「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample measuring method for removing impure substances adhered to a sample chamber of an electron microscope or the like, capable of restraining adverse effects to subsequent manufacturing processes, and to provide a charged particle apparatus.例文帳に追加

本発明の目的は、電子顕微鏡の試料室等において付着する不純物を除去し、その後の製造プロセスへの悪影響を抑制し得る試料測定方法、及び荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁

To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for detecting microorganism, capable of observing microcolonies with a microscope mounted with a high magnification object lens, without polluted with various bacteria, and to provide a method for detecting microorganism and using the device.例文帳に追加

雑菌に汚染されることなく、高倍率の対物レンズを装着した顕微鏡で微小なコロニーを観察することのできる微生物検出用デバイス及びこれを用いた微生物の検出方法を提供すること。 - 特許庁

The magnesium oxide powder has a cubic particle shape when observed by a scanning electron microscope, and has a cumulative 50% particle diameter (D_50) of at least 1.0 μm by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡にて観察した粒子形状が立方体状であり、かつレーザ回折散乱式粒度分布測定による累積５０％粒子径（Ｄ_５０）が１．０μｍ以上である酸化マグネシウム粉末。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method to easily measure phase difference by using a scanning atomic force microscope(AFM) without peeling a resist 1 during manufacturing a Levenson type phase shift mask, and to provide a method for manufacturing phase shift mask such that the manufacture process of a Levenson phase shift mask can be significantly reduced by using the above method for measuring the phase difference.例文帳に追加

レベンソン位相シフトマスクの製造途中にレジスト１を剥離せずに、走査型原子間力顕微鏡(AFM)を用いて簡便に位相差を測定する方法を提供し、この位相差測定方法を用いてレベンソン位相シフトマスクの製造プロセスを大幅に短縮することが可能になる位相シフトマスク製造方法を提供する。 - 特許庁

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁

After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加

基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をＦＩＢによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針４を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting method capable of always detecting a high-precision focus even on an object image to be processed which has a step and is composed of a complicated pattern in a device which performs image processing such as size measurement by using a combination of a microscope and an imaging device which picks up a light image of an object formed by the microscope.例文帳に追加

顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、寸法測定等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。 - 特許庁

The mask pattern correction method includes the steps of: acquiring three-dimensional information of a first portion where no black defect is present in a pattern edge of a mask pattern 5 by using a scanning probe microscope; and correcting a second portion where a black defect 2 is present in the pattern edge of the mask pattern 1 based on the three-dimensional information by using the probe of the scanning probe microscope.例文帳に追加

マスクパターン修正方法は、マスクパターン５のパターンエッジに黒欠陥が存在しない第１の部分の３次元情報を走査型プローブ顕微鏡を用いて取得するステップと、前記３次元情報に基づいてマスクパターン１のパターンエッジに黒欠陥２が存在する第２の部分を前記走査型プローブ顕微鏡のプローブを用いて修正を行うステップとを含む。 - 特許庁

To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加

ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁

In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift.例文帳に追加

本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming method and an electron microscope capable of accurately or effectively acquiring information required for comparison regarding an image forming method accompanying with comparison among images such as three-dimensional image construction and a device for forming such images.例文帳に追加

本発明の目的は、３次元像構築等の画像間の比較を伴う画像形成方法、及び当該画像を形成する装置について、比較に要する情報を、高精度、或いは効率よく取得することが可能な画像形成方法、及び電子顕微鏡の提供にある。 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。 - 特許庁

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope.例文帳に追加

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上を図り、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

The method for making a preparation for an optical microscope for observation includes a process for bonding side edge parts of at least one side of a cover glass to the lower material by sealing a gap between them with at least one kind of a sealing material.例文帳に追加

試料を観察するための光学顕微鏡用プレパラートを作製する方法であって、以下：カバーガラスの少なくとも片面の辺縁部と下部材との間を、少なくとも一種のシーリング材で接着する工程、を包含する、方法。 - 特許庁

To provide a multi-probe and a microprocessing method using it, able to be applied as it is to a scan type probe microscope, performing high-accuracy nano-processing for an arbitrary position in a wide range collectively, and directly measuring the surface shape of a workpiece after processing.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡にそのまま適用することができ、広範囲を一括に、且つ任意位置に高精度なナノ加工を行うことができ、加工後、直接被加工物の表面形状を計測することができる。 - 特許庁

To provide a microscope, even if air is contained in a preparation, capable of determining a region other than an air region as a region of an object of focusing process or the like, and to provide a region determining method, and a program.例文帳に追加

プレパラート内に空気が含まれる場合でも、当該空気の領域以外の領域を、合焦処理等の対象となる領域として判定することができる顕微鏡、領域判定方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁

To enable measurement by a highly precise scanning probe microscope using a novel cantilever with a measurement hole and provide a method for measuring mutual action of various beams and a sample substance by squeezing it into a very small region.例文帳に追加

新規な測定孔付きカンチレバーを用いて精度の高い走査型プローブ顕微鏡測定を可能にし、種々のビームと試料物質との相互作用を極小領域にまで絞り込んで測定できる方法を実現する。 - 特許庁

To provide a new sample preparation method allowing measurement of a fluorescent signal with high sensitiveness in a short time and making full use of ultra high resolution of a double resonance absorption microscope so as to improve practicability.例文帳に追加

蛍光信号を短時間、且つ高感度で計測することができ、二重共鳴吸収顕微鏡の超解像性を十分に引き出して実用性をより向上させることのできる、新しい試料調整法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, image processing method, and an image processing program, which are able to display an image on a surface, as an observation object, without wasting time even if a user specifies a wide range as an observation range.例文帳に追加

使用者が広い範囲を観察範囲として指定した場合にも無駄な時間を費やさずに観察対象物の表面の画像を表示可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

In the microscope observation sample mount-manufacturing method of a porous body in 1 above, the cured resin is cured in approximately 15 minutes (2).例文帳に追加

２．前記１．における多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法において、前記硬化型樹脂が１５分前後で硬化する短時間硬化型樹脂であることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウントの製作方法。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe suitable for use in a proximity optical microscope, and a manufacturing method for the optical fiber probe capable of manufacturing easily and inexpensively the optical fiber probe having a highly precise sharp part.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡に用いて好適な光ファイバプローブを提供するとともに、高精度な先鋭部を有する光ファイバプローブを容易にかつ安価に製造することが可能な光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for mating the face azimuth of a single crystal material which does not use a microscope, improves working efficiency, and can accurately obtain a crystal azimuth face in a cutting surface and a method for slicing the single crystal material.例文帳に追加

顕微鏡を使用せず、作業効率を向上させ、かつ、高精度で切断面に結晶方位面を得ることができる単結晶材料の面方位合わせ装置および単結晶材料のスライス方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample setting method capable of setting a sample for a transmission electron microscope (TEM) in a sample holder without fixing it to an auxiliary plate and facilitated in fixing of insertion length of the TEM sample.例文帳に追加

透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）用試料を、補助板などに装着固定することなく試料ホルダーへの装着を行うことが出来、かつＴＥＭ試料の挿入長を一定にすることが容易な試料装着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device allowing observation by an electron microscope to be rapidly carried out by correctly detecting a foreign substance in a film without causing LMIS pollution; a sample processing method; and a semiconductor inspection device.例文帳に追加

ＬＭＩＳ汚染を発生させることなく、膜中の異物を正確に検出し電子顕微鏡による観察を迅速に行うことができる荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a plate-like transparent body and a method thereof capable of detecting a minute defect with a length of about 10 μm in a major axis which is present on a surface of the plate-like transparent body without microscope inspection.例文帳に追加

板状透明体の表面に存在している長径１０μｍ程度の微細傷を、顕微鏡精査を行うことなく検出することができる板状透明体の欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope photographic system reducing a convergence time of automatic exposure without increasing light intensity of a light source, to provide an image input device, to provide an automatic exposure method, and to provide a program.例文帳に追加

本発明では光源の光量を増加させることなく自動露出の収束時間を短くすることが出来る顕微鏡撮影装置、画像入力装置、自動露出方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a resolution-evaluating method of an electron microscope, a program and an information storage medium, by which the resolution can be evaluated with high accuracy even in case that a picked-up image involves a factor degrading the accuracy of evaluation.例文帳に追加

撮像画像に評価精度を悪化させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a manipulator control method capable of efficiently assembling or arranging an object with high accuracy, when performing work which cannot be directly manually executed, such as manipulation of a fine object under a microscope while using a manipulator.例文帳に追加

顕微鏡下での微小物体の操作等人の手では直接行えない作業をマニピュレータを用いて行う場合に、高い精度で効率的に対象物を組立たり配列できるマニピュレータ制御方法を提供する。 - 特許庁

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

To provide an easy and highly reliable method for molecular diagnosis of colon cancer, usable as a substitute for or complementary means for diagnosis of colon cancer of tissue, cell or chromosome level to use naked eyes or a microscope.例文帳に追加

肉眼又は顕微鏡を用いて行われる組織、細胞、染色体レベルでの大腸癌の診断に代わる、又は、相補的に利用することが出来る、簡便かつ信頼性の高い大腸癌の分子診断を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope image photographing system and method which allows even a photographic object being in low contrast with a background to be surely recognized and is capable of photographing an area wherein many photographic objects exist.例文帳に追加

背景との濃淡差が少ない場合であっても撮影対象物を確実に認識することができ、撮影対象物が多く存在する領域を撮影することができる顕微鏡画像撮影システム及び方法を提供する。 - 特許庁

The black defect is removed by the same method as anodic oxidation by using that DLC is oxidized by partial VUV light irradiation from a scanning proximity place optical microscope probe in an ozone atmosphere, it becomes the volatile component and is removed.例文帳に追加

またはオゾン雰囲気下での走査近接場光学顕微鏡探針からの局所VUV光照射でDLCが酸化され揮発性成分となって除去されることを利用し、陽極酸化と同様な方法で黒欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide a microscope system, a focal position detecting method, and a focal position detecting program, capable of detecting the focal position of an optical system relative to a desired area of an observation object.例文帳に追加

観察対象物の所望の領域に対して相対的な光学系の焦点の位置を自動的に検出することが可能な顕微鏡システムおよび焦点位置検出方法および焦点位置検出プログラムを提供する。 - 特許庁