「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF MANUFACTURING FROZEN MICROTOME AND THIN LEAF FOR OBSERVATION BY MICROSCOPE例文帳に追加

冷凍ミクロトーム及び顕微鏡観察用薄片の製造法 - 特許庁

FOCUSING POINT DETECTING METHOD AND OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

合焦点検出方法及びそれを用いた光学顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法 - 特許庁

COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加

小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡および荷電粒子線顕微方法 - 特許庁

MEASURING MICROSCOPE DEVICE, ITS DISPLAY METHOD, AND ITS DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

測定顕微鏡装置、その表示方法、及びその表示プログラム - 特許庁

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁

SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING THICKNESS OF AMORPHOUS LAYER OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料のアモルファス層の厚さ評価方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

PRECISION MACHINING METHOD USING NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場走査光学顕微鏡を用いた精密加工方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE, PROBE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブの作製方法およびプローブ、ならびに走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁

FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁

LIQUID IMMERSION OBSERVATION METHOD, LIQUID IMMERSION MICROSCOPE APPARATUS, AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

液浸観察方法、液浸顕微鏡装置、及び検査装置 - 特許庁

PROBE APPARATUS, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE DISPLAY METHOD例文帳に追加

プローブ装置、走査型プローブ顕微鏡および試料表示方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, THE CONTROL METHOD AND THE CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、該制御方法、及び該制御プログラム - 特許庁

MICROSCOPE WITH AUTOMATIC FOCUSING MECHANISM AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

自動焦点機構を備えた顕微鏡およびその調整方法 - 特許庁

EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブ及び走査型プローブ顕微鏡並びにプローブの製造方法 - 特許庁

SAMPLE HEATING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用試料加熱ホルダ及び試料観察方法 - 特許庁

REMOTE CONTROL METHOD AND REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システム - 特許庁

QUANTITY-OF-LIGHT DETECTOR, MICROSCOPE, AND QUANTITY-OF-LIGHT DETECTION METHOD例文帳に追加

光量検出装置、顕微鏡及び光量検出方法 - 特許庁

WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用薄片試料の作製方法とこの試料の観察方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE, FOCUSING POSITION ADJUSTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

光学顕微鏡、焦点位置調整方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁

CRYSTAL ETCHING METHOD, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

結晶エッチング方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

THIN FILM FORMING METHOD, SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

薄膜形成方法、電子顕微鏡用試料ホルダおよびその形成方法。 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM FOR CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置とその制御方法、及び制御方法に係るプログラム - 特許庁

TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE CONTROL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, RECORDING MEDIUM HAVING CONTROL PROGRAM RECORDED THEREON, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡制御方法、制御プログラム、制御プログラムを記録した記録媒体、電子顕微鏡システム、および電子線照射装置 - 特許庁