定可能であるとともに、試料を高速かつ高分解能で撮像することができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁

A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁

In this analysis method, by observing phenomenon with an emission microscope and liquid crystal analyzer, the power supply drop occurrence part in the semiconductor integrated circuit is estimated.例文帳に追加

この現象をエミッション顕微鏡、液晶解析装置で観測することによって、半導体集積回路内の電源ドロップ発生箇所を推測する解析手法を提案する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus to allow automated focusing of a charged particle beam in the scanning electron microscope or the like.例文帳に追加

自動的に荷電粒子線の焦点合わせを行うことができる走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置における焦点合わせ方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope capable of rapidly correcting the positional deviation of a sample on an observation image, and a correction method for rapidly correcting the positional deviation of the sample on the observation image.例文帳に追加

観察画像上の試料の位置ずれ補正を速やかに行える顕微鏡、及び観察画像上の試料の位置ずれを速やかに補正する補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage.例文帳に追加

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

Uniform illumination can be obtained by a simpler optical system than that in a conventional method of providing the illuminating light source 10 within a microscope, and accurate sample observation is possible.例文帳に追加

顕微鏡内に照明光源１０を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。 - 特許庁

To prove a method for reducing deviations in the optical axis of an alignment microscope, which is generated when the wafer alignment operation of a wafer for low temperature or for high temperature is performed in simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、高温又は低温のウエハのウエハアライメント動作を行う場合に発生するアライメント顕微鏡の光軸ずれを低減する方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for a nano-imprint superior in space contorollability using a single polymeric material as a transfer material and a specimen for conditioning the electron-microscope using it.例文帳に追加

単一の高分子材料を転写材として、厚さ制御性に優れたナノインプリント法及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

To realize a method of manufacturing a membrane sample for a scanning transmission electron microscope which is suitable for being used in the inspection of a multilayer structure in a semiconductor device and which is handled easily, and to realize an observation method for the membrane sam ple.例文帳に追加

半導体デバイスの多層構造の検査に用いて好適であり、取り扱いが容易な走査透過電子顕微鏡用薄膜試料作製方法および薄膜試料の観察方法を実現する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING DEVICE, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND HIGH-DENSITY RECORDING INFORMATION MEDIA READING DEVICE例文帳に追加

近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a thin sample for a transmission type electron microscope in which a coat layer is unlikely to be released from a particle surface and there is no damage in the inside of particles and the coat layers, and an observation method of the thin sample.例文帳に追加

粒子表面からコート層が剥がれ難く、粒子内部とコート層に損傷のない透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法と薄片試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

The inspection method includes applying a fluorescence in-situ hybridization method to suspended cells with a cell surface antigen fluorescence-stained and then observing cell nuclei with a fluorescence microscope focused on the nuclei.例文帳に追加

浮遊細胞の検査方法は、細胞表面抗原が蛍光染色された浮遊細胞を、蛍光インサイチューハイブリダイゼーション法に供し、次いで細胞の核にピントを合わせて核を蛍光顕微鏡で観察することを含む。 - 特許庁

To provide an electron microscope device in which analysis of spacial configuration is made possible by applying a CT method (computerized tomography method) without segmentizing the test piece and application of the CT method is possible in a general case.例文帳に追加

ＣＴ法を応用することにより試料を切片化することなしに立体構造の解析を可能とし、電子顕微鏡装置に特有の問題を解決して、一般的なケースにおいてＣＴ法の応用が可能である電子顕微鏡装置を提供する - 特許庁

To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.例文帳に追加

構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

To disclose a method and a device for controlling a beam in a scanning microscope with which individual areas or interested areas scattered over a whole focused area are scanned.例文帳に追加

個々の領域、結像領域全体にわたって分散されている関心のある領域を走査する走査型顕微鏡におけるビーム制御のための方法および装置が、開示される。 - 特許庁

Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

To provide a microscope control device and an area determination method which suppress an estimated error of a defocus amount and can suppress a load necessary for defocus amount arithmetic processing.例文帳に追加

デフォーカス量の推定誤差を抑制するとともに、デフォーカス量演算処理に要する負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び領域判定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, an image processing method, and an image processing program, capable of detecting the profile curve of the surface of an observation object accurately and speedily.例文帳に追加

観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.例文帳に追加

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus, position control method, and program for controlling the position of an object to be operated, such as a stage in a microscope system, using a pointing device, and to provide a storage medium therefor.例文帳に追加

ポインティング・デバイスを用いて、顕微鏡システムにおけるステージなどの操作対象を位置制御する情報処理装置、位置制御方法、プログラムおよび記録媒体を提供すること。 - 特許庁