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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2071件
STANDARD SAMPLE FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
顕微鏡用標準試料およびその製造方法 - 特許庁
SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁
LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加
レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - 特許庁
COLOR IMAGE ACQUISITION METHOD AND CONFOCAL LASER MICROSCOPE例文帳に追加
カラー画像取得方法及び共焦点レーザ顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁
IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加
顕微鏡用撮像装置および顕微鏡観察方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁
DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁
SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法 - 特許庁
MICROSCOPIC SYSTEM, CONTROL METHOD FOR MICROSCOPE AND PROGRAM例文帳に追加
顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD FOR PICKING UP CONFOCAL IMAGE例文帳に追加
コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法 - 特許庁
PROBE FOR MICROSCOPE ANALYSIS, AND MICROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加
顕微鏡解析用プローブ及び顕微鏡解析方法 - 特許庁
OPHTHALMIC SURGERY MICROSCOPE SYSTEM AND IRRADIATION METHOD例文帳に追加
眼科外科手術用顕微鏡システムおよび照射方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡システムおよびデータ転送方法 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
試料の検査,測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE AND RECORDING METHOD FOR EXTERNAL SIGNAL例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡及び外部信号の記録方法 - 特許庁
CHART FOR RESOLUTION EVALUATION OF COHERENT RAMAN MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, LIGHT SOURCE DEVICE FOR COHERENT RAMAN MICROSCOPE, AND METHOD OF ADJUSTING COHERENT RAMAN MICROSCOPE例文帳に追加
コヒーレント・ラマン顕微鏡の解像度評価用チャートおよびその製造方法、コヒーレント・ラマン顕微鏡用光源装置、並びに、コヒーレント・ラマン顕微鏡の調整法 - 特許庁
METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加
電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
INTERFEROMETER FOR IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE AND EVALUATION METHOD OF THE IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE例文帳に追加
液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法 - 特許庁
METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁
ALIGNMENT MATCHING METHOD OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE HAVING ALIGNMENT MATCHING DEVICE OF LIGHT BEAM例文帳に追加
顕微鏡のアライメント整合方法および光ビームのアライメント整合装置を備える顕微鏡 - 特許庁
TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁
FLUORESCENT MICROSCOPE RESOLUTION EVALUATING CHART AND FLUORESCENT MICROSCOPE ADJUSTING METHOD USING THE CHART例文帳に追加
蛍光顕微鏡用解像度評価チャート及びこれを用いた蛍光顕微鏡調整方法 - 特許庁
PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE例文帳に追加
プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁
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