「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method.例文帳に追加

測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR OBJECT BY SHAPE-SWITCHING FOR CHANGEABLE MIRROR AND NON-SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁

To provide a method for the automatic analysis of microscope images of biological objects such as, for example, fluorescence images of cells.例文帳に追加

細胞の蛍光画像等の生物被写体の顕微鏡画像の自動解析法を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC-RESONANCE-TYPE EXCHANGE INTERACTION FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF EXCHANGE INTERACTION FORCE USING IT例文帳に追加

磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法 - 特許庁

To provide a movement control method for an automatically surface engageable scanning force microscope.例文帳に追加

自動表面係合の走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法を提供する。 - 特許庁

ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE, LASER DEFECT CORRECTING DEVICE WITH LASER USING THE SAME, AND METHOD OF OBSERVING LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

赤外線顕微鏡およびこれを用いたレーザー欠陥修正装置および液晶パネルの観察方法 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME例文帳に追加

Ｘ線回折顕微鏡装置およびＸ線回折顕微鏡装置によるＸ線回折測定方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE例文帳に追加

エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD例文帳に追加

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波トランスデューサの製造方法、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁

To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement.例文帳に追加

精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。 - 特許庁

NEAR FIELD PROBE, MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING NEAR FIELD PROBE例文帳に追加

近接場プローブ及びその製造方法、並びに、該近接場プロープを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁

To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra.例文帳に追加

精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

METHOD OF OBTAINING INTERFACE INFORMATION AND METROLOGICAL INFORMATION OF SAMPLE, USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料の界面情報及び度量衡学的情報を得る方法 - 特許庁

TUNING FORK AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND FOCUSING DEVICE, DISPLACEMENT SENSOR, AND CONFOCAL MICROSCOPE USING THE TUNING FORK例文帳に追加

音叉及びその製造方法、並びに音叉を用いた合焦装置、変位センサ、共焦点顕微鏡 - 特許庁

ARRANGEMENT FOR COMBINING RADIATION TO SCANNING HEAD IN MICROSCOPE WITH SCANNING UNIT, AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM, SYSTEM CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE SYSTEM CONTROL例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡システム、システム制御方法およびシステム制御をコンピュータに実行させる制御プログラム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM FOR DIMENSION MEASUREMENT, AND EVALUATION SYSTEM OF CIRCUIT PATTERN FEATURE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

寸法計測走査型電子顕微鏡システム並びに回路パターン形状の評価システム及びその方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, IMAGING DEVICE AND IMAGING DEVICE HAVING LIGHT MICROSCOPE例文帳に追加

情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁

A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁

TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁

PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING CHANNEL STRUCTURE OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープの探針及びその製作方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING AND RECONSTRUCTING MAGNIFIED SPECIMEN IMAGES FROM COMPUTER-CONTROLLED MICROSCOPE例文帳に追加

コンピュータ制御の顕微鏡から試料の拡大イメージを取得し再構成するための方法および装置 - 特許庁

To provide a mixing method of microscope objective liquid immersion oil and a measuring set of microscope objective liquid immersion oil, which is used for improving the resolution of objective lens in a microscope and makes refractive index of the microscope objective liquid immersion oil optimum, in response to the temperature of a sample or the thickness of cover glass for the microscope.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡において対物レンズの分解能を向上させるために使用される顕微鏡対物用液浸油の混合方法および顕微鏡対物用液浸油計量セットに関し、標本の温度あるいは顕微鏡用カバー硝子の厚さに対応して顕微鏡対物用液浸油の屈折率を最適な屈折率にすることを目的とする。 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE, IMAGE DISPLAY DEVICE, IMAGE CONTROL SERVER, METHOD FOR GENERATING FOCUS POSITION INFORMATION, IMAGE DISPLAY METHOD, IMAGE CONTROL METHOD, AND MICROSCOPIC IMAGE CONTROL SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、画像表示装置、画像管理サーバ、合焦位置情報生成方法、画像表示方法、画像管理方法及び顕微鏡画像管理システム - 特許庁

LOCAL POLARIZING MICROSCOPE ANALYSIS/SPECTRAL SEPARATION METHOD AND APPARATUS BY COMPOSITE EVANESCENT WAVE DARK FIELD EXCITATION, AND SUBSTANCE OPERATION METHOD AND APPARATUS APPLYING THE METHOD AND THE APPARATUS例文帳に追加

合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法 - 特許庁

FOCUSING STATE-DETECTING MEMBER, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, FOCUSING CONDITION ADJUSTMENT METHOD, FOCUS ADJUSTMENT METHOD, AND FOCUS DEPTH MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

集束状態検出用部材、走査型電子顕微鏡、ならびに電子ビームの集束条件調整方法、焦点調整方法及び焦点深度測定方法 - 特許庁

To provide a sample coating method of an electron microscope capable of performing the conductive treatment of an insulating sample by a simple constitution, concerning the sample coating method of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の試料コーティング方法に関し、絶縁試料の導電性処理を簡易な構成で行なうことができる電子顕微鏡の試料コーティング方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, an evaluation method of a probe of the scanning probe microscope, and a program, capable of evaluating a probe without measuring a standard sample.例文帳に追加

標準試料を測定することなく探針の評価を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

To provide a device for beam shut-off in a laser scanning microscope and a method for scanning the laser scanning microscope by using beam shut-off in order to dispense with an expensive acoustooptical modulator.例文帳に追加

高価な音響光学変調器を不要とするために、レーザ走査顕微鏡におけるビーム遮断用デバイスと、ビーム遮断を用いてレーザ走査顕微鏡を走査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compact scanning electron microscope and a method for switching the objective lens usage of the scanning electron microscope, enabling a usage change of the objective lens in a short time.例文帳に追加

小型で、短時間で対物レンズの用途切替ができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

A non-bonding constituent in a solution to be analyzed is separated from a bonding fraction, and bonding can be detected by a microscope method, a fluorescence method, an epifluorescence method, a luminescence method, a phosphorescence method, a radioactivity method, or an absorbance method.例文帳に追加

分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法によって検出することができる。 - 特許庁

To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of accurately calculating an amount of phase change in a microscope apparatus with structured illumination.例文帳に追加

構造化照明を有する顕微鏡装置において、正確な位相変化量を計算する方法を提供する。 - 特許庁