「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for controlling and monitoring a position of a holding element which is provided to hold a sample to be examined, in particular by a beam device such as an electron microscope.例文帳に追加

とくには電子顕微鏡などのビーム装置によって検査される試料を保持するために設けられた保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND DEVICE FOR NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

In a method for operating a charged-particle microscope, a first image of a first region of an object is recorded by a first setting, and a second image of a second region is recorded by a second setting.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡を操作する方法であって、第１設定で対象物の第１領域の第１画像を記録し、第２設定で対象物の第２領域の第２画像を記録する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same.例文帳に追加

軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a pattern inspection method, extracting an edge shape of a pattern from an image obtained by a scanning type microscope, and estimating the electric performance of a device from the extracted information to inspect the pattern.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られる画像からパターンのエッジ形状を抽出し、その抽出情報からデバイスの電気的性能を予測し、パターンを検査するパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

The amorphous silica has a primary particle size of 18 to 50 nm as measured by a small angle X-ray scattering method, and each particle of the amorphous silica has a circularity of 0.70 to 0.85 as observed with an electron microscope.例文帳に追加

Ｘ線小角散乱法で測定した一次粒子径が１８乃至５０ｎｍであり、電子顕微鏡で観察した個々の粒子の円形度が０．７０乃至０．８５であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same.例文帳に追加

中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for optical imprint which can be observed with an SEM (Scanning Electron Microscope), can be inspected with high throughput, and can form high-definition pattern, and to provide an optical imprint method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭ観察が可能であり高スループットで検査を行うことができ、かつ、高精細なパターン形成が可能な光インプリント用のモールドと、これを用いた光インプリント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal microscope which can easily align the spot of the detecting light condensed by a detector lens and the opening of a light shielding plate and a positioning method for the light shielding plate.例文帳に追加

検出器レンズで集光された検出光のスポットと遮光板の開口とを、簡易に一致できる走査型共焦点顕微鏡及び遮光板の位置調整方法を提供する。 - 特許庁

The manufacturing method for the extremely small optical waveguide is characterized by that the oxide film is formed by anodizing the surface of the metallic substrate by using a probe tip of an atomic force microscope, etc.例文帳に追加

また、本発明の極微小光導波路の製造方法は、金属基板表面を原子間力顕微鏡等の探針先端を用いて陽極酸化して酸化膜を形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a system for simultaneously evaluating effects of a plurality of drugs in a method for rapidly and simply evaluating effects of the drugs by observing morphology change of a drug-treated filamentous bacterium by a microscope.例文帳に追加

薬剤処理した糸状菌の形態変化を顕微観察することで、薬剤の効果を迅速かつ簡便に評価する方法において複数の薬剤の効果を同時に評価するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample.例文帳に追加

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for adjusting lightness of an image in an imaging type microscope device capable of rapidly adjusting lightness of an image even when brightness is changed according to an object to be observed.例文帳に追加

観察対象によって明るさが変化するような場合でも、迅速に画像の明度を調整することが可能な撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法を提供する。 - 特許庁

In this case, claim 1 claims a superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method. 例文帳に追加

この事例では、請求項1は、金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に、粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤を請求している。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of making more rapid observation, after switching of at least either the objective or the observing method, while preventing adverse effects caused by stray lights etc., in the switching.例文帳に追加

対物レンズ、及び観察法の少なくとも一方の切り換え時に迷光等によって生じる悪影響を回避させつつ、その切り換え後の観察をより迅速に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an anisotropic friction data acquisition method of a scanning probe microscope capable of acquiring anisotropic friction data in a minute region on the sample surface, when measuring various characteristics on the surface of a wafer or the like.例文帳に追加

ウェハ等の表面上の各種特性を測定するとき試料表面の微小領域で異方摩擦データを取得できる走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.例文帳に追加

高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detection method in which a contrast difference due to an internal defect is extracted by canceling the contrast difference of an image due to the scattering of ultrasonic waves overlapped with the image of an ultrasonic microscope and due to the flow of a medium.例文帳に追加

超音波顕微鏡画像に重なった超音波の散乱や、媒質の流れによる画像のコントラスト差をキャンセルし、内部欠陥によるコントラスト差を抽出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.例文帳に追加

近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a sample to be examined which is capable of improving the effective resolution of an imaging system beyond the threshold of the resolution regulated by the characteristics of the imaging system and to provide the microscope.例文帳に追加

結像システムの特性によって規定される分解能の限界を超えて、結像システムの有効分解能の向上を可能とする被検試料検出方法及びその顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a wrong measurement verification method capable of verifying accurately wrong measurement such as measuring start position deviation, when performing inline automatic inspection of a sample such as a wafer by utilizing a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を利用してウェハ等の試料をインライン自動検査を行うとき測定開始位置ずれなどの誤測定を正確に検証できる誤測定検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method of intercellular microstructure of stratum corneum using a transmission electron microscope enabling a whole detail of intercellular microstructure of stratum corneum being easily and clearly observed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いて角層細胞間の微細構造の全体の詳細を簡便かつ明瞭に観察することができる角層細胞間の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

The method for measuring with a scanning electrostatic capacity microscope comprises the steps of exposing the sections of a silicon substrate 101, a wall region 102 and a diffused region 103, forming an insulating film 105 on the exposed surface, and forming the sample 10 formed with a contact electrode 104 on a rear surface of the substrate.例文帳に追加

シリコン基板101 、ウエル領域102 および拡散領域103 の断面を露呈させ、その露呈表面に絶縁膜105 を形成し、基板裏面にコンタクト電極104 を形成した試料10を作成する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the quality of surface recesses and projections that are not affected by factors other than projections by a scanning probe microscope for a sample where the projections with a specific size are formed on the surface.例文帳に追加

特定サイズの突起が表面に形成された試料について、走査型プローブ顕微鏡により、突起以外の因子によって影響されない表面凹凸の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method which enables the detection of the concentration of a fluorescent reagent or the like in a biosample of an experimental small animal or the like by an imaging technique using an optical microscope or the like.例文帳に追加

実験用小動物等の生物試料の内部に於ける蛍光試薬等の濃度を光学顕微鏡等を用いたイメージング技術を用いて検出することのできる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope.例文帳に追加

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a detection wavelength range setting method capable of setting easily the optimum detection wavelength range (start wavelength and acquired wavelength width) for an observation object.例文帳に追加

観察対象に対する最適な検出波長範囲（開始波長と取込み波長幅）を簡単に設定できる走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法を提供する。 - 特許庁

DEPOSITION APPARATUS AND METHOD FOR CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, SPIN TRANSISTOR, SPIN DIODE, SPIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR, AND SPIN PIN-DIODE例文帳に追加

磁性体内包ＣＮＴの析出装置、磁性体内包ＣＮＴの析出方法、磁性体内包ＣＮＴ、磁気力顕微鏡、スピン・トランジスタ、スピン・ダイオード、スピン電界効果トランジスタ、スピンｐｉｎダイオード - 特許庁

The invention relates to a method for estimating physical strength of a film from the observation of the surface conditions of the film of an aqueous acrylic-modified polyurethane resin in air and in water by using atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いての水性アクリル変性ポリウレタン樹脂被膜の、空気中と水中の表面状態の観察から被膜の物理強度を予測する方法により解決する。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁

To provide a test piece observation method capable of allocating an observation field of vision selectively to a portion required for observation of the test piece that is an observation object, and to provide an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、観察対象となる試料の観察に要する個所に対し、選択的に観察視野を割り当てることが可能な試料観察方法、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method capable of performing observation of an arbitrary sample or detection of charge-up at a measuring section in a scanning electron microscope without requiring modification of a hardware.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において任意のサンプルの観察あるいは測定部位におけるチャージアップの検出を、ハードウェアの改造を必要とせずに、実施できる方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface observation method using a scanning probe atomic force microscope capable of observing various differences of the surface state, especially the difference of hydrophobicity or hydrophilicity of the surface.例文帳に追加

表面状態の種々の相違、特に表面の疎水性あるいは親水性の差を観察することができる走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and its method capable of simultaneously performing macro inspection by visual observation and micro inspection with a microscope for a substrate on a stage part rotated to an optional inclination angle.例文帳に追加

任意の傾斜角度に回動させたステージ部上の基板に対し、目視によるマクロ検査と顕微鏡によるミクロ検査を同時に行える外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample observation method and a microscope capable of observing a sample containing photochromic molecules with super resolution, by surely inducing fluorescence suppress; effects, without generating residual fluorescent components.例文帳に追加

フォトクロミック分子を含む試料を、蛍光抑制効果を確実に誘起して、残留蛍光成分を生じることなく超解像で観察できる試料観察方法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the evaluation method for the SOI wafer where the semiconductor layer, an insulation layer, and a supporting substrate are formed in sequence, a defect in the semiconductor layer is actualized and evaluated with the laser microscope of a confocal optical system.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、半導体層に存在する欠陥を顕在化させ、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡で評価する。 - 特許庁

To provide a method appropriate for wafer edge observation using an electron microscope for investigating generation factors of foreign substances or the like, when these foreign substances or defects are discovered in wafer inspection.例文帳に追加

ウェハ検査において異物や欠陥を見つけた場合に、これら異物等の発生原因を探求するための電子顕微鏡を用いたウェハエッジ観察に関する好適な方法を提供する。 - 特許庁