「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, IMAGE DISPLAY METHOD OF SAME, AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DETECTION METHOD FOR p-n JUNCTION POSITION BY USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とそれを用いたｐ−ｎ接合位置検出方法 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE AND METHOD FOR MEASURING DRUG EFFECT USING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡装置及びこの顕微鏡装置を用いた薬物効果測定方法 - 特許庁

To provide a microscope observation sample mount-manufacturing method having a short manufacturing time.例文帳に追加

製作時間の短い顕微鏡観察試料マウント製作方法の提供。 - 特許庁

OBJECTIVE LENS, OPTICAL ANALYZER, METHOD OF OPERATING THE OPTICAL ANALYZER, AND MICROSCOPE例文帳に追加

対物レンズ、光分析装置、光分析装置の運転方法および顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, METHOD OF FORMING DRIVING WAVEFORM DATA AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、駆動波形データ生成方法、及びその制御プログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a method of forming and using a virtual microscope slide.例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを形成しかつ使用するための方法を提供すること。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像方法、及び顕微鏡用撮像プログラム - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND SURFACE PROPERTY ANALYZING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびそのプローブ顕微鏡を用いた表面性状分析方法 - 特許庁

COLOR CONFOCAL MICROSCOPE, METHOD OF SELECTING MEASUREMENT RANGE AND CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

カラー共焦点顕微鏡、測定範囲選択方法、及びその制御プログラム - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE LASER PROCESSING DEVICE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁

APPROACH METHOD OF CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

カンチレバーの接近方法及びこの接近方法を用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SYSTEM FOR CONTROLLING ACCESS TO INFORMATION ABOUT LIVING BODY, MICROSCOPE, AND METHOD例文帳に追加

生体に関する情報へのアクセス制御を行うシステム、顕微鏡および方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

SPOT SCANNING LASER SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING THE SAME例文帳に追加

スポット走査式レーザ走査型顕微鏡及び同顕微鏡を調整する方法 - 特許庁

The apparatus and the method for detection with the scanning microscope (1) are disclosed.例文帳に追加

走査顕微鏡（１）を用いた検出装置および方法が開示されている。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SYNTHESIZING PANORAMA IMAGE USING SCANNING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置 - 特許庁

DISTRIBUTION CONDITION ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE FOR MATERIAL INSIDE CAPSULE例文帳に追加

カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

MEASURING METHOD BY SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE AND ITS CONTROL SYSTEM例文帳に追加

走査型共焦点レーザ顕微鏡による計測方法及びその制御システム - 特許庁

AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE WITH MODIFIABLE LIGHTING AND METHOD OF OPERATION THEREOF例文帳に追加

照射変更自在型光学顕微鏡およびこのような顕微鏡の作動プロセス - 特許庁

MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム - 特許庁

To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic illumination adjusting method and a microscope capable of reducing uneven illumination in an actual microscope.例文帳に追加

実際の顕微鏡について照明ムラを少なくすることができる顕微鏡用照明調整方法及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁

To provide a microscope in which vertical illumination method and a total reflection illumination method can be easily switched.例文帳に追加

簡便に落射照明と全反射照明方法とを切り替えることができる顕微鏡を提供する - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁