| 意味 | 例文 (11件) |
reflection mappingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 11件
SECONDARY REFLECTION ENVIRONMENT MAPPING CIRCUIT例文帳に追加
２次反射環境マッピング回路 - 特許庁
MULTI-ORDER REFLECTION ENVIRONMENT MAPPING CIRCUIT例文帳に追加
多次反射環境マッピング回路 - 特許庁
The expression: gloss feeling value=[regular reflection (limit width) glossiness/reference glossiness]^2×(mapping property value/reference mapping property value).例文帳に追加
（光沢感覚値）＝[正反射(限幅)光沢度／基準光沢度]^2×（写像性値／基準写像性値） - 特許庁
Because environment mapping is performed using texture mapping hardware, it can obtain global reflection and lighting results in real-time. 例文帳に追加
環境マッピングはテクスチャ・マッピング・ハードウェアを使って実行されるので、全面的な反射と照明の結果を即時に得ることができる。 - コンピューター用語辞典
I referenced reflection mapping using synthetically rendered environment maps as presented by Jim Blinn in 1976: 例文帳に追加
私はリフレクションマッピングを参照するのに、ジム・ブリンが1976年に提示した合成的にレンダリングされる環境マップを用いた。 - コンピューター用語辞典
To provide a total reflection X-ray fluorescence analyzer capable of finding sufficiently accurately a distribution of measuring intensity, in the total reflection X-ray fluorescence analyzer for performing mapping measurement.例文帳に追加
マッピング測定を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置において、十分正確な測定強度の分布を短時間で求められるものを提供する。 - 特許庁
To provide a neutron diffracting device capable of detecting scattered neutrons by irradiating a neutron beam locally to a measuring sample, acquiring Bragg reflection data by moving the measuring sample successively, and performing observation by mapping acquired data.例文帳に追加
測定試料に局所的に中性子ビームを照射して散乱中性子を検出し、順次測定試料を移動させて、そのブラッグ反射データを取得し、取得データをマッピングして観測できる中性子回折装置を提供する。 - 特許庁
To provide a total reflection measuring instrument capable of measuring two-dimensional mapping at a high speed with high precision even if a single element detector or a linear array detector is used.例文帳に追加
本発明の目的は単素子検出器やリニアアレイ検出器を用いても、高速、高精度な二次元マッピング測定を行うことが可能な全反射測定装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a total reflection fluorescent X-ray analyzer for mapping measurement, for obtaining a distribution of a measurement intensity in a shorter time without impairing an accuracy.例文帳に追加
マッピング測定を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置において、正確さを損なうことなくより短時間に測定強度の分布を求められる装置を提供する。 - 特許庁
The present invention provides also an evaluation device including at least a means for measuring a regular reflection (limit width) glossiness, a full width glossiness and a mapping property value, and for evaluating the feeling of the gloss, using the calculation value obtained by the expression shown hereinafter as the index of the gloss feeling value.例文帳に追加
また、本発明は、正反射(限幅)光沢度と、全幅光沢度と、写像性値と、を測定する手段を少なくとも含む装置であって、下記式で得られる算出値を光沢感覚値として指標する光沢感の評価装置を提供する。 - 特許庁
The scanning mirror 22 on the detection side is constituted so as to alter the direction of a reflecting surface and the measuring region in the contact surface measured by the light detecting means 18 is altered by altering the reflecting surface of the scanning mirror 22 on the detection side with respect to the total reflection light from the contact surface to perform mapping measurement.例文帳に追加
検出側スキャンミラー２２は反射面の向きを変更可能に構成され、前記当接面からの全反射光に対して検出側スキャンミラー２２の反射面を変更することで、光検出手段１８で測定する当接面内での測定部位を変更しマッピング測定を行う。 - 特許庁
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