「microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

FOCUS CORRECTION METHOD OF SCANNING TYPE MICROSCOPE AND SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

走査式顕微鏡の焦点補正方法及び走査式顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE ILLUMINATION SYSTEM, MICROSCOPE, AND OBLIQUE INCIDENT ILLUMINATION METHOD例文帳に追加

顕微鏡照明システム、顕微鏡および傾斜入射照明方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE例文帳に追加

三次元顕微鏡装置及び同装置を用いた観察・測定法 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROLLER, MICROSCOPE CONTROL SYSTEM, METHOD OF CONTROLLING MICROSCOPE, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、顕微鏡制御システム、顕微鏡の制御方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

ULTRASONIC MICROSCOPE, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

超音波顕微鏡とその制御方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

画像処理方法および顕微鏡装置 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM AND IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

顕微鏡システムおよび画像生成方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡と計測方法 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS AND IMAGE ACQUISITION METHOD例文帳に追加

顕微鏡装置および画像取得方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス方法及び装置 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM AND STAGE CONTROL METHOD例文帳に追加

顕微鏡システム及びステージ制御方法 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND SETTING METHOD例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡および設定方法 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

顕微鏡画像撮影システム及び方法 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン測定方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、及び試料管理方法 - 特許庁

METHOD FOR USING VIRTUAL MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドを使用する方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および画像表示方法 - 特許庁

IMAGE FORMING METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像形成方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SOLID OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び立体観察方法 - 特許庁

KERR EFFECT MICROSCOPE, MAGNETIZATION DIRECTION MEASURING METHOD, AND KERR EFFECT MICROSCOPE CALIBRATION METHOD例文帳に追加

カー効果顕微鏡、磁化方向測定方法、及びカー効果顕微鏡校正方法 - 特許庁

MICROSCOPE APPARATUS, METHOD FOR PROCESSING MICROSCOPE IMAGES, AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

顕微鏡装置、顕微鏡画像処理方法および半導体素子の検査方法 - 特許庁

RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ADJUSTING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価方法および電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

METHOD FOR DISPLAYING IMAGE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の像表示方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE IMAGING APPARATUS, MICROSCOPE IMAGING METHOD, AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法、および情報記憶媒体 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE LENS AND OBSERVATION METHOD USING MICROSCOPE OBJECTIVE LENS例文帳に追加

顕微鏡対物レンズ及び顕微鏡対物レンズを用いた観察方法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF MICROSCOPE SYSTEM, RECORDING MEDIUM, PROGRAM, AND MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡システムの制御方法、記録媒体、プログラム、及び顕微鏡システム - 特許庁

AUTOMATIC ADJUSTING METHOD FOR CONFOCAL MICROSCOPE AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点顕微鏡の自動調整方法および共焦点顕微鏡 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁

LONG FOCUS DEPTH OBSERVATION METHOD FOR OPTICAL MICROSCOPE AND OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡の長焦点深度観察方法と光学顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE LENS FOR IMAGING SAMPLE, MICROSCOPE AND METHOD例文帳に追加

試料を結像するための顕微鏡対物レンズ、顕微鏡および方法 - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, AND METHOD OF OBSERVING OBSERVATION OBJECT例文帳に追加

顕微鏡システム、観察体の観察方法 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM例文帳に追加

光学顕微鏡及びスペクトル測定方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND OPTICAL OBSERVATION METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡と光学的観察方法 - 特許庁

CONFOCAL MICROSCOPE AND ADJUSTING METHOD例文帳に追加

共焦点顕微鏡および調節方法 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

光学顕微鏡、及び分光測定方法 - 特許庁