「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

ENDOSCOPE EYEPIECE SECTION WITH MICROSCOPE CLAMPING MECHANISM AND ENDOSCOPE HOLDER AS WELL AS METHOD FOR FIXING ENDOSCOPE例文帳に追加

顕微鏡把持機構付内視鏡接眼部及び内視鏡ホルダ及び内視鏡固定方法 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTION BY WAVELENGTHS TO BE USED FOR LASER SCANNING MICROSCOPE, AND IMAGE RECORDING METHOD例文帳に追加

レ—ザ走査顕微鏡に使用される波長別検出のためのシステムおよび画像記録方法 - 特許庁

RESIN EMBEDDING AUXILIARY TOOL IN PREPARING MICROSCOPE SAMPLE, AND RESIN EMBEDDING METHOD USING IT例文帳に追加

顕微鏡試料作成における樹脂包埋補助ツール及びこれを使用した樹脂包埋方法 - 特許庁

PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EXAMINATION OF SAMPLE IN NON-VACUUM ENVIRONMENT USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法 - 特許庁

MICROPROCESSING METHOD AND APPARATUS OF CARBONACEOUS MATERIAL USING LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低真空走査型電子顕微鏡を用いた炭素系材料の微細加工方法とその装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a device and method for performing contour scanning by use of a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND ITS ASTIGMATISM CORRECTING METHOD例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正方法 - 特許庁

CONDENSING METHOD, CONDENSING DEVICE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE APPLYING THEM, AND STORAGE DEVICE例文帳に追加

集光方法、集光装置、これらを適用した近接場光学顕微鏡及びストレージ装置 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGING APPARATUS WITH OPTICAL MICROSCOPE MOUNTED THEREON例文帳に追加

情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁

To provide a method of observing testpiece in liquid using a scanning probe microscope for obtaining stable images.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いる液中試料観察方法において、安定な画像を得る。 - 特許庁

STAGE MECHANISM, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR STAGE MECHANISM例文帳に追加

ステージ機構、及びそれを備えた電子顕微鏡、並びにステージ機構の位置決め制御方法 - 特許庁

ELECTROLYTIC GRINDING METHOD IN PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND APPARATUS UTILIZING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製における電解研磨方法およびこれを利用する装置 - 特許庁

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法 - 特許庁

OPERATING INFORMATION COLLECTING DEVICE OF MICROSCOPE, OPERATING INFORMATION COLLECTING METHOD AND PROGRAM TO EXECUTE THE METHOD IN COMPUTER例文帳に追加

顕微鏡の操作情報収集装置、操作情報収集方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラム - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN OPTICAL OBSERVATION DEVICE AND EXAMINED SAMPLE WITH EXTENT, AND MICROSCOPE IMPLEMENTING THE SAME METHOD例文帳に追加

光学的観察装置と広がりのある被検試料との間の距離測定方法及び該方法を実行する顕微鏡 - 特許庁

SONIC SPEED MEASURING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁

To provide a method of enabling simple and reliable focusing like a wobblier device in a transmission electron microscope method.例文帳に追加

透過形電子顕微鏡法におけるワブラー装置のように簡単、確実に焦点合わせできる方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CELL FUNCTION, EVALUATION SYSTEM OF CELL FUNCTION, FLUORESCENCE MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL TREATMENT METHOD AND OPTICAL TREATMENT SYSTEM例文帳に追加

細胞機能の評価方法、細胞機能の評価システム、蛍光顕微鏡システム、光治療方法、及び光治療システム - 特許庁

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS DYNAMIC FOCUS CONTROL METHOD AND SHAPE IDENTIFYING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SURFACE AND CROSS SECTION例文帳に追加

走査電子顕微鏡、そのダイナミックフォーカス制御方法および半導体デバイスの表面および断面形状の把握方法 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic focusing device for a microscope and an automatic focusing method for a microscope capable of shortening a focusing time and stably focusing at high speed.例文帳に追加

合焦時間を短くし、高速且つ安定したピント合わせを可能とする顕微鏡用オートフォーカス装置及び顕微鏡用オートフォーカス方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope system enabled improving operability for the system, and to provide a method for controlling the operation of the microscope system, and a recording medium with an operation control program recorded therein.例文帳に追加

システムの操作性向上を可能にした顕微鏡システム、顕微鏡システムの動作制御方法および動作制御プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope image processing method which enables the removal of the noise component contained in an observation image without using artificial operation, and to provide a microscope image processor.例文帳に追加

観察像に含まれるノイズ成分を人為的な操作を用いずに除去できる顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of easily and quickly observing a desired position of an object, an observation method and observation program using the microscope system.例文帳に追加

対象物の所望の位置を容易かつ迅速に観察することができる顕微鏡システム、顕微鏡システムを用いた観察方法および観察プログラムを提供する。 - 特許庁

To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy.例文帳に追加

簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a method for eliminating color unevenness of an optical microscope photograph enabling high image analysis by removing the various color unevenness caused on the optical microscope photograph.例文帳に追加

光学顕微鏡写真に発生する種々の色むらを除去し、高度な画像解析を可能とする光学顕微鏡写真の色むら除去方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of minimizing image deviation caused by defocusing in an electron microscope utilizing an active modulation image formation method and hollow cone irradiation.例文帳に追加

能動変調結像方式及びホローコーン照射を利用した電子顕微鏡において、デフォーカスに起因する画像ずれを最小に抑制できる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image.例文帳に追加

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, DISPLAY METHOD USING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPIC IMAGE DISPLAY PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND STORAGE EQUIPMENT例文帳に追加

蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 - 特許庁

The microscope system and the image forming method use a microscope (2) having one or more setting elements (6) for correcting at least one microscope setting and a camera (1) for photographing a microscopic pictures, the microscope system and the image forming method being characterized in that the camera is operable in a specified image mode.例文帳に追加

本発明は、少なくとも１つの顕微鏡設定を修正するための１つ以上の設定素子（６）を備えた顕微鏡（２）と、顕微鏡画像を取得するためのカメラ（１）とを利用する顕微鏡システムおよび画像生成方法であって、カメラが所定の画像モードで動作可能である、顕微鏡システムおよび画像生成方法に関する。 - 特許庁

In particular, a dispersion staining method in which asbestos crystals are visually searched by using a phase-contrast microscope, can be assisted by this method.例文帳に追加

特に、アスベスト結晶を位相差顕微鏡によって目視観察により探索する分散染色法を補助することもできる。 - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, ITS MANUFACTURING METHOD, NEAR FIELD LIGHT MICROSCOPE, AND INFORMATION RECORD REGENERATION METHOD FOR OPTICAL MEMORY例文帳に追加

近接場光用のプローブ及びその作製方法、並びに近接場光学顕微鏡、光メモリの情報記録再生方式 - 特許庁

SELECTIVE DETECTION IN COHERENT RAMAN MICROSCOPE METHOD BY SPECTRAL TEMPORAL EXCITATION SHAPING, AND SYSTEM AND METHOD FOR IMAGING例文帳に追加

スペクトル・時間励起成形によるコヒーレント・ラマン顕微鏡法における選択的検出およびイメージングのためのシステムおよび方法 - 特許庁

SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, METHOD OF FOCUSING IT AND METHOD OF COMPENSATING ITS ASTIGMATISM例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の焦点合わせ方法及び非点収差補正方法 - 特許庁

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED例文帳に追加

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置判定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法 - 特許庁

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED例文帳に追加

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置決定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法 - 特許庁

To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN NEAR-FIELD PROBE AND SAMPLE SURFACE TO BE INSPECTED AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野ゾンデと検査対象試料表面の間の距離を決定する方法および近視野顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁

MEMBER OF MICROSCOPE UTILIZING X RAYS, MEMBER FOR RETAINING OBJECT TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MANUFACTURING RETAINING MEMBER例文帳に追加

Ｘ線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR STABILIZING TEMPERATURE OF OPTICAL PARTS AND SCANNING MICROSCOPE EQUIPPED WITH STABILIZING MEANS例文帳に追加

光学部品の温度を安定化するための方法、装置および安定化手段を備えた走査型顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, PROGRAM FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

形状測定データの補正方法、形状測定データの補正プログラム、および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁