「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING OPTICAL FIBER PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

光ファイバープローブ評価方法、光ファイバープローブ評価装置、近接場光学顕微鏡、及び近接場光加工装置 - 特許庁

To provide an optical microscope and an observation method by which the inside of a hole having a small inside diameter is observed.例文帳に追加

内径が小さい孔の内部を観察することができる光学顕微鏡及び観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample.例文帳に追加

より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can be easily focused, and a method for picking up a confocal image.例文帳に追加

簡便に焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL INFORMATION GAINING METHOD, COFOCAL SCANNING MICROSCOPE AND STORAGE MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD USING SAME, OPTICAL AXIS CORRECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

光学顕微鏡システム、これを用いた光軸補正方法、光軸補正プログラム、及びこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a laser confocal microscope capable of precisely detecting a sample surface, and a surface detection method.例文帳に追加

試料表面を正確に検出することができるレーザ共焦点顕微鏡及び表面検出方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加

導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of facilitating analyses from various points of view, and to provide an observation method.例文帳に追加

様々な観点からの解析、分析を容易にすることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供すること。 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION SYSTEM, ITS CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER RECORDING CONTROL PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡画像観察システム、その制御方法および制御プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a method for creating a sample for electron microscope observation for making precise observation by TEM.例文帳に追加

ＴＥＭによる観察を正確に行うことが可能な電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TRANSFERRING SAMPLE IN CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置における試料移設方法及び荷電粒子ビーム装置並びに透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁

In this sample preparation method for the double resonance absorption microscope, a sample is dyed by a quantum dot.例文帳に追加

二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色する。 - 特許庁

FORMATION DEVICE OF IMAGING RECIPE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS METHOD, AND SHAPE EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR PATTERN例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 - 特許庁

DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

To provide an atomic force microscope having high usability and high measuring precision, and a method therefor.例文帳に追加

一層高い有用性及び測定精度を有する原子間力顕微鏡及びその測定方法を提供すること。 - 特許庁

FLUORESCENCE DETECTION DEVICE, CONTRAST INFORMATION CORRECTION METHOD, CONTRAST INFORMATION CORRECTION PROGRAM, AND SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE例文帳に追加

蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

To provide an inexpensive motor-drive position switching mechanism for a microscope for which necessary stoppage accuracy is secured and whose control method is easy.例文帳に追加

必要な停止精度を確保し、制御方法も簡単で、安価な顕微鏡の電動位置切換機構を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method for electron microscope observation and a sample preparation kit, by which a sample present in a liquid and having floating property can be efficiently prepared by an optimal method to be observed with an optical microscope while suppressing the floating property, a sample to be an object for electron microscope observation is specified in the sample, and the specified sample can be precisely observed with an electron microscope.例文帳に追加

最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。 - 特許庁

To provide a highly precise method of evaluating an SiC substrate, capable of being carried out as a nondestructive method without using an expensive evaluation instrument or microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて行える精度の高いＳｉＣ基板の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sample for a microscope capable of adjusting the angle of inclination of a sample with high precision, in a short time, and to provide a sample preparing method and a microscopic observation method.例文帳に追加

試料の傾斜角度を短時間で高精度に調整できる顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe for a scanning probe microscope equipped with a peak part made of monolayer carbon nanotubes, its inspection method, and its usage.例文帳に追加

単層カーボンナノチューブから成る尖頭部を備えた走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法およｂ使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method for utilizing a gradient method and automatically measuring a sidewall.例文帳に追加

傾斜法を利用して側壁等を測定する方法で自動的な計測を行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide an aberration compensation method of a transmission electron microscope capable of providing a high-definition image by eliminating influence of hysteresis of a lens by lens relaxation, in relation to an aberration compensation method of a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の収差補正方法に関し、レンズ緩和によりレンズのヒステリシスの影響を無くして高精度の画像を得ることができるようにした透過電子顕微鏡の収差補正方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and a device for correcting a tilting stage of an electron microscope capable of correctly correcting when a sample is tilted with respect to the method and the device for correcting the tilting stage of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置に関し、試料傾斜時における補正を正しく行なうことができる透過電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope resolution evaluating chart which is easily manufactured and is used to objectively, quantitatively and accurately evaluate the image forming performance of an ultra-resolution fluorescent microscope that uses two wavelengths and is made superior in versatility and to provide a manufacturing method of the chart and to provide a resolution evaluating method of the fluorescent microscope using the chart.例文帳に追加

容易に製造でき、２波長を用いる超解像蛍光顕微鏡の結像性能も客観的かつ定量的に正確に評価できる汎用性に優れた蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法、並びに蛍光顕微鏡用解像度評価チャートを用いる蛍光顕微鏡の解像度評価方法を提供する。 - 特許庁

This surgical observation system has a surgical microscope 1 for observing a portion A to be operated on, and an ultrasonic probe 37 differing from the surgical microscope 1 in at least either one of observing direction or method.例文帳に追加

手術用観察システムは、手術部位Ａの観察を行う手術用顕微鏡１と、この手術用顕微鏡１と観察方向と観察方法との少なくとも一方が異なる超音波プローブ３７と、を有する。 - 特許庁

To provide a thin layer oblique illumination method capable of detecting substances and molecules with high sensitivity by use of light and observing these with a low background and high sensitivity with an optical microscope by using an optical system equivalent to that of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡と同等の光学系を用いて光を使って物質や分子の高感度検出と光学顕微鏡における低背景・高感度観察が可能な薄層斜光照明法を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens for a microscope, a microscope using the same and its using method by which a sample being a specimen equipped with a protection transparent member having thickness within a specified range can be excellently and easily observed.例文帳に追加

所定範囲の厚さを有する保護用透明部材を備えた標本の試料を良好且つ簡易に観察できる顕微鏡用対物レンズ、それを用いた顕微鏡及びその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.例文帳に追加

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can have its confocal pinhole position easily aligned with the optical axis of the light from a sample and a confocal pinhole adjusting method for the scanning type optical microscope.例文帳に追加

共焦点ピンホール位置を簡単に標本からの光の光軸に一致させることが可能な走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法を提供する。 - 特許庁

To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。 - 特許庁

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁

To provide a microscope observation reproducing method, and its apparatus, program and record medium, displaying an animation reproducing the microscope observation and automatically jetting and displaying description on a specified region on the animation arbitrarily.例文帳に追加

顕微鏡観察を再現する動画の表示や、その動画上の特定部位に関する噴出説明も任意に自動表示させる顕微鏡観察再現方法、その装置、プログラムならびに記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a microscope control method that allow shortening of time to switch units of a turret drive system in continuous imaging of high-speed imaging and fluorescent observations in plural wavelengths.例文帳に追加

高速イメージングや、複数波長の蛍光観察の連続撮像において、ターレット駆動方式のユニットの切換え時間を短縮することが可能な顕微鏡制御装置および顕微鏡制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁