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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2072件
ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD AND KIT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法及びキット - 特許庁
LASER SCANNING-TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法 - 特許庁
INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED例文帳に追加
透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR RELATIVELY ADJUSTING LAMP LIGHTING OPTICAL PATH OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE SUITABLE FOR IMPLEMENTATION OF THE METHOD例文帳に追加
顕微鏡の照明光路に対してランプを相対的に調整する方法及び該方法の実施に適した顕微鏡 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope apparatus which facilitates the setting of an observation range, to provide a control method of the laser scanning microscope and to provide a control program for the laser scanning microscope.例文帳に追加
観察範囲の設定を容易にする、レーザ走査型顕微鏡装置、その制御方法、及びその制御プログラムを提供する。 - 特許庁
FLUORESCENCE MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND RECORDED EQUIPMENT例文帳に追加
蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, INSPECTION METHOD, AND USAGE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法、使用方法 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE, AUTOFOCUS METHOD AND OBSERVING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
光学顕微鏡及びオートフォーカス方法ならびにそれを用いた観察方法。 - 特許庁
VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁
The automatic focusing method of a microscope (2) and the focusing device for the microscope (2) are disclosed.例文帳に追加
顕微鏡(2)用の自動焦点方法、および顕微鏡(2)用の焦点調整装置が開示されている。 - 特許庁
CARBON NANOTUBE CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブカンチレバーとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁
CONTROL METHOD FOR DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
IMAGE ANALYZING METHOD USING SQUID MICROSCOPE AND IMAGE ANALYZING SYSTEM USING SQUID MICROSCOPE例文帳に追加
SQUID顕微鏡による画像の解析方法、及びSQUID顕微鏡による画像の解析システム - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
CONFORMAL MICROSCOPE, HEIGHT INFORMATION COUPLING METHOD IN CONFOCAL MICROSCOPE, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡における高さ情報の連結方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁
To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加
測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR ILLUMINATING DARK FIELD OF MICROSCOPE例文帳に追加
顕微鏡の暗視野照明装置および暗視野照明方法 - 特許庁
To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS, OPTICAL MICROSCOPE, AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
光学測定装置、光学顕微鏡及び光学測定方法 - 特許庁
ILLUMINATING SYSTEM AND ILLUMINATING METHOD FOR HIGH- RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
高解像光顕微鏡用の照明系及び照明方法 - 特許庁
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR AUTOMATICALLY DETERMINING ARRANGEMENT OF TILT SERIES IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡におけるチルト系列の自動配置決定方法 - 特許庁
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND HIGH SPATIAL RESOLUTION MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
磁気力顕微鏡及び高空間分解能磁場測定方法 - 特許庁
LENS HOLDING STRUCTURE, OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE, AND ASSEMBLY METHOD例文帳に追加
レンズ保持構造、対物レンズ、光学顕微鏡および組立方法 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT AND METHOD USING MICROSCOPE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡を用いた測定装置、測定方法およびそのプログラム - 特許庁
SPECIMEN CONTAINER, METHOD FOR ADJUSTING PHASE CONTRAST MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加
被検体容器、位相差顕微鏡の調整方法およびプログラム - 特許庁
OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
FIBによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁
CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND IMAGE INFORMATION CONSTRUCTING METHOD例文帳に追加
共焦点走査型顕微鏡および画像情報構築方法 - 特許庁
SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCING MAGNIFIED IMAGES OF MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加
顕微鏡スライドの拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡による薄膜の厚みの測定方法 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁
MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND ITS MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
顕微鏡対物レンズ及び顕微鏡対物レンズの製造方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH GRAPHICAL USER INTERFACE AND ITS NOISE ELIMINATION METHOD例文帳に追加
GUIを備えた電子顕微鏡及びそのノイズ除去方法 - 特許庁
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