「secondary particle emission」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a carbonaceous particle which has an excellent electron emission performance, has a high electron conductivity, shows excellent characteristics particularly when used for a secondary battery, and can suitably be applied to various devices other than a secondary battery as well.例文帳に追加

優れた電子放出性能を有し、電子伝導性が高く、特に二次電池に使用した場合優れた特性を発揮し、二次電池以外の様々なデバイスにも好適に適用できる炭素粒子を提供する。 - 特許庁

The secondary electron emission rate measuring instrument is manufactured so that it includes an electrostatic lens 104 for narrowing charged particle rays and a reflection electrode 105 for reflecting unneeded incident electrons, and is installed in a vacuum container, thus providing an inexpensive and compact measuring instrument as compared with the conventional measuring instrument and measuring secondary electron emission rate easily regardless of the type of a charged particle generator.例文帳に追加

二次電子放出率測定器は、荷電粒子線を絞る静電レンズ１０４及び不必要な入射電子を反射させるための反射電極１０５を含むように作製し、且つ、この装置を真空容器内に設置することで、従来の測定装置とは異なり、安価で小型の測定装置が供給できるとともに荷電粒子生成装置の種類に関わらず容易に二次電子放出率を測定することができる。 - 特許庁

To solve the problem that the conventional secondary electron emission rate measuring instrument is in a large scale including a charged particle generation source; a sample holder, an incident current measuring instrument; a radiation electron current measuring instrument; and an apparatus for controlling them although the measurement of secondary electron emission rate is essential to the development of a plasma display or the like.例文帳に追加

二次電子放出率の測定はプラズマディスプレイの開発などに欠かせないが、従来の二次電子放出率測定装置は荷電粒子発生源、サンプルホルダー、入射電流測定装置、放出電子電流測定装置、及びそれらの制御用装置を含んだ大掛かりなものであり、購入、維持に多額の費用が必要である。 - 特許庁

For the charged particle beam method and apparatus, a primary electron beam is used to irradiate a sample, thereby inducing emission of secondary and back scattered electrons respectively, having information as to the form structure and the material structure of the sample.例文帳に追加

荷電粒子ビーム法および装置は、一次電子ビームを使用して試料を照射し、試料が、試料の形状的構造および材料的構造それぞれに関する情報を有する二次および後方散乱電子の放出を誘起するようにする。 - 特許庁

The current value and the irradiation energy of the charged particle beams, the electric field on the surface of the substrate to be inspected, the emission efficiency of the secondary electrons and back scattered electrons, etc., all taken into consideration, the electrical resistance and the electrical capacity are determined so as to match with those of the inspection image.例文帳に追加

一方で、荷電粒子ビームの電流値および照射エネルギー、被検査基板表面での電場、二次電子および後方散乱電子の放出効率等を考慮し、検査画像と一致させるように電気抵抗や電気容量を決定する。 - 特許庁