「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND FILM THICKNESS REDUCTION AMOUNT EVALUATION METHOD OF RESIST PATTERN USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡システム及びそれを用いたレジストパターンの膜厚減少量評価方法 - 特許庁

PATTERN EXCESS DEFECT REPAIRING METHOD OF PHOTOMASK USING PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスクのパターン余剰欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING CARBON NANO-STRUCTURAL MATERIAL, FIELD EMISSION DISPLAY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カーボンナノ構造材の製造方法、フィールドエミッションディスプレイおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

TRACKING DEVICE, TRACKING MICROSCOPE PROVIDED WITH THE TRACKING DEVICE, AND TRACKING METHOD例文帳に追加

トラッキング装置およびこのトラッキング装置を備えたトラッキング顕微鏡並びにトラッキング方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTING APPARATUS OF IMAGING ELEMENT, ITS DETECTING METHOD, AND IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE例文帳に追加

撮像素子の画素欠陥検出装置、その検出方法、及び顕微鏡用撮像装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROME MASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたクロムマスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT SWITCHING DEVICE, OPTICAL MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME, AND OPTICAL ELEMENT SWITCHING METHOD例文帳に追加

光学素子切換装置およびそれを備えた光学顕微鏡、並びに、光学素子切換方法 - 特許庁

To provide a mask for rapidly searching and observing the specific region of a sample, which is observed by an optical microscope, by an existing electron microscope even if a device which incorporates the optical microscope in the electron microscope is not used, and also to provide a sample analyzing method using it.例文帳に追加

電子顕微鏡内部に光学顕微鏡を組み込んだ装置を用いなくても既存の電子顕微鏡で、光学顕微鏡で観察した試料の特定部位を迅速に探索・観察することが可能なマスク及びそれを用いた方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work.例文帳に追加

比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING OBJECTIVE LENS APERTURE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別方法、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

SAMPLE HEIGHT MEASUREMENT METHOD, CONFOCAL MICROSCOPE, AND RECORD MEDIUM WITH HEIGHT MEASUREMENT PROGRAM OF THE CONFOCAL MICROSCOPE RECORDED THEREON, AND THE PROGRAM例文帳に追加

試料の高さ測定方法及び共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡の高さ測定プログラムを記録した記録媒体およびそのプログラム - 特許庁

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope imaging apparatus for easily setting a monochromatic conversion coefficient suitable for a microscope inspecting method without performing specific image processing.例文帳に追加

特段の画像処理を施すことなく、検鏡法に適したモノクロ変換係数を容易に設定し得る顕微鏡画像撮像装置を提供すること。 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE例文帳に追加

プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CEMENTED LENS, CEMENTED LENS MANUFACTURED BY THE METHOD, AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE CEMENTED LENS例文帳に追加

接合レンズの製造方法、該製造方法によって製造された接合レンズ、及び該接合レンズを備えた顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁

COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SAMPLE PROCESSING METHOD USING IT AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合荷電粒子ビーム装置、それを用いた試料加工方法及び透過電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁

FREEZE-DRYING DEVICE, FREEZE-DRYING METHOD FOR SAMPLE, DEVICE FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING FREEZE-DRYING DEVICE AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

凍結乾燥装置および試料の凍結乾燥方法、ならびに凍結乾燥装置を有する電子顕微鏡用試料作製装置および電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。 - 特許庁

METHOD FOR USING CHIP OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, PRODUCT FOR PERFORMING THE METHOD OR PRODUCT MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡チップの使用方法及び該使用方法を実施するための製品又は該使用方法によって製造される製品 - 特許庁

In this position determination method of the measuring object, when performing same-field observation of the measuring object on a substrate by the first microscope and the electron microscope, the coordinate of the measuring object in the electron microscope is determined based on the coordinates of two points on the measuring object and the substrate in the first microscope and the coordinates of two points on the substrate in the electron microscope.例文帳に追加

基板上の測定対象物を第１の顕微鏡と電子顕微鏡とで同視野観察するに際して、第１の顕微鏡における測定対象物および基板の２つの点の座標と、電子顕微鏡における基板の２つの点の座標とに基づいて電子顕微鏡における測定対象物の座標を決定する方法。 - 特許庁

To provide an arrangement for catching lighting beam in a laser scanning microscope and to provide a method using the arrangement.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡における照明光線捕捉のための配置およびその方法 - 特許庁

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method.例文帳に追加

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。 - 特許庁

TRANSMITTED LIGHT BASE FOR MICROSCOPE AND METHOD FOR CONTROLLING ILLUMINATION INTENSITY OF TRANSMITTED LIGHT BASE例文帳に追加

顕微鏡用の透過光ベースおよび透過光ベースの照明強度を制御するための方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a non-deteriorated good observation sample for a transmission electron microscope.例文帳に追加

変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a nonlinear microscope system having a method for multidimensionally increasing signal resolution.例文帳に追加

信号分解能を多次元において高める方法を有する非線形顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

DETECTION METHOD FOR INTERNAL DEFECT AND ULTRASONIC MICROSCOPE FOR DETECTION OF INTERNAL DEFECT BY USING IT例文帳に追加

内部欠陥検出方法、およびそれを用いて内部欠陥を検出する超音波顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING AND QUANTITATIVELY DETERMINING SAMPLE NUCLEIC ACID FRAGMENT BY SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電気化学顕微鏡による試料核酸断片の検出方法および定量方法 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME例文帳に追加

原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR COMBINING IMAGE BLOCK TO CREATE SEAMLESS MAGNIFIED IMAGE OF MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

イメージ・ブロックを合成し顕微鏡スライドのシームレスな拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁

To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。 - 特許庁

To provide a mask pattern correction method with high dimensional accuracy using a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた、寸法精度の高いマスクパターン修正方法を提供すること。 - 特許庁

PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME例文帳に追加

蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム - 特許庁

NEAR FIELD OPTICAL PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

近接場光プローブ及びその製造方法、並びにそれを用いた近接場光顕微鏡 - 特許庁

This substrate inspecting method uses a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、走査型電子顕微鏡装置を用いた基板検査方法である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING MEASURING PARAMETER FOR SCANNING MICROSCOPE AND COMPUTER-READABLE STORING MEDIUM例文帳に追加

走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法及びコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

To provide a method for rapidly performing the scanning of a living sample by a laser scanning microscope in almost real time.例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡による生体試料の走査を迅速で準リアルタイム的に行なう。 - 特許庁

The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.例文帳に追加

当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁

SURFACE PLASMON FLUORESCENCE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING FLUORESCENCE EXCITED BY SURFACE PLASMON例文帳に追加

表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法 - 特許庁

APPROACH METHOD AND CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE USING HEAT EXCHANGE EFFECT例文帳に追加

熱交換効果を利用した走査型プローブ顕微鏡装置におけるアプローチ方法及びカンチレバー - 特許庁