「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE DRIVING METHOD例文帳に追加

プローブ付き顕微鏡及びプローブ駆動方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING SAMPLE TO BE EXAMINED AND MICROSCOPE例文帳に追加

被検試料検出方法及び顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

SCANNER DRIVING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法 - 特許庁

MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD例文帳に追加

極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡及び顕微鏡観察方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD UNDER ELECTRON MICROSCOPE OF RESIN SAMPLE例文帳に追加

樹脂試料の電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とその測定方法 - 特許庁

SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作成方法 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型２次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡およびその動作方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とその走査方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁

a way of using a microscope, called the Sump Method 例文帳に追加

スンプ法という,顕微鏡による観察法 - EDR日英対訳辞書

FABRICATION METHOD OF PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

ニアフィールド顕微鏡用プローブの作製方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD FOR OBSERVING OBJECT例文帳に追加

顕微鏡装置及び物体の観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE CONSTITUTIONAL UNITS, MICROSCOPE SYSTEM CONSTITUTED OF SAID MICROSCOPE CONSTITUTIONAL UNITS, AND METHOD FOR ACQUIRING RELATIVE CONNECTION RELATIONSHIP OF THE MICROSCOPE CONSTITUTINAL UNITS CONSTITUTING THE MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡構成ユニット、該顕微鏡構成ユニットよりなる顕微鏡システム、及び顕微鏡システムを構築する顕微鏡構成ユニットの相対的接続関係取得方法 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE HAVING CALIBRATION FUNCTION, AND CALIBRATION METHOD OF INFRARED MICROSCOPE例文帳に追加

校正機能を有する赤外顕微鏡及び赤外顕微鏡の校正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁

ILLUMINATOR FOR MICROSCOPE, MICROSCOPE WITH ILLUMINATOR, AND ILLUMINATING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用の照明装置と、照明装置を備えた顕微鏡と、照明方法 - 特許庁

HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD OF MICROSCOPE AND FOCUSING DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用の自動焦点方法および顕微鏡用の焦点調整装置 - 特許庁

MULTICOLOR ANALYZER FOR MICROSCOPE, AND MULTICOLOR ANALYSIS METHOD USING MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用マルチカラー分析装置及び顕微鏡を用いたマルチカラー分析方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS, AND METHOD OF CALCULATING AMOUNT OF PHASE CHANGE IN MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡装置、及び顕微鏡装置における位相変化量の算出方法。 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, METHOD FOR CORRECTING FOCUS DRIFT IN MICROSCOPE SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡システム、顕微鏡システムにおけるフォーカスドリフトの補正方法及びプログラム。 - 特許庁

BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

MICROSCOPE OBSERVATION REPRODUCING METHOD, MICROSCOPE OBSERVATION REPRODUCING APPARATUS, MICROSCOPE OBSERVATION REPRODUCING PROGRAM AND RECORD MEDIUM THEREOF例文帳に追加

顕微鏡観察再現方法、顕微鏡観察再現装置、顕微鏡観察再現プログラムおよびその記録媒体 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS AND MAGNIFIED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置及び拡大画像生成方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁

COVER FILM FOR MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

顕微鏡用カバーフイルム及びその製造方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の画像表示方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像の処理装置及び処理方法 - 特許庁

MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL INFORMATION ACQUISITION METHOD例文帳に追加

顕微鏡および三次元情報取得方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPIC DETECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 - 特許庁

MAGNETISM OBSERVATION MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING MAGNETIC DOMAIN例文帳に追加

磁気観察顕微鏡及び磁区観察方法 - 特許庁