「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MATERIAL IN MICROCAPSULE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

OBSERVING METHOD THROUGH USE OF POSITRON REEMISSION MICROSCOPE AND POSITRON BEAM例文帳に追加

陽電子再放出顕微鏡及び陽電子ビームを用いた観察方法 - 特許庁

PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL METHOD, PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL DEVICE, ACTUATOR, AND MICROSCOPE例文帳に追加

圧電素子の制御方法、圧電素子の制御装置、アクチュエータ、及び顕微鏡 - 特許庁

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE THROUGH ELECTRONIC MICROSCOPE, AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

半導体装置の電子顕微鏡による観察方法およびその装置 - 特許庁

DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置 - 特許庁

To provide a method for determining specimen size and facilitating preparation through a single microscope.例文帳に追加

単式顕微鏡での試料サイズの求め方とプレパラート作りを楽にする - 特許庁

MICROSCOPE PHOTOGRAPHIC SYSTEM, IMAGE INPUT DEVICE, AUTOMATIC EXPOSURE METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡撮影システム、画像入力装置、自動露出方法及びプログラム - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR OBSERVATION DEVICE, MICROSCOPE AND ADJUSTING METHOD OF OBJECTIVE LENS例文帳に追加

観察装置用対物レンズ、顕微鏡ならびに対物レンズの調節方法 - 特許庁

METHOD AND MICROSCOPE FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION EXAMINATION OF SAMPLE例文帳に追加

試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLING APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING MINUTE OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡装置内における微小物作成方法及びその装置 - 特許庁

ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法 - 特許庁

MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND MULTIPLE POINTS SIMULTANEOUS MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

試料の多点同時計測方法、及び多点同時計測用顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁

SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁

MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY MICROSCOPE AND MULTI-POINT FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETRY METHOD例文帳に追加

多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 - 特許庁

LIGHT DETECTION DEVICE, LIGHT DETECTION METHOD, MICROSCOPE, AND ENDOSCOPE例文帳に追加

光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡 - 特許庁

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置およびその制御方法ならびに制御プログラム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁

DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING WEAK FLUORESCENCE RADIATION BY MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡システムで弱い蛍光放射を検出するための検知器と方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁

IMAGE ACQUISITION APPARATUS, METHOD FOR CONTROLLING IMAGE ACQUISITION APPARATUS, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像取得装置、画像取得装置の制御方法、及び顕微鏡システム - 特許庁

METHOD FOR LIGHTING PHYSICAL OBJECT AND SURGICAL MICROSCOPE HAVING LIGHTING UNIT例文帳に追加

対象物の照明方法及び照明装置を有する手術顕微鏡 - 特許庁

SONIC SPEED MEASURING METHOD USING ULTRASONIC MICROSCOPE, ITS SONIC SPEED MEASURING DEVICE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加

超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、超音波顕微鏡を使用した画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁

To provide a method for improving resolution of a microscope when detecting an illuminated sample, and a microscope for implementing the method.例文帳に追加

照明された試料を検出する際の顕微鏡の分解能を向上させる方法、およびこの方法を実施するための顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER CASSETTE, METHOD OF SUPPLYING CANTILEVER, AND METHOD OF MANAGING STATE OF CANTILEVER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、カンチレバーカセット、カンチレバーの供給方法および状態管理方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING ULTRASONIC TRANSDUCER FOR ULTRASONIC MICROSCOPE, AND MANUFACTURING METHOD AND INSPECTION DEVICE THEREFOR例文帳に追加

超音波顕微鏡用超音波トランスデューサの検査方法、その製造方法及び検査装置 - 特許庁

To provide a microscope capable of correcting image blurring caused by the vibration of the microscope, and observing a specimen image without causing any image blurring, to provide an image blurring correction imaging lens used for the microscope, and to provide an image blurring correction method for the microscope.例文帳に追加

顕微鏡が受ける振動による像ぶれを補正し、像ぶれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる像ぶれ補正結像レンズと、顕微鏡の像ぶれ補正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for remote controlling an electron microscope capable of accurately adjusting an electron microscope such as a scanning electron microscope even in bad environment of a network.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、より正確に走査電子顕微鏡などの電子顕微鏡の調整を行なうことができる電子顕微鏡の遠隔調整方法を実現する。 - 特許庁

To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

METHOD FOR DRIVING LASER SCANNING MICROSCOPE HAVING PRECISE FOCUSING STAGE CAPABLE OF BEING INCLINED例文帳に追加

傾斜可能な精密焦準ステ—ジをもつレ—ザ—走査顕微鏡駆動方法 - 特許庁