「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a photodetection device and a photodetection method using an optical fiber probe applicable to a scanning probe microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡等に適用可能な光ファイバプローブを用いた光検出装置及び光検出方法に関する。 - 特許庁

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

The method of machining fly-eye lens molding die can be applied to, for example, the fly-eye lens used in an illumination optical system of a microscope apparatus for observing a sample.例文帳に追加

本発明は、例えば、試料を観察する顕微鏡装置の照明光学系に使用されるフライアイレンズに適用できる。 - 特許庁

To provide a method for obtaining an observation image of a microscope which is accurately positioned at a low cost without being made large-scaled.例文帳に追加

安価にかつ装置を大型化しなくても、高精度に位置決めされた顕微鏡の観察画像を取得する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a modulation contrast microscope which optimizes the view of the transparent zone of an egg in implementing an ICSI (intracytoplasmic sperm injection method).例文帳に追加

ICSI(卵細胞質内精子注入法)実施時に卵の透明帯の見えが最適となる変調コントラスト顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope apparatus which enables to get always a high accuracy SEM image and line width measurement value without giving damage or the like to an object of measurement (observation) even under a high magnification, and a method of a length measurement with the microscope apparatus.例文帳に追加

高倍率下においても測定（観察）対象物にダメージ等を与えず、常に高精度なＳＥＭイメージと線幅測定値とを得ることができる走査型電子顕微鏡装置と該装置による測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which improves workability by easily shifting the position of an assistant form either the left or right side relative to a surgeon to the other side, and a position setting method in the surgical microscope.例文帳に追加

本発明は、術者に対し助手の位置を左右いずれかの一側方部から他側部に容易に入替えでき、作業性の向上を図れる手術用顕微鏡および手術用顕微鏡における位置設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for adjusting an active vibration insulation system for vibration insulation positioning particularly in a lithography device, a wafer processing system, and/or a microscope such as a scanning microscope, and also to provide the active vibration insulation system.例文帳に追加

特に、リソグラフィ・デバイス、ウェーハ処理システム、および／または走査顕微鏡などの顕微鏡の振動絶縁位置付けのための、能動振動絶縁システムを調整するための方法、および能動振動絶縁システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a photoacoustic microscope apparatus operating the drive part of a photoacoustic microscope at a high speed and realizing quiet operation environment and capable of scanning a sample at random by a laser beam and an imaging method.例文帳に追加

光音響顕微鏡の駆動部を高速に動作させ、かつ静粛な動作環境を実現し、光ビームを試料に対してランダムに走査することができる光音響顕微鏡装置及びその映像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multi-probe type scan probe microscope apparatus and a sample surface evaluation method which can reduce labor and time required for measuring work by facilitating the measurement of multiple kinds of scan probe microscope images.例文帳に追加

複数種の走査プローブ顕微鏡像の測定を容易に行えて、測定作業に要する労力および時間を軽減できるマルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide: an information apparatus capable of highly accurately correcting complicated distortion generated in an image obtained by an optical microscope; an information processing method; a program; and an imaging apparatus including the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡により得られる画像に発生する複雑なディストーションを、高精度に補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for shortening a focus detection time, and for improving the accuracy of focal position detection and adjustment and an automatic focus adjustment method by the confocal microscope.例文帳に追加

本発明では、焦点検出時間の短縮、および焦点位置検出及び調整の精度向上が可能な共焦点顕微鏡および共焦点顕微鏡による自動焦点調節方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an illuminating system and an illuminating method for a transmitted light type microscope by which the resolving power of a microscope and the distinctness of an image are enhanced by generating inclined light having a maximum angle possible for a lens to be used.例文帳に追加

使用レンズに可能な最大角度を有する傾斜光を発生させることにより、顕微鏡の解像力及び像の鮮明度を高める透過光型顕微鏡のための照明系及び照明方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photoelectron microscope, having a light source system for reliably performing a high-resolution measurement, such as work function distribution measurement and magnetic domain distribution measurement, and to provide a high-sensitivity measurement method by the photoelectron microscope.例文帳に追加

仕事関数分布測定や磁気ドメイン分布測定など、高分解能測定を確実に行うための光源システムを備えた光電子顕微鏡、及び、この光電子顕微鏡による高感度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can precisely detect interaction quantity due to interatomic force between a cantilever and a sample with a measurement method using light such as an optical lever method, even when the cantilever is driven in high speed in the Z direction, and to provide a cantilever support of the atomic force microscope.例文帳に追加

カンチレバーをＺ方向に高速に駆動した場合にも、光てこ法等の光を使った測定法でカンチレバーの試料との間の原子間力による相互作用量を正確に検出できる原子間力顕微鏡及びそのカンチレバー支持具を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a photomask using a scanning probe microscope, the method giving less damage on the photomask, and to provide a method for manufacturing a photomask using the method.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡を用いたフォトマスクの欠陥修正方法であって、フォトマスクへのダメージが少ないフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope that makes it possible to observe the same observation face on a specimen irrespective of an observation method.例文帳に追加

本発明は、観察方法に依らず試料上の同一観察面の観察を可能とする蛍光顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method capable of determining which channel data can be acquired from among recoding channels that are used for evaluating image in a microscope system.例文帳に追加

顕微鏡装置において、画像評価するための記録チャネルのうち、どのチャネルでデータ取得ができるかを読み取れる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting structure on a semiconductor substrate by forming the image of the structure with X-rays in an image forming X-ray microscope.例文帳に追加

結像型Ｘ線顕微鏡において構造をＸ線で結像する半導体基板上の構造の検査方法及び検査装置。 - 特許庁

To provide a microscope, a position control method, and a position control program that are able to exert position control of a stage at a high speed and with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で高速にステージの位置制御を行い得る顕微鏡、位置制御方法及び位置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a withstand voltage optical fiber resistant to deterioration in insulation, as well as being heavily insulated for an ultra-high voltage electron microscope and realize a manufacturing method thereof.例文帳に追加

絶縁劣化を起こし難く、高耐圧を有する超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope capable of for reducing a sample damage caused on the occasion of ultraviolet rays observation and to provide an observation method using the same.例文帳に追加

紫外光観察時の標本のダメージを軽減できる紫外線顕微鏡、およびこれを用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a means which is a method for replacing a filament of an electron gun of an electron microscope or the like with extremely more favorable workability than a screw type one.例文帳に追加

電子顕微鏡等の電子銃のフィラメントを交換する方法でネジ式より作業性が非常に良い手段を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of achieving an ion beam microscope that has high resolution and can reduce a damage to a test piece as much as possible during imaging.例文帳に追加

高分解能でかつ撮像中に試料の損傷をできるだけ少なくできるイオンビーム顕微鏡を実現する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation suitably employed for observation of a fine structure of a steel material.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた鉄鋼材料の微細構造の観察に適した電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.例文帳に追加

構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which has the improved degree of freedom of microscopic observation, and can easily be applied to various microscopic method and made compact and lightweight.例文帳に追加

観察の自由度が高く様々な顕鏡方法に簡単に対応でき、しかも小型、軽量化を実現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an autofocusing method which is capable of stably and efficiently detecting a focusing position under all conditions, and to provide a UV microscope.例文帳に追加

あらゆる状況下で安定的に効率良く合焦位置を検出できる自動合焦方法及び紫外線顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of observation by a scanning probe microscope which allows the observation of the configuration and the dispersed state of particles such as powders.例文帳に追加

粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it.例文帳に追加

スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image construction method and a transmission electron microscope in which a three-dimensional image with better image quality than conventional arts can be obtained.例文帳に追加

従来よりも像質の良い３次元像像を得ることができる３次元像構築方法および透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of accurately irradiating an aimed position in a sample with stimulating laser light even when an observing method is switched.例文帳に追加

観察方法を切換えても、試料内の狙った位置に正確に刺激レーザ光を照射できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope and an operation method of the same to facilitate a positioning of a sample and focusing.例文帳に追加

本発明では、標本の位置決めや焦点合わせがしやすい顕微鏡装置および顕微鏡装置操作方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a laser scanning method that can accurately control an irradiation position even if a plurality of light controllers are used.例文帳に追加

複数の調光部を用いても照射位置を正確に制御できる走査型レーザ顕微鏡及びレーザ走査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide the probe of a scanning probe microscope(SPM) having the channel structure of a field effect transistor formed at the tip thereof, and its fabricating method.例文帳に追加

チップの先に電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM)の探針及びその製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample for tuning of a scanning electron microscope, and it manufacturing method, capable of accurately carrying out correction of an axis and an astigmatism.例文帳に追加

軸や非点収差の補正を精度良く行うことができる走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a retrieval method of easily and quickly searching a desired electron microscope image from among a number of them.例文帳に追加

多数の電子顕微鏡画像の中から所望の電子顕微鏡画像を容易に且つ迅速に検索するための検索方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain.例文帳に追加

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。 - 特許庁