「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

AUTO-FOCUS DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, PROGRAM, AND MICROSCOPE例文帳に追加

オートフォーカス装置及びその制御方法、プログラム、並びに顕微鏡 - 特許庁

PHOTOELECTRIC SENSOR, PATTERN-INSPECTING DEVICE, MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加

光電センサ、パターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁

PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁

SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法 - 特許庁

METHOD OF SETTING EXPOSURE TIME AND IRRADIATION CONDITION OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の露光時間及び照射条件の設定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルおよびその製造方法 - 特許庁

IMAGE LUMINANCE ADJUSTMENT METHOD AND SYSTEM IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステム - 特許庁

RESOLUTION EVALUATING CHART FOR FLUORESCENCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

蛍光顕微鏡用解像度評価チャート、およびその製造方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁

SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, IMAGING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD例文帳に追加

撮像装置、撮像システム、共焦点顕微鏡、及び撮像方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁

SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SCANNING SAMPLE WITH SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いたサンプル走査方法および装置 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE AND EXCITING LIGHT SOURCE CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

蛍光顕微鏡及び蛍光顕微鏡の励起光源制御方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF CAMERA, AND CAMERA SYSTEM AND MICROSCOPE SYSTEM EMPLOYING IT例文帳に追加

カメラの制御方法とこれを用いたカメラシステムと顕微鏡システム - 特許庁

IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING PARTICLE OF PHOTOMASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォトマスクのパーティクル除去方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUS DETECTOR, ITS CONTROL METHOD, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

自動焦点検出装置、その制御方法、及び顕微鏡システム - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 - 特許庁

RESOLUTION EVALUATION CHART FOR FLUORESCENCE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING METHOD, COMPUTER EXECUTABLE PROGRAM AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理方法、コンピュータ実行可能なプログラム、及び顕微鏡システム - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MOVING SAMPLE IN ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

電子顕微鏡等の試料移動装置及び試料移動方法 - 特許庁

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN DIMENSION MEASUREMENT SYSTEM AND MONITORING METHOD OF SECULAR CHANGE OF ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いたパターン寸法計測方法、パターン寸法計測システム並びに電子顕微鏡装置の経時変化のモニタ方法 - 特許庁

REFERENCE MEMBER FOR CALIBRATING DIMENSION OF ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF CALIBRATING ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置の寸法校正用標準部材、その製造方法、およびそれを用いた電子顕微鏡装置の校正方法 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法 - 特許庁

MICROSCOPE WITH TWO OR MORE FOCAL POINTS, LASER MACHINING DEVICE PROVIDED WITH MICROSCOPE, AND LASER MACHINING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

複数の焦点を有する顕微鏡、該顕微鏡を具備するレーザー加工装置および該装置を用いたレーザー加工方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND DETECTION METHOD OF BIOLOGICAL RELEVANT SUBSTANCE USING THEM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用探針とそれらを用いた生体関連物質の検出方法 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加

プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

ULTRAVIOLET-AREA FLUORESCENT MICROSCOPE, FLUORESCENT MATERIAL IDENTIFYING METHOD, AND CLEANING DEGREE EVALUATING METHOD例文帳に追加

紫外領域蛍光顕微鏡、蛍光物質同定方法および洗浄度評価方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE OBSERVED UNDER ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作成方法及び半導体装置の解析方法 - 特許庁

FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM AND METHOD AND SPECTRUM PROCESSING SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の画像処理システム及び方法並びにスペクトル処理システム及び方法 - 特許庁