「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

OPTICAL SYSTEM ADJUSTING METHOD, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE UTILIZING THE SAME, MICROSCOPE DEVICE, AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

光学系調整方法、並びにその光学系調整方法を利用した光記録再生装置、顕微鏡装置及び加工装置 - 特許庁

To provide a focusing device, a focusing method, a focusing program and a microscope capable of enhancing the efficiency of the acquisition of a subject image.例文帳に追加

被写体像の取得効率を向上させ得る合焦装置、合焦方法、合焦プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING ANGLE DEPENDENCE OF SCATTERING LIGHT THEREIN例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡、走査型近接場光学顕微鏡における散乱光の角度依存性の検出方法 - 特許庁

To provide an image evaluating method to objectively evaluate image resolution of a microscope image.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

ILLUMINATING METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPE FOR OBSERVING FLAW, DENT, OR THE LIKE ON CIRCUMFERENTIAL SURFACE OF BAR-SHAPED OR CYLINDRICAL OBJECT AT WIDE ANGLE例文帳に追加

棒状又は円筒状円周表面におけるキズ、打痕等を広角度で観る顕微鏡の照明方法とその装置 - 特許庁

To provide an image evaluation method capable of evaluating image resolution of a microscope image under objective decision.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide a charged particle microscope capable of improve resolution further more than before, and an analysis method.例文帳に追加

従来に比べて分解能をより一層向上させることができる荷電粒子顕微鏡及び解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for observing a cam surface, which uses a wide-field laser microscope and by which the cam surface can be observed.例文帳に追加

カム表面を観察することのできる、広視野レーザ顕微鏡を用いた新規のカム表面の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image evaluation method to objectively evaluate image resolution of a microscope image.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide a length measuring method for a sample in which a length measurement error due to a beam diameter size can be reduced and to provide a scanning microscope.例文帳に追加

ビーム径寸法に由来する測長誤差を低減が可能な試料の測長方法、及び走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method and device, for measuring a microscopic thermoelectric matter sample and analyzing its characteristics through the use of a scanning microscope, are provided.例文帳に追加

走査顕微鏡を用いて、微視的な熱電物質サンプルを測定及び特性解析する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of accurately focusing even a crystalline sample by an electron ray tilting method.例文帳に追加

結晶性の試料に対しても、電子線傾斜法による焦点合わせを正確に行える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.例文帳に追加

レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for retrieving, operating, and browsing an object of 3D imaging among 3D virtual microscope slide images.例文帳に追加

３Ｄ仮想顕微鏡スライド画像から３Ｄ画像化対象を検索、操作、閲覧するためのシステムと方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法 - 特許庁

NEW OPTICAL MICROSCOPE, METHOD FOR OBSERVING CELL AND/OR LIVING TISSUE BY USING DETECTION OF BEAM DEFLECTION, AND ITS USE例文帳に追加

新規光学顕微鏡、および、ビーム偏向の検出を利用した細胞および／あるいは生体組織観察方法、並びに、その利用 - 特許庁

To provide a probe used in a scanning tunneling microscope with an extremely sharp tip and high strength and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡に使用する先端が極めて先鋭でかつ強度の大きい探針とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method.例文帳に追加

簡便に電子ビームの高品質化を図ることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE-DRAWING HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF SURFACE STATE OF SAMPLE USING SAMPLE-DRAWING HOLDER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料延伸ホルダーおよび該試料延伸ホルダーを用いた試料の表面状態の観察方法 - 特許庁

MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANOMETER SCALE AND METHOD OF CALIBRATING SCANNING TYPE MICROSCOPE USING THE MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANO METER SCALE例文帳に追加

ナノメートルスケールの計測標準試料およびナノメートルスケールの計測標準試料を用いた走査型顕微鏡の校正方法 - 特許庁

MASK FOR MANUFACTURING OBSERVATION SAMPLE OF ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS OF OBSERVATION SAMPLE USING MASK例文帳に追加

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク並びにこのマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope fine adjustment stage which prevents generation of local electrification in the respective plates of the fine adjustment stage by a simple method.例文帳に追加

簡単な方法で微動ステージの各板に局部帯電が発生することを防いだ顕微鏡微動ステージを提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for inspection in which a type of a chosen tissue can be straightforwardly traced in an image of a microscope regarding the system and the method for inspection to indicate the tissue section of a patient undergoing a surgical operation through the surgical microscope.例文帳に追加

手術用顕微鏡を通して外科手術を受ける患者の組織部位を表示するための検査システム検査方法に関し、顕微鏡の画像中に特定の組織の種類を簡単に突き止めることができる検査システム検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating method by which the optical images of a sample at different positions in an optical axis direction can be observed, and a microscope having an illuminator provided with the illuminating method.例文帳に追加

標本の光軸方向の異なる位置における光像を観察可能とする照明方法と、これを具備する照明装置を有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態（模様）の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁

To provide a method for detecting microorganisms by which the accurate autofocusing on a specimen by a microscope is achieved more easily than a conventional method.例文帳に追加

従来よりも容易に標本に対する正確なオートフォーカスを顕微鏡に実行させることができる微生物検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of securely and easily adjusting a focus, and to provide a focusing position adjusting method, and a manufacturing method for a pattern substrate using it.例文帳に追加

簡便かつ確実に焦点を調整することができる光学顕微鏡、焦点位置調整方法、及びそれを用いたパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

GENERATING METHOD OF NEAR-FIELD LIGHT, MASK FOR NEAR-FIELD EXPOSURE, NEAR-FIELD EXPOSING METHOD AND DEVICE, NEAR FIELD LIGHT HEAD, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND RECORDING/REPLAYING DEVICE例文帳に追加

近接場光の発生方法、近接場露光用マスク、近接場露光方法、近接場露光装置、近接場光ヘッド、近接場光学顕微鏡、記録・再生装置 - 特許庁

To provide a method for fabricating a sample for a transmission electron microscope which easily fabricates the thin film sample with a desired cross section.例文帳に追加

所望の断面を持つ薄膜試料を容易に作製することができる透過電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope observation device capable of efficiently observing a substrate by an immersion method by avoiding the trouble of the device caused by liquid.例文帳に追加

液体による装置のトラブルを回避して液浸法による基板の観察を効率よく行える顕微鏡観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a needle-like sample for an electronic microscope which allows the needle-like sample to be simply produced.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用針状試料の作製方法に関し、針状試料を簡単に作製することを目的としている。 - 特許庁

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method.例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。 - 特許庁

ADJUSTMENT DEVICE OF PULLING MEANS TENSION OF PULLING MEANS TRANSMISSION DEVICE, ITS ADJUSTMENT METHOD, AND MICROSCOPE HAVING PULLING MEANS TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加

引張手段伝動装置の引張手段張力の調整装置及び調整方法並びに引張手段伝動装置を有する顕微鏡 - 特許庁

To provide a precision laser machining method of a fine structure including an hyperfine structure using a near field scanning optical microscope (NSOM).例文帳に追加

近接場走査光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）を用いた、超微細構造を含む微細構造の精密レーザ加工方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope and a method for judging viability or measuring cell activity without giving adverse influences on cells.例文帳に追加

細胞に悪影響を与えることなく生死判別及び細胞活動を測定できる光学顕微鏡及び方法を提供する。 - 特許庁

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion.例文帳に追加

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is capable to image structures having different optical characteristics in the human eye, and to provide a method to image the structures having different optical characteristics during an ophthalmic surgery.例文帳に追加

人間の目において異なる光学特性を有する構造を結像することが可能な外科用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To reduce work load being exerted on a teacher who tries to comprehend the operating skill of students while the teacher teaches the operating method of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の操作方法を教授する際に、生徒の操作習熟度を把握するために教師にかかる労力を低減する。 - 特許庁

To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁

To provide a mechanism aligning chips and an optical fiber with a simple method by using a mirror without aligning them under the use of a microscope.例文帳に追加

チップと光ファイバーを顕微鏡の下で整列させるのではなく、ミラーを使って簡単な方法で調整する機構を提供する。 - 特許庁

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.例文帳に追加

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND SIGNAL DETECTION DEVICE AND/OR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出方法および信号検出装置、並びに該信号検出装置を備えた原子間力顕微鏡 - 特許庁

To actualize a method for preventing contamination and breakage in a contrast enhancing element in centering an optical element in a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡おいて、光学素子をセンタリングする際にコントラスト向上素子の汚染や損傷を防止する方法の実現。 - 特許庁