「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a cell image analyzer or a method for determining existence of a membrane translocation reaction quickly with excellent reproducibility by using a fluorescence microscope.例文帳に追加

蛍光顕微鏡を用いて、迅速に且再現性よく、膜トランスロケーション反応の有無を判定するための細胞画像解析装置又は方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can obtain proper magnified images by preventing dew from condensing on the objective lens, and to provide a method of preventing dew on the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの結露を防止し、良好な顕微鏡画像を得ることができる顕微鏡および対物レンズの結露防止方法を提供する。 - 特許庁

The observation method is carried out in such a manner that the test piece 20 which is set up on a test piece holder is mounted on a transmission type electron microscope.例文帳に追加

さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning probe microscope not narrowing a field of view for observation, reducing drastically an affect of a vibration due to a mechanical scanning system, and obtaining an image without affect of noise or distortion, and the scanning probe microscope.例文帳に追加

観察視野を狭めることなく、機械的な走査系に基づく振動の影響を著しく軽減し、ノイズや歪みの影響のない像を得ることを可能とする走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The pattern matching method and apparatus for matching patterns between design data and an image acquired by a scanning electronic microscope, perform matching in each direction between an edge of the design data and that of an image acquired by the scanning electronic microscope.例文帳に追加

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データのエッジと、走査型電子顕微鏡によって取得される画像のエッジ間で、方向別のマッチング処理を行う。 - 特許庁

To provide a positioning method of the measuring position of a scanning probe microscope, capable of performing positioning at a high speed with high precision, by eliminating the positional shift caused by the coarse operation of a Z-coarse adjustment part, at positioning of the probe at the measuring position in the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での測定位置の探針位置決めで、Ｚ粗動部の粗動動作に起因する位置ズレを解消し、高精度でかつ高速な位置決めを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interference microscope which makes it possible to obtain a phase state of light to be subjected to interference in an object region and makes it possible to easily adjust (or control) the interference microscope at a low cost in accordance therewith and a method of operation for the same.例文帳に追加

物体領域において干渉を行う光の位相状態を求めることを可能にし、それに基づいて干渉顕微鏡の容易かつ低コストの調節（ないし制御）が可能となる干渉顕微鏡及びその作動方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope control device, an image management server, an image processing method, a program, and an image management system which reduce delay due to a digital processing process to allow a sample image imaged by a microscope to be quickly browsed.例文帳に追加

デジタル加工処理に起因する遅滞を低減し、顕微鏡にて撮像したサンプル画像をより速やかに閲覧可能な状態とすることが可能な、顕微鏡制御装置、画像管理サーバ、画像処理方法、プログラム及び画像管理システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for executing absolute measurement of various objects with sufficient accuracy and correcting disturbances to a measurement condition in a laser scan microscope, especially, a confocal laser scan microscope.例文帳に追加

レーザー走査型顕微鏡、特に共焦点のレーザー走査型顕微鏡において、種々の対象物の絶対測定を十分な精度で行うことができ、その際測定条件への外乱を補正することができるようにすること、およびその方法を提供すること。 - 特許庁

The test piece observation method includes a process to set a contour line or a plurality of points located on the contour line on an image of an electron microscope and a process to arrange a plurality of fields of vision of the electron microscope along the contour line, and a device to achieve the observation method is provided.例文帳に追加

上記目的を達成するために、以下に電子顕微鏡像上にて輪郭線、或いは当該輪郭上に位置する複数の点を設定する行程と、当該輪郭線に沿って電子顕微鏡の複数の視野を配列する行程を備えた試料観察方法、及び当該方法を実現するための装置を提案する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method and a pattern forming apparatus by which a pattern in a relatively wide region of a square millimeter or larger can be formed in a short time by electrochemical lithographic pattern forming method and the pattern can be formed without using an expensive apparatus such as an AFM (atomic force microscope) and an STM (scanning tunneling microscope).例文帳に追加

電気化学リソグラフィーによるパターン形成方法において、平方ミリメートル以上の比較的広い領域に渡るパターン形成を、短時間で行うことを可能とするとともに、ＡＦＭ、ＳＴＭなどの高価な装置を用いることなくパターンを形成し得るパターン形成方法及びパターン形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for construction and processing of a three dimensional image in a transmission electron microscope TEM, which is simpler than before, concerning a technology associated with alignment of the method for construction and processing of the three dimensional image in the TEM.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）三次元像構築画像処理方法のアライメントに関する技術において、従来よりも簡便なＴＥＭ三次元像構築画像処理方法を提供する。 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a method for simply and correctly quantifying and evaluating the excystation capability of an oocyst as a method for evaluating the growth activity of a protozoan oocyst without relying on microscope observation.例文帳に追加

原虫オーシストの生育活性を評価する方法として、オーシストの脱嚢性を、顕微鏡観察によることなく簡便かつ正確に定量・評価するための方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a microscope device, fit for the purpose of presentation of a lock-in free detection method and simultaneous detection of various vibration modes, that utilizes coherent anti-Stokes Raman scattering method.例文帳に追加

コヒーレントアンチストークスラマン散乱法を利用する顕微鏡装置において、ロックインフリーな検出方法を提示し、かつ多種の振動モードを同時検出する目的に適った顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To apply thin film processing by the other pre-processing method on a sample processed by a focused ion beam processing method or the like, and to observe and analyze it as it is by an electron microscope.例文帳に追加

本発明の目的は、集束イオンビーム加工法などにより加工した試料をさらに他の前処理法で薄膜加工し、そのまま電子顕微鏡により観察および分析することにある。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD FOR COUPLING CONDITION AND AGGREGATION CONDITION OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION, PHOTOGRAPHIC METHOD FOR SUSPENDED MATTER USING THE OBSERVATION METHOD, EVALUATION METHOD FOR AQUEOUS SOLUTION USING THE OBSERVATION METHOD OR THE PHOTOGRAPHIC METHOD, AND DATA BY STATIC PICTURES OR ANIMATION OF COUPLING CONDITION OF SUSPENDED MATTER AND AGGREGATION CONDITION PHOTOGRAPHED BY THE PHOTOGRAPHIC METHOD例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を利用した懸濁物質の撮影方法と、その観察方法又は撮影方法を利用した水溶液の評価方法と、その撮影方法で撮影された懸濁物質の結合状態、集合状態の静止画又は動画による資料 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for remotely observing microscope capable of shortening a time from a monitoring device's instructing a requirement for obtaining an image till the monitoring device can observe a still picture by attaining the high speed of the transfer of the still picture between a microscope photographing device and the monitoring device.例文帳に追加

顕微鏡撮影装置とモニタ装置との間での静止画像転送の高速化を図り、モニタ装置から画像取得要求の命令を発行してから、モニタ装置で静止画像が観察できるまでの時間を短縮することが可能な遠隔顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a shape measurement apparatus and a shape measurement method capable of performing the efficient and high-accuracy shape measurement of a measurement object in a short time, which has a three-dimensional shape greatly exceeding a depth of a field of a microscope without moving the measurement object or the microscope.例文帳に追加

顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope photographing apparatus capable of preventing the deterioration of observation image quality, irrespective of the brightness of an object, and also, attaining a frame rate comfortable for observation, and to provide a brightness adjusting method and a brightness adjusting program for the microscope photographing apparatus.例文帳に追加

被写体の明るさによらず、観察する画質の劣化をさせず、かつ、観察するのに快適なフレームレートを実現することが可能な顕微鏡撮影装置、該顕微鏡撮影装置において実行される明るさ調整方法および明るさ調整プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for and a method of fully automatically and rapidly scanning and digitizing an entire microscope sample, using a computer controlled microscope slide scanner for composing image strips obtained by continuous scanning of the sample into a single continuous digital image.例文帳に追加

試料の連続的スキャンから得られた画像ストリップを単一の連続したデジタル画像を構成するためにコンピュータ制御された顕微鏡スライドスキャナを用いて、顕微鏡試料全体を全自動で迅速なスキャンおよびデジタル化するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a space resolution up to the periphery centered at 10 nm, capable of acquiring quantitatively information on a film thickness or its distribution of a dielectric thin film, and an (extremely thin dielectric) film thickness distribution measuring method using the microscope.例文帳に追加

誘電体薄膜の膜厚もしくはその分布に関わる情報を定量的に取得可能な、１０ｎｍを中心としてその近傍までの空間分解能を持つ走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた（極薄誘電体）膜厚分布測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of simply and efficiently manufacturing various ultra-thin segments such as a sample for transmission type electron microscope (TEM) observation in a short time and at a low cost.例文帳に追加

透過型顕微鏡（ＴＥＭ）観察用試料等をはじめとする各種超薄切片を、短時間、低コスト、簡便かつ効率的に製造し得る方法の提供。 - 特許庁

To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加

プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁

The flame-resistant fiber has the value of the ratio of the modulus of elasticity of the surface layer part of the fiber to that of the central part of the fiber of ≥0.7 measured by using a scanning probe microscope by a nanoindentation method.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いてナノインデンテーション法により測定した繊維の表層部と中心部の弾性率の比の値が０．７以上である耐炎化繊維。 - 特許庁

To provide a linewidth measurement regulation method and a scanning electron microscope capable of preventing a measured result from being fluctuated even when changing a magnification, a scanning direction and a measuring instrument.例文帳に追加

倍率、走査方向や測定装置を変更しても、測定結果の変動が生じない線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of observing testpieces wherein charged amount of the observation position can be controlled stably to a desired one, and provide an electron microscope by which this can be realized.例文帳に追加

観察箇所の帯電量を所望の帯電量に安定して制御することができる試料観察方法、及びそれを実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加

幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning capacitance microscope(SCM) with which a p-n junction position in a semiconductor sample can be specified with high detection sensitivity and to provide a measuring method using the SCM.例文帳に追加

半導体試料中のｐ−ｎ接合位置を高い検出感度で特定できる走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）とそれを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION RELATIONSHIP OF ADJACENT CRYSTAL GRAINS USING GONIOMETER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF EXAMINING CHARACTERISTICS OF GRAIN BOUNDARY USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係測定装置及びそれによる結晶粒界の特性の糾明方法 - 特許庁

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system.例文帳に追加

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。 - 特許庁

To provide a foreign matter checking method for checking foreign matter of a material to be checked such as a resin piece by a checking device such as a microscope.例文帳に追加

本発明は、樹脂片などの被検査資料側の異物などを顕微鏡などの検査装置によって検査する異物検査方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

MICROPLATE HAVING PERIODIC STRUCTURE, SURFACE PLASMON EXCITATION ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, FLUORESCENCE MICROPLATE READER, AND METHOD OF DETECTING SPECIFIC ANTIGEN/ANTIBODY REACTION例文帳に追加

周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 - 特許庁

To provide an inexpensive confocal microscope for which an operator need not set a Z range every time he or she changes an objective lens, and a scanning method.例文帳に追加

対物レンズを切替えても、操作者がＺ範囲を都度設定する必要が無く、且つ安価な共焦点顕微鏡及び走査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a fine pattern measuring method which accurately measures a sidewall angle of a fine pattern from an image obtained by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で得られる画像から微細パターンの側壁角度を精度良く測定することができる微細パターン測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus and method, and a program, which prevents a viewer from oversight of an observation object with a microscope.例文帳に追加

観察者が顕微鏡での観察対象物の見落としを防止できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁