「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE PHOTOGRAPHING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ADJUSTING BRIGHTNESS例文帳に追加

顕微鏡撮影装置、明るさ調整方法および明るさ調整プログラム - 特許庁

INSPECTION METHOD USING SCANNING LASER SQUID MICROSCOPE AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM, IMAGE PROCESSING METHOD, AND IMAGE PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラム - 特許庁

MICROSCOPE WITH IMAGING APPARATUS AND METHOD FOR CALCULATING ITS EXPOSURE TIME例文帳に追加

撮像装置付顕微鏡及びその露出時間を算出する方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING MICRO-PLASMA AND PLASMA ARRAY MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロプラズマ生成装置、プラズマアレイ顕微鏡、及びマイクロプラズマ生成方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS, FOCUS DETECTION APPARATUS, AND FOCUS DETECTION CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置、焦点検出装置、及び焦点検出制御方法 - 特許庁

IMAGING SYSTEM FOR MICROSCOPE, EXPOSURE ADJUSTMENT PROGRAM, AND EXPOSURE ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

顕微鏡用撮像システム、露光調整プログラム、及び露光調整方法 - 特許庁

CARD TYPE MICROSCOPE, ITS FOCUSING METHOD AND AUXILIARY TOOL FOR PHOTOGRAPH例文帳に追加

カード型顕微鏡とそのピント調整法及び写真用の補助器具 - 特許庁

ACTUATOR CONTROL METHOD AND DEVICE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエータ制御方法及びその装置並びに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR OUTERMOST LAYER OF STEEL PLATE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による鋼板の最表層の評価方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR REMOVING LENS HYSTERESIS OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のレンズヒステリシス除去方法及びレンズヒステリシス除去プログラム - 特許庁

To provide an improved method of operating a laser scanning microscope.例文帳に追加

改善されたレーザ走査型顕微鏡の動作方法を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT, MICROSCOPE USING THE SAME AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

光学素子およびそれを用いた顕微鏡並びに光学素子の製法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND POLARIZATION EVALUATING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

近接場光学顕微鏡及びそれを用いた偏光評価方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁

To provide a color imaging apparatus for a microscope, a color imaging program for a microscope, and a color imaging method for a microscope by which faithful color reproduction can be achieved regardless of the state of an optical source for lighting of the microscope, the state of optical elements of the microscope or the color imaging apparatus for the microscope or variation with time of a camera.例文帳に追加

顕微鏡の照明光源の状態や、顕微鏡や顕微鏡用カラー撮像装置の光学素子の状態、またカメラの経時変化によらず、忠実な色再現を実現できる顕微鏡用カラー撮像装置、顕微鏡用カラー撮像プログラムおよび顕微鏡用カラー撮像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for a microscope capable of preventing incorrect inspection; and to provide an inspection method by the microscope.例文帳に追加

誤検査を防止することができる顕微鏡用の検査装置および顕微鏡による検査方法を提供することである。 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR THE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法、透過電子顕微鏡用試料支持構造、試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

The method includes use of an optical microscope linked to an image processing apparatus or use of a microscope linked to a spectroscopic apparatus.例文帳に追加

測定は、画像加工装置に接続した光学顕微鏡又は分光学的装置に結合した顕微鏡の使用を含む。 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING SAMPLE BY SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ULTRA-FLAT SAPPHIRE SUBSTRATE FOR SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査近接場光学顕微鏡による試料観測方法および走査近接場光学顕微鏡用超平坦サファイア基板 - 特許庁

MOTOR-DRIVEN STAGE CONTROL SYSTEM FOR MICROSCOPE, CONTROL DEVICE THEREFOR, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

顕微鏡用電動ステージ制御システム、該制御装置、及び該制御方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE, INSPECTION DEVICE OF INSULATING FAILURE AND INSPECTION METHOD OF INSULATING FAILURE例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 - 特許庁

Further, the microscope and method for imaging the sample are disclosed.例文帳に追加

さらに、試料を結像するための顕微鏡および方法が開示されている。 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE APPARATUS, OPTICAL DEVICE ARRANGING METHOD, AND OPTICAL DEVICE ARRANGING PROGRAM例文帳に追加

光学顕微鏡装置、光学素子配置方法、及び光学素子配置プログラム - 特許庁

CHARGE PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND MEASURED IMAGE CORRECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた計測画像の補正方法 - 特許庁

To provide a method for inspecting a sample by using a charged particle microscope.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡を用いて試料を検査する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁

SURGICAL MICROSCOPE FOR OPHTHALMOLOGY AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

眼科学のための手術顕微鏡ならびに該手術顕微鏡の使用法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM OF CAPSULE TYPE PLANT, METHOD FOR SUPPLYING POWER AND ACTUATOR例文帳に追加

カプセル式工場の顕微鏡システムと電力の供給方法とアクチュエータ - 特許庁

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE EXCELLENT IN HEIGHT CONTROLLABILITY例文帳に追加

高さ制御性に優れた原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法 - 特許庁

VERTICAL ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE, INSPECTION APPARATUS FOR PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

落射型顕微鏡、プローブカードの検査装置、および、プローブカードの製造方法 - 特許庁

SCANNING TUNNEL MICROSCOPE AND NANO-SCALE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡およびこれを用いたナノスケール表面観察法 - 特許庁

SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法 - 特許庁

ADJUSTMENT AND DIAGNOSIS METHOD FOR CONFOCAL SCANNING LASER MICROSCOPE AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

共焦点走査型レーザ顕微鏡の調整診断方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料作製装置及び電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL CONTACT BETWEEN PROBE AND MICROSCOPE SAMPLE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

プローブと顕体試料の電気的接触検出方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁