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「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > microscope methodに関連した英語例文

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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2071



例文

STANDARD SAMPLE FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用標準試料およびその製造方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF POSITIONING PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および探針の位置決め方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁

例文

THERMAL LENS MICROSCOPE ULTRATRACEANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - 特許庁


例文

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁

LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - 特許庁

LASER SCAN MICROSCOPE AND REFERENCE CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND IMAGE ACQUIRING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡及びその画像取得方法 - 特許庁

例文

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

例文

COLOR IMAGE ACQUISITION METHOD AND CONFOCAL LASER MICROSCOPE例文帳に追加

カラー画像取得方法及び共焦点レーザ顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND EVALUATION METHOD OF ITS PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡用撮像装置および顕微鏡観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR FORMING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを形成する方法及びその装置 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁

INFRARED CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

赤外共焦点走査型顕微鏡および計測方法 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法 - 特許庁

MICROSCOPIC SYSTEM, CONTROL METHOD FOR MICROSCOPE AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD FOR PICKING UP CONFOCAL IMAGE例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁

PROBE FOR MICROSCOPE ANALYSIS, AND MICROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

顕微鏡解析用プローブ及び顕微鏡解析方法 - 特許庁

OPHTHALMIC SURGERY MICROSCOPE SYSTEM AND IRRADIATION METHOD例文帳に追加

眼科外科手術用顕微鏡システムおよび照射方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡システムおよびデータ転送方法 - 特許庁

SPECIFIC PATTERN DETECTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の特定パターン検出方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査,測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND RECORDING METHOD FOR EXTERNAL SIGNAL例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及び外部信号の記録方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING TRAVEL IN PROBE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁

CHART FOR RESOLUTION EVALUATION OF COHERENT RAMAN MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, LIGHT SOURCE DEVICE FOR COHERENT RAMAN MICROSCOPE, AND METHOD OF ADJUSTING COHERENT RAMAN MICROSCOPE例文帳に追加

コヒーレント・ラマン顕微鏡の解像度評価用チャートおよびその製造方法、コヒーレント・ラマン顕微鏡用光源装置、並びに、コヒーレント・ラマン顕微鏡の調整法 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

INTERFEROMETER FOR IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE AND EVALUATION METHOD OF THE IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE例文帳に追加

液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁

ALIGNMENT MATCHING METHOD OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE HAVING ALIGNMENT MATCHING DEVICE OF LIGHT BEAM例文帳に追加

顕微鏡のアライメント整合方法および光ビームのアライメント整合装置を備える顕微鏡 - 特許庁

TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁

FLUORESCENT MICROSCOPE RESOLUTION EVALUATING CHART AND FLUORESCENT MICROSCOPE ADJUSTING METHOD USING THE CHART例文帳に追加

蛍光顕微鏡用解像度評価チャート及びこれを用いた蛍光顕微鏡調整方法 - 特許庁

例文

PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁




  
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