「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

In this method of preparing the sample for direct observation in the transmission electron microscope, of an interface between the iron oxide and solid carbon for analyzing the reduction process of the iron oxide by the solid carbon, the iron oxide which is an observation object is broken and carbon is deposited on the broken face.例文帳に追加

酸化鉄の固体炭素による還元過程を解析するために酸化鉄と固体炭素の界面を透過電子顕微鏡内で直接観察する試料の作製方法であって、観察対象物である酸化鉄を破断しその破断面に炭素を蒸着することとする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device having a function to produce precisely and rapidly an imaging recipe having an equal or better performance than an imaging recipe produced manually by SEM operators based on their own unique know-how, and to provide an imaging method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭオペレータが独自のノウハウに基づきマニュアルで生成した撮像レシピと同等あるいはそれ以上の性能をもつ撮像レシピを正確にかつ高速に生成する機能を備えた走査型電子顕微鏡装置ならびにそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

The electron scanning microscope is provided with a plurality of apertures through which electron beams are capable of passing through and a mechanism in which the plurality of apertures are changed from one to another with the electron beams, and the method of static charge control of the sample is carried out by the changeover of the apertures.例文帳に追加

上記目的を達成するために、電子ビームが通過可能な開口を複数備え、前記電子ビームに対して前記複数の開口を切り替える機構を備えた走査電子顕微鏡、及び開口の切り替えによって、試料の帯電を制御する方法を提案する。 - 特許庁

To produce steel in which the generation of the change of the structure in which the size of crystal grains different from a mother phase whitely shown by an optical microscope is refined to several tens nm is suppressed in case hardening steel and having an excellent life, particularly, an excellent rolling life even under high vibration and high loads and to provide a method for producing it.例文帳に追加

肌焼鋼において光学顕微鏡で白く見える母相と異なった結晶粒の大きさが数１０ｎｍに微細化した組織変化の発生を抑制し、高振動・高荷重下でも優れた寿命、特に転動寿命を有する鋼およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A two-dimensional area 5 on a substrate 3 and a two-dimensional area 6 on a tilt plane 4 are scanned by the probe of a scanning probe microscope to calculate the angle formed by the two 2 dimensional areas 5 and 6 in this measuring method of the tilt angle 2 of the tilt plane 4 formed on the substrate 3.例文帳に追加

基板３上に形成された傾斜面４の傾斜角２の計測手法において、基板３上の２次元領域５と傾斜面４上の２次元領域６とを走査プローブ顕微鏡のプローブにより走査し、２つの２次元領域５と６のなす角を算出する。 - 特許庁

To provide a mask for manufacturing an observation sample of an electron microscope which surely controls the etching quantity of a member having an observed region or easily searches the observed region, and a manufacturing method and a manufacturing apparatus of the observation sample using the mask.例文帳に追加

観察対象領域を有する部材のエッチング量を確実に制御でき、あるいは、観察対象領域を容易に探すことができる電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク、並びに、このマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal dot scanning microscope and a three-dimensional area specifying method capable of high-speed processing by using a wire-frame image and also specifying the area of interest by three-dimensionally confirming the image of an object.例文帳に追加

ワイヤーフレーム像を用いることで処理を高速化することができかつ、三次元像を用いることで、試料像を三次元的に確認しながら注目領域を指定することができる共焦点走査型顕微鏡および三次元注目領域指示方法を提供する - 特許庁

When the antitumor substance is administered into a human body, each erythrocyte in the blood is separated in a true circle state and erythrocytes having abnormal shapes, e.g. acanthrocyte are changed to normal erythrocytes and further, the diameter of leukocyte is made ≥2.5 times larger than that of erythrocyte when the blood is observed by a microscope in a blood cell analysis method.例文帳に追加

また、血液細胞分析法における顕微鏡で観察した場合に血液中の各赤血球は真円形状に分離し、有棘赤血球等の異常形状の赤血球を正常なものとし、更に白血球の径を赤血球の２．５倍以上とする。 - 特許庁

To realize a more accurate full-closed controller which eliminates the need for conventional expensive length measuring scales, by setting a marker or the like with high visibility on a slide glass, a stage or the like of a microscope and using a pattern image recognition method, and to realize a work by using the controller.例文帳に追加

視認度の高いマーカ等を顕微鏡のスライドガラスやステージ等に取り付け、パターン画像認識を利用することによって、従来の高価な測長スケールを全く必要としない、より高精度なフルクローズド制御装置とそれを用いて製作したワークを実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an observation method of an FIB-processed sample by an electron microscope, which enables the identification of a processed part of the sample that is processed into a thin film for a short time by FIB (focused ion beam) and enables the reduction of the time duration from setting of the processed sample to observation of the processed position.例文帳に追加

短時間にＦＩＢで薄膜状に加工された試料の加工部分を見出し、電子顕微鏡への加工済み試料のセットから加工位置の観察までの時間を短縮することができるＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a measuring method using a scanning probe microscope capable of quantitatively grasping the irregularity of the shape or physical properties of the pattern on a two-dimensional plane, the relation between the shape and physical properties of the pattern, pattern arrangement precision and the like in the analysis of the pattern having feasures in its shape, physical properties or the like.例文帳に追加

形状もしくは物性等に特徴を有するパターンの解析において、二次元平面でのパターン形状や物性のばらつき、パターン形状と物性の関係、パターン配列精度等を定量的に把握することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

In this evaluation method of the porous aggregate, a liquid whose refractive index difference from a refractive index of components is below 1 is impregnated into the porous aggregate formed by aggregating the plurality of components, and then observed by a microscope, to thereby confirm existence of a component larger than 0.4 μm.例文帳に追加

構成要素が複数集合した多孔性集合体に、該構成要素の屈折率に対して屈折率差が１以下の液体を含浸させた後、顕微鏡で観察することにより、０．４μｍ以上の構成要素の有無を確認することを特徴とする多孔性集合体の評価方法。 - 特許庁

A method of managing an etching width includes a step of forming contact arrays R1, R2 having different intervals of contacts C1, C2, a step of wet etching an insulating layer with resist patterns corresponding to these contact arrays R1, R2 as masks, and a step of then observing the discoloring of the resist patterns of these contact arrays R1, R2 by a metallurgical microscope.例文帳に追加

コンタクトＣ１、Ｃ２の間隔が互いに異なるコンタクトアレイＲ１、Ｒ２を形成し、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２に対応したレジストパターンをマスクとして、絶縁層のウェットエッチングを行った後に、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２のレジストパターンの変色を金属顕微鏡にて観察する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a plate made of a resin that is suitable, when measuring the fluorescence intensity of each spot, using a microarray scanner in high-throughput screening applications in the movement of a biopolymer by a fluorescent microscope, the observation of the reaction of living organisms, gene relation, or drug design development.例文帳に追加

蛍光顕微鏡による生体高分子の動き、生物反応の観察、遺伝子関連、又は創薬開発におけるハイスループットスクリーニング用途におけるマイクロアレイスキャナーを用いた、スポット別の蛍光強度を測定する場合において好適な樹脂製プレートと製造方法を提供する。 - 特許庁

To determine steps or unevenness formed on a sample by a simple technique or obtain three-dimensional information by using a charge particle beam device such as a scanning electron microscope, and particularly to provide a determination method or its device suitable for unevenness determination of a line and space pattern formed on a sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置で、簡単な手法で試料上に形成された段差及び凹凸の判定、或いは３次元情報を得ることにあり、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer.例文帳に追加

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring ice crystal structure inside of sample, with which the three-dimensional structure or the size distribution of an ice crystal can be measured by dying a sample with a fluorescent reagent so as to selectively react with a main component comprising the sample and observing the sample, while using fluorescent microscope functions.例文帳に追加

試料を構成する主成分と選択的に反応する蛍光試薬により染色し、蛍光顕微鏡機能を用いて観測することにより、氷結晶の三次元構造やサイズ分布を計測することができる試料内の氷結晶構造の計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a three-dimensional shape of a sample including a sharp tip part, in particular, a portion with two faces constituting a ridge line where the angle formed by the faces is 120° or less, or a sample having a conical part or a pyramid part with 120° or less of apex angle, using a confocal microscope.例文帳に追加

鋭利な先端部、特に稜線を構成する２面のなす角度が１２０度以下の部分を含む試料もしくは頂点の角度が１２０度以下の円錐部や角錐部を有する試料の三次元形状を、コンフォーカル顕微鏡を用いて計測する方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a lens barrel for a joint observer made monoscopic or conditionally stereoscopic, which is installed at the different spot of a microscope, especially on an opposite side, without requiring troublesome assembling operation to take much time or a supplementary adjusting method, and having no fault in a well-known similar solution.例文帳に追加

時間のかかる煩瑣の組込操作または補足の調節方策を要することなく、顕微鏡の異なる箇所に−特に、反対側に−設置でき、公知の類似の解決法の欠点がないモノスコピックのまたは条件付きでステレオスコピックの共同観察用鏡筒を創成する。 - 特許庁

This new method for forming a MOS structure having a GaAs base 140 includes the steps of ion implanting after formation of an oxide and thereafter performing slow heating and cooling operations, in such a manner that an interface defect detectable by a high-resolution transmission electron microscope essentially will not be generated.例文帳に追加

ＧａＡｓを基本とするＭＯＳ構造を形成する新しい方法は、酸化物形成後のイオン注入及び高分解透過電子顕微鏡によって検出できる界面欠陥が本質的に形成されないように行われるその後のゆっくりした加熱及び冷却を含む。 - 特許庁

To provide the subject method capable of easily and accurately specifying the inferior semiconductor element in a semiconductor device, even when the inferior semiconductor element is specified on the basis of the observation result by an emission microscope apparatus from the rear surface side of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの裏面側からのエミッション顕微鏡装置による観測結果に基づいて不良半導体素子を特定する場合でも、半導体デバイス中の不良半導体素子の特定を、容易化しかつ正確に行うことができる半導体素子不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface plasmon fluorescence microscope for visual confirmation with strong fluorescent intensity by configurating a light receiving member to receive the fluorescence enhanced by surface plasmon, and to provide a method of measuring the fluorescence excited by the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、表面プラズモンにより増強された蛍光を受光するように受光部品を構成することにより、強い蛍光強度で視認できる表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.例文帳に追加

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method of evaluating the vapor deposition film measures a phase change by scanning vibratingly a probe of an atomic force microscope on a vapor deposition film surface of an optical member having the vapor deposition film on a base material, and evaluates the vapor deposition film, based on the measured phase change.例文帳に追加

基材上に蒸着膜を有する光学部材の該蒸着膜表面上で、原子間力顕微鏡の探針を振動させながら走査して位相変化を測定し、測定された位相変化に基づいて前記蒸着膜を評価する蒸着膜評価方法。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method of measuring crystallographic orientation relationship of adjacent crystal grains using the goniometer of a transmission electron microscope capable of accurately observing the orientation relationship of two crystal grains and characteristics of their grain boundary in real time.例文帳に追加

２つの結晶の方位関係と結晶粒界の特性をリアルタイムで正確に確認できることを特徴とし、透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係と結晶粒界の特性を測定する測定装置及びその測定方法を提示する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring a magnetic force of a specimen using a scanning probe microscope, capable of automatically obtaining an optimal applied voltage for cantilever vibration when a lift amount is optionally determined.例文帳に追加

本発明は走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置に関し、任意のリフト量を設定した際、最適なカンチレバ加振電圧を自動的に求めることができる走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The rapid determination method of asbestos is characterized in that a sample taken from a material including a fibrous substance is heated at high temperature (80-1,250°C), and whether asbestos is included in the fibrous substance is determined depending on the presence of a fibrous substance recognized by microscope observation.例文帳に追加

繊維状物質を含む材料から採取した試料を高温（８００〜１２５０℃）で加熱し、顕微鏡観察により認められる繊維状物質の有無により、繊維状物質にアスベストが含まれているか、否かを判別することを特徴とするアスベストの迅速判別方法。 - 特許庁

To provide an Fe-Co-V soft high magnetic flux-density material which is used, e.g., for a ball piece and a yoke of an electron lens for an electron microscope, an electron beam lithography system, etc., and a ball piece and a yoke of an electromagnet for a magnetic resonance apparatus, a mass spectroscope, etc., and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子レンズのボールピース、ヨーク、および磁気共鳴装置、質量分析装置等の電磁石のボールピース、ヨーク等に使用するＦｅ−Ｃｏ−Ｖ軟質性の高磁束密度材料およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.例文帳に追加

黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method.例文帳に追加

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。 - 特許庁

The method for observing the dispersion of particles in a solution includes a process for dripping the solution on a macromolecular film floating on liquid, a process for obtaining a film in which particles are dispersed by drying the dripped solution, and a process for observing the film by using a transmission type microscope.例文帳に追加

本発明は、溶液中の粒子の分散を観察する方法であって、液体上に浮揚された高分子膜上に、前記溶液を滴下する工程と、該滴下された溶液を乾燥して粒子が分散した膜を得る工程と、透過型顕微鏡を用いて、該膜を観察する工程とを包含する方法を提供する。 - 特許庁

By this operating method, an object to be observed on the sample is specified first by using the visible light beam of a normal optical system and observed with high resolution by using the extreme ultraviolet laser beam of a confocal optical system after it is specified when the sample is observed by a ultraviolet laser confocal microscope 1.例文帳に追加

極紫外線レーザコンフォーカル顕微鏡１で試料を観察する場合、最初に試料上の観察対象を通常光学系の可視光を使用して特定し、観察対象を特定した後で、コンフォーカル光学系の極紫外線レーザを使用してより高い分解能で観察対象を観察する。 - 特許庁

The aluminum alloy sheet is subjected to cold rolling at a working ratio of 30 to 60%, the average crystal grain size obtained by a cutting method is ≤30 μm, and the area occupancy ratio of intermetallic compounds on the surface obtained by the image analysis of an observed picture in a scanning type electron microscope is 1.0 to 5.0%.例文帳に追加

このアルミニウム合金板は、加工率が３０乃至６０％の冷間圧延が施され、切断法により求めた平均結晶粒径が３０μｍ以下であり、走査型電子顕微鏡の観察画面像の画像解析により求めた表面における金属間化合物の面積占有率が１．０乃至５．０％である。 - 特許庁

The method for producing the carbon black comprises subjecting a raw material of the carbon black having 0.5-0.8 μm mode diameter in the size distribution curve drawn by using the structure lengths measured by the transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof to a heat treatment in a gas flow containing hydrogen to remove an acidic functional group.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であるカーボンブラック原料を、水素を含む気流中、加熱処理して酸性官能基を脱離させることを特徴とするカーボンブラックの製造方法。 - 特許庁

To provide a method capable of clearly observing suspended particulate matter in an atmosphere with a microscope without being affected by backgrounds, accurately measuring the amount of the suspended particulate matter in the atmosphere, and accurately identifying chemical substances contained in the suspended particulate matter in the atmosphere.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受けることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

In this method of differentiating the subcorneal cell collected from the skin, an ultraviolet ray is emitted from an ultraviolet ray source toward the subcorneal cell on a slide glass sealed with an immersion oil, under observation by a microscope or magnification video, and fluorescence intensity of the subcorneal cell excited by the ultraviolet ray is used as the index.例文帳に追加

皮膚より採取した角層細胞を鑑別する方法であって、顕微鏡下、乃至は、拡大ビデオでの観察下、油浸オイルで封入されたスライドグラス上の角層細胞に、紫外線光源より紫外線を照射し、紫外線によって励起される、角層細胞の蛍光強度を指標とすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

This information acquiring method acquires information about material in the solvent and comprises processes to hold the material in the solvent, to make the solvent as an amorphous solid phase, and to acquire information about the material held by the amorphous solvent by using an electron microscope.例文帳に追加

溶媒中における物質に関する情報の取得方法であって、前記物質を溶媒中で保持する工程と、前記溶媒を非晶質な固相状態にする工程と、前記非晶質の溶媒に保持された物質に関する情報を電子顕微鏡を用いて取得する工程とを有する情報取得方法。 - 特許庁

To provide a method of designing long life fatigue strength of a metallic material with increase in the size of ODA (a hydrogen effecting area observed to be blackish with a metallurgical microscope) according to a life to be expected for usage of a mechanical part taken into account to allow an optimal mechanical part according to a service life set to be designed.例文帳に追加

機械部品の使用想定寿命に応じたＯＤＡ（金属顕微鏡観察で黒く見える水素影響領域）寸法の拡大を考慮することにより、設定する耐用年数に応じた最適な機械部品を設計可能とした金属材料の長寿命疲労強度設計法の提供。 - 特許庁

To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.例文帳に追加

熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加

半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

The optical radiation pressure measuring device, the resonance frequency regulating method, the aperture diameter inspection device and the near field microscope provided with the aperture diameter inspection device utilize that a frequency characteristic of the resonance body is changed by the optical radiation pressure P when incident light 18 is irradiated on a reflecting means 64 provided on the resonance body.例文帳に追加

共振体に設けられた反射手段６４に入射光１８を照射したときの光放射圧Ｐにより共振体の周波数特性が変化することを利用した光放射圧測定装置、共振周波数調整方法、開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a highly efficient antibody screening method making an unknown ultramicro component composing a fine structure or the like recognized only under microscope determinable, and directly and capable of efficiently screening a specific antibody to a target protein existing in a particular tissue at a certain moment of life activity.例文帳に追加

顕微鏡下においてのみ認められる微細構造物等を構成する未知の超微量成分を決定することを可能にする、生命活動のある瞬間に特定の組織に存在する標的タンパク質に対する特異抗体を、直接的に高効率でスクリーニングする高効率抗体スクリーニング方法を提供すること。 - 特許庁