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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > microscope methodに関連した英語例文

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microscope methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2071



例文

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

SCANNING MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

走査型顕微鏡とその調節方法 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

LASER MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAY METHOD OF THE SAME例文帳に追加

レーザ顕微鏡とその画像表示方法 - 特許庁

例文

DARK FIELD MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD THEREFOR例文帳に追加

暗視野顕微鏡及びその調整方法 - 特許庁


例文

METHOD AND PROGRAM FOR MANIPULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の操作方法及びプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATION FOR THE SAME例文帳に追加

干渉顕微鏡及びその作動方法 - 特許庁

MICROSCOPE, REGION DETERMINING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡、領域判定方法、及びプログラム - 特許庁

例文

FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

蛍光顕微鏡及び蛍光観察方法 - 特許庁

例文

MICROSCOPE AND ITS OPTICAL ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

顕微鏡およびその光学調整方法 - 特許庁

AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGING SYSTEM AND OPERATING METHOD THEREOF例文帳に追加

顕微鏡撮像システム及び該動作方法 - 特許庁

MICROSCOPE, MICRO-PLASMA ARRAY FOR MICROSCOPE, METHOD OF OBSERVING SURFACE, AND METHOD OF REFORMING SURFACE例文帳に追加

顕微鏡、顕微鏡用マイクロプラズマアレイ、表面観察方法、及び表面改質方法 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加

微分干渉観察方法及び顕微鏡 - 特許庁

OBJECT OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による物体観察方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡および観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE SAMPLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

顕微鏡標本およびその製造方法 - 特許庁

IMAGE RECORDING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における画像記録方法 - 特許庁

SIMPLEX MICROSCOPE, CONTAINER AND SIZING METHOD例文帳に追加

単式顕微鏡と入れ物とサイジング方法 - 特許庁

SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の試料移動方法。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROLLING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡およびその制御方法 - 特許庁

ABERRATION COMPENSATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE HEATING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および試料の加熱方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および走査方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び撮影方法 - 特許庁

ULTRAVIOLET MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

紫外線顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

AUTOFOCUSING METHOD AND ULTRAVIOLET MICROSCOPE例文帳に追加

自動合焦方法及び紫外線顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRUM MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法 - 特許庁

SCANNING-PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び走査方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS AND CELL OBSERVATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置および細胞観察方法 - 特許庁

FLUORESCENCE MEASURING METHOD AND FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

蛍光測定方法及び蛍光顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

HIGHLY PRECISE MEASUREMENT METHOD OF MICROSCOPE FOCUSING POSITION例文帳に追加

顕微鏡合焦位置高精度計測法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡,電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 - 特許庁

COLOR IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE, COLOR IMAGING PROGRAM FOR MICROSCOPE, AND COLOR IMAGING METHOD FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用カラー撮像装置、顕微鏡用カラー撮像プログラムおよび顕微鏡用カラー撮像方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND IMAGE-ACQUIRING METHOD OF THE LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, METHOD FOR CONTROLLING LASER SCANNING MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡、レーザ走査型顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND PHOTOGRAPHING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON IMAGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡および電子顕微鏡における透過電子像撮影方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD IN SCANNING MICROSCOPE AND THE SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SURGICAL MICROSCOPE AND POSITION SETTING METHOD IN SURGICAL MICROSCOPE例文帳に追加

手術用顕微鏡および手術用顕微鏡における位置設定方法 - 特許庁

SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF ORGANIC EL ELEMENT BY EMISSION MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

エミッション・マイクロスコープ法による有機EL素子の検査法 - 特許庁

PREPARATION FOR MICROSCOPE AND METHOD FOR MAKING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡プレパラートおよびその作製方法 - 特許庁

例文

CULTURING AND OBSERVING METHOD AND INVERTED MICROSCOPE例文帳に追加

培養観察方法および倒立顕微鏡 - 特許庁




  
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