「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope control device and an area determination method which suppress an estimated error of a defocus amount and can suppress a load necessary for defocus amount arithmetic processing.例文帳に追加

デフォーカス量の推定誤差を抑制するとともに、デフォーカス量演算処理に要する負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び領域判定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microfabrication method that achieves high-accuracy processing even while giving lateral oscillation to a cantilever having a probe in a microfabrication device using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工装置において、探針を有するカンチレバーに横振動を与えつつも、高精度な加工を可能とする微細加工方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus, position control method, and program for controlling the position of an object to be operated, such as a stage in a microscope system, using a pointing device, and to provide a storage medium therefor.例文帳に追加

ポインティング・デバイスを用いて、顕微鏡システムにおけるステージなどの操作対象を位置制御する情報処理装置、位置制御方法、プログラムおよび記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.例文帳に追加

観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.例文帳に追加

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁

To provide a transmitted illumination device that enables the observation under the transmitted illumination as the cultivation environment is kept constant with a simple structure, a microscope equipped with the same and transmitted illumination method.例文帳に追加

簡単な構成で、培養環境を一定に保ちながら、透過照明観察を行うことのできる透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image building method capable of obtaining a three-dimensional image with better image quality than that of a conventional one and reflecting precisely a test piece structure, and a transmission electron microscope.例文帳に追加

従来よりも像質が良く、試料構造を正確に反映した３次元像を得ることができる３次元像構築方法および透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an aberration correction device of a scanning transmission electron microscope, which can correct defocus and astigmatism during observation and can obtain atomic resolution; and to provide an aberration correction method thereof.例文帳に追加

デフォーカス及び非点収差を観察中に補正可能で、且つ原子分解能が得られる走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal image measuring system for preferably attaining synchronization of a Nieuwpoort disk and an imaging device, and to provide a confocal microscope and a confocal image measuring method.例文帳に追加

ニポウ円盤と撮像装置との同期を好適に実現することが可能な共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method.例文帳に追加

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮を図ることが可能な走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）およびその画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a frozen microtome and a thin leaf for observation by a microscope of tissue samples for avoiding frozen artifacts as much as possible and for easily handling the tissue samples.例文帳に追加

冷凍アーティファクツをできるだけ避けることができ、組織試料の取り扱いが容易な、冷凍ミクロトームと組織試料の顕微鏡観察用薄片の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote control method and a remote control system for an electron microscope capable of moving a sample to an intended position even if an environment of network line is bad.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、所望の位置に試料を移動させることができる電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システムを実現する。 - 特許庁

To provide an asbestos sampler and an asbestos sampling method capable of carrying out a series of works from the sampling of the asbestos to observation of dyeing by a phase difference microscope, on one substrate.例文帳に追加

アスベストの採取から位相差顕微鏡による染色観察までの一連の作業が一つの基板上で行なえるアスベスト採取装置及び採取方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a TEM (transmitance electron microscope) sample preparation method capable of preparing a sample changing the TEM observation direction, and improving the workability of the sample preparation.例文帳に追加

この発明は、ＴＥＭ観察方向を変えた試料作製を可能にし、かつ試料作製における作業性を向上させたＴＥＭ試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.例文帳に追加

構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a method with which microscopic observation can be reproduced only by reading a microscope digital still image, and with which a target object can be displayed, and to provide an apparatus, a program and a recording medium thereof.例文帳に追加

顕微鏡デジタル静止画像を読み込むだけで顕微鏡観察を再現し、目的の対象物を表示できる方法ならびにその装置、プログラムおよび記録媒体の提供。 - 特許庁

To provide a probe tip evaluation method for scan type probe microscope capable of evaluating the degradation of sharpness of the probe tip with a simple procedure, when the tip of the probe under use is worn.例文帳に追加

使用中の探針の先端が摩耗したとき探針先端の太さの劣化を簡易な手順で評価できる走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法を提供する。 - 特許庁

Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, an image processing method, and an image processing program, capable of detecting the profile curve of the surface of an observation object accurately and speedily.例文帳に追加

観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a recipe preparation apparatus and method for preparing a recipe for highly accurately measuring the dimension of an oblique or elongate pattern without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、斜めや細長いパターンを高精度に寸法測定するレシピを、走査型電子顕微鏡を使用しないで作成するレシピ作成装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.例文帳に追加

簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a resin composition comprising a polymer having alicyclic ring conformation in which a molded article having few foreign substances observed by a fluorescence microscope can be obtained.例文帳に追加

蛍光顕微鏡で観察される異物量が少ない成形体が得られる、脂環構造含有重合体を含有する樹脂組成物の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an abnormality detection method in a physicochemical apparatus, such as a scanning electron microscope capable of detecting the abnormality of a device and of immediately taking appropriate measures according to the abnormality.例文帳に追加

装置の異常を検知し、その異常に応じて適切な対応を速やかに取ることを可能とする走査電子顕微鏡等の理化学機器における異常検知方式を実現する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample forming method for a magnetic material which minimizes magnetic field turbulence, accompanying the sample shape and allowing observation and analysis with high precision.例文帳に追加

試料形状に伴う磁場の乱れを最小限にし、より高い精度で観察や分析が可能な、磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法の提供。 - 特許庁

A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.例文帳に追加

砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.例文帳に追加

高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁

A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.例文帳に追加

高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してＡＦＭ測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching.例文帳に追加

電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system that automatically determines a method of staining a sample required for faithfully reproducing the color of the sample from the obtained sample image.例文帳に追加

標本の色を忠実に再現するために必要な標本の染色方法を、取得した標本画像から自動的に決定することが可能な顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of determining an optimum scanning method which reduces deflection amounts of primary electron beams and secondary electrons, and obtaining a stable image.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、一次電子線や二次電子の偏向量が少なくなる最適な走査方法を決定して安定した画像を取得できるようにするものである。 - 特許庁

By this method, the stage movable range is set in accordance with the inspecting range of the object to be inspected, and the stage is inhibited from moving outside the range, so that the visual field range of the microscope is prevented from moving outside the inspecting range of the object to be inspected, and the operability is improved even though the microscope is operated in the case of the observation with high magnification.例文帳に追加

上記発明によれば、被検査物の検査範囲に応じて、ステージの可動範囲が設定され、その範囲外への移動が禁止されるので、高倍率で観察しながら操作しても、顕微鏡の視野範囲が被検査物の検査範囲外に移動することが防止され、操作性を向上させることができる。 - 特許庁

In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26).例文帳に追加

電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し（Ｓ１６）、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し（Ｓ１８）、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する（Ｓ２６）結晶粒方位の分析方法。 - 特許庁

To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.例文帳に追加

振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁

The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。 - 特許庁

To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁

To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.例文帳に追加

蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁