「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an extremely thin illumination light producing device for microscope and an observation method with which stereoscopic information of cells and the like can be acquired by using the device.例文帳に追加

顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記顕微鏡用極薄照明光発生装置を用いて、細胞等の立体情報を獲得することができる観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a light detection method and device, capable of detecting light to be detected with high sensitivity, even if the light to be detected is scattered light or light disturbed in wave front, and to provide a living body observing method, a microscope and an endoscope.例文帳に追加

被検出光が、散乱光や波面の乱れた光であっても、高感度かつ高感度に検出することができる光検出方法および光検出装置、並びに、生体観察方法、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a distance measuring method, which can accurately measure the distance between an examined sample and an optical observation device under a disadvantageous condition of extremely low contract, etc., and/or over the whole visual field, and to provide a microscope which implements the method.例文帳に追加

極めて低いコントラスト等の不利な条件下での及び／又は視野全体に亘っての被検試料と光学観察装置との間の正確な距離測定が可能な距離測定方法及び当該方法を実行する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope control device capable of suppressing a load related to focusing when browsing a microscopic image and improving the convenience of a reader; and to provide an image display device, a method for generating focus position information, and an image display method.例文帳に追加

顕微鏡画像閲覧時のピント調整に関する負荷を抑制し、閲覧者の利便性を向上させることが可能な顕微鏡制御装置、画像表示装置、合焦位置情報生成方法及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.例文帳に追加

カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points.例文帳に追加

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。 - 特許庁

To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample to be observed under an electron microscope, by which a sample for electron microscope is easily prepared with high alignment accuracy for a prescribed region, without having to cleave a wafer to analyze planar shape profile, and obtained data is combined to also analyze a three-dimensional shape profile.例文帳に追加

ウェハを劈開せず、特定領域に対して高い位置合わせ精度で、より簡便に、電子顕微鏡用試料を作成して平面形状プロファイルを解析することができ、得られたデータを合成して三次元の形状プロファイルをも解析することができる電子顕微鏡観察用試料の作成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope.例文帳に追加

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

The sample observation method using the electron microscope includes a fixing process for placing the sample 1 on a sample stand 2 and heating the metal joining material 3 while subjecting the same to ultrasonic vibration not only to join and fix the sample 1 and the sample stand 2 but also to electrically connect both of them and the sample 1 is observed using the electron microscope as it remains fixed on the sample stand 2.例文帳に追加

試料台２上に試料１を載置し、金属接合材３を超音波振動させながら加熱することで試料１と試料台２とを金属接合材３により接合して固定すると共に電気的に接続する固定工程を備え、試料台２上に試料１を固定した状態で電子顕微鏡を用いた観察を行う。 - 特許庁

The imaging device applied to imaging of the observed image by the microscope displays the focusing information of the image formed by the imaging device according to at least one state of the combinations of optical systems relating to at least objective lens (27) and photographic eyepiece (35a) on the microscope (1) side and a speculum method.例文帳に追加

顕微鏡による観察像の撮像に適用される撮像装置において、前記顕微鏡（１）側の少なくとも対物レンズ（２７）と写真接眼レンズ（３５ａ）の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、及び検鏡方法の少なくとも１つの状態に応じて、前記撮像装置で撮像された画像の合焦情報を表示する。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

Further, the observation method for observing the cross section of the semiconductor device includes a process for observing the cross section of the specific place of the semiconductor device by a scanning microscope and a process for forming the protective film of an amorphous structure to the cross section and further observing the cross section by the transmission type electron microscope through the protective film.例文帳に追加

また、半導体デバイスの断面を観察する観察方法において、前記半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察する工程と；前記断面に非晶質構造の保護膜を形成し、当該保護膜を透して透過型電子顕微鏡によって前記断面を更に観察する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning molecule counting method which detects signals from light emitting particles by measuring light for each of a plurality of wavelength bands different from each other using a confocal microscope or a multiphoton microscope, including a new method for correcting the reduction in the number of signals concurrently generated in the plurality of wavelength bands resulting from the deviation in position and dimensions of a photodetection region due to chromatic aberration of a lens.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡を用いて複数の互いに異なる波長帯域毎に光を測定して発光粒子の信号を検出する走査分子計数法に於いて、レンズの色収差による光検出領域の位置と寸法のずれに起因する複数の波長帯域に同時に発生する信号の数の低減を補正する新規な手法を提案すること。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method.例文帳に追加

イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。 - 特許庁

To provide a container for cell culture enabling microscope observation of the interior of a stored partition from the lower direction of the bottom also in a method for use of cell culture in a small amount of culture medium like a micro drop method.例文帳に追加

マイクロドロップ法のように少量の培養液中での細胞培養を目的とした使用方法においても、収容区画内を底部下方から顕微鏡観察が可能であり、容器内部を無駄なく区画して使用できる細胞培養用容器を提供する。 - 特許庁

An oxide layer is formed on the surface of an SOI substrate through such a method where the surface of the SOI substrate is scanned applying a voltage between the probe of a scanning probe microscope and a specimen in an atmosphere of relative humidity 20% or below.例文帳に追加

ＳＯＩ基板の表面を相対湿度２０％以下の雰囲気中で走査型プローブ顕微鏡探針と試料間に電圧を印加した状態で走査することにより表面の酸化層を形成させる。 - 特許庁

To provide a removal method, for the offset of a scanning probe microscope, in which a Z-axis displacement offset is not generated or can be reduced even when the temperature of a viscoelastic substance is lowered when a coarse adjustment is changed over to a fine adjustment.例文帳に追加

粗動から微動への切替え時に、粘弾性体の温度が低下しても、Ｚ軸変位オフセットが生じない、あるいは低減できる走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a portable binocular microscope by which the recording and the simultaneous observation of an image are easily executed even through it is small- sized and is light in weight and which is carried out and used to/at outdoors and to provide an image pickup method using it.例文帳に追加

小型軽量であっても画像の記録や同時観察などを簡便に行うことができ、野外に持ち出して使用できるような携帯用の双眼顕微鏡とそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens.例文帳に追加

マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope for improving resolution of an X-ray image, and to provide a microscopic method using X rays.例文帳に追加

本発明はＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法に関し、Ｘ線画像の分解能を向上させることができるＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, allowing an image satisfactory for observing of the irregular shapes of an object of observation to be observed correctly and accurately three-directionally, and to provide a three-dimensional image display method that uses it.例文帳に追加

被観察対象物の凹凸形状を観察するに十分な画像を正確に精度よく立体観察可能とする走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法を提供する。 - 特許庁

This is the manufacturing method of a microgrid 1 which is used for a test piece support at the time of observation by an electron microscope and has a grid mesh 10 and a thin film 20 having a pore installed on the grid mesh.例文帳に追加

電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ上に設けられた、孔部を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam device, an image display method of the same, and the scanning microscope suitable for easily conducting evaluation, control, and adjustment for reducing an effect of image trouble caused by vibration.例文帳に追加

振動による像障害の評価、管理や影響を低減するための調整を容易に行えるようにするのに好適な走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.例文帳に追加

光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide means for observing simultaneously both a fluorescently labeled target cell and a pipette with a fluorescence microscope in the cases such as that for analyzing a fluorescently labeled nerve cell by the patch clump method.例文帳に追加

蛍光標識された神経細胞をパッチクランプ法で解析する場合などにおいて、蛍光標識された標的細胞とピペットの両方を蛍光顕微鏡下で同時に観察するための手段を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope and a sample observation method capable of detecting scattered electrons of a high scattering angle, without receiving restrictions due to the spherical aberrations of an electron lens and improving the depth resolution.例文帳に追加

電子レンズの球面収差による制約を受けることなく高散乱角の散乱電子を検出し、深さ分解能を向上させることができる透過型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide an image pickup unit which uses an electronic microscope for automatically sorting fine defects, shortens an image acquiring time, decreases a calculation cost of image processing, and suppressing a calculator resource, and to provide a method thereof.例文帳に追加

微細な欠陥を自動分類するための電子顕微鏡を用いた撮像ユニットにおいて、画像取得時間，画像処理の計算コスト、および、計算機資源を抑えた撮像ユニットおよびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide a template matching method by which erroneous determination is prevented even when a ground pattern appears in extracting a pattern matched with a template from the images using a design pattern as the template, and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

設計パターンをテンプレートとし、画像からテンプレートと一致するパターンを抽出するときに、画像に下地パターンが現れていても誤判断のないテンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processor for improving the success rate and accuracy of pattern matching of two images without lowering the efficiency of the inspection work of length measurement or the like, an image processing method and a scanning electron microscope.例文帳に追加

２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feature values such as the area, width, and height of the whole part or specific part of an SEM image(scanning electron microscope image) to be inspected without generating the fluctuation of evaluation.例文帳に追加

検査対象のＳＥＭ像（電子顕微鏡画像）に基づいて、その全体または特定部分の面積や幅、高さなどの特徴量を評価する評価方法で、評価にバラツキが発生しない方法を提供する。 - 特許庁

To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.例文帳に追加

電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation.例文帳に追加

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection device and method using a scanning electron microscope which detects an highly accurate electron beam image and excludes limitation of an AD conversion element for a low sampling rate as a subject matter.例文帳に追加

高精度の電子線画像を検出すると同時に、その際問題となる低サンプリングレートに対するＡＤ変換素子の制約を排除した走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size.例文帳に追加

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。 - 特許庁