「test generation method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

AUTOMATIC GENERATION METHOD FOR COMPILER TEST PROGRAM例文帳に追加

コンパイラテストプログラムの自動生成方法 - 特許庁

TRACKING GENERATOR AND TEST SIGNAL GENERATION METHOD例文帳に追加

トラッキング発生器及び試験信号発生方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

To provide a test data generation system, a test data generation method and a test data generation program for efficiently generating test data to be used in a test environment.例文帳に追加

テスト環境において用いるテストデータを効率的に生成するためのテストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを提供する。 - 特許庁

The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁

CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム - 特許庁

AMPLIFICATION CONTROL DEVICE, TEST SIGNAL GENERATION MODULE, TEST DEVICE, AMPLIFICATION CONTROL METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

増幅制御装置、試験用信号生成モジュール、試験装置、増幅制御方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

TEST CASE GENERATOR, AND TEST CASE GENERATION PROGRAM AND METHOD例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、およびテストケース生成方法 - 特許庁

PSEUDO ROAD SURFACE GENERATION DEVICE FOR VEHICLE TEST, AND RUNNING TEST METHOD OF AUTOMOTIVE VEHICLE例文帳に追加

車両試験用疑似路面発生装置及び自走式車両の走行試験方法 - 特許庁

TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING TEST PATTERN AND RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN GENERATION PROGRAM RECORDED例文帳に追加

テストパタン生成方法および装置ならびにテストパタン生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION例文帳に追加

多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁

To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.例文帳に追加

テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加

ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.例文帳に追加

スキャンベースＡＴＰＧテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁

SOFTWARE TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM THAT RECORDS PROGRAMS TO REALIZE THE METHOD例文帳に追加

ソフトウェアのテスト項目生成装置、テスト項目生成方法およびその方法を実現するプログラムを記録した機械読取可能な記録媒体 - 特許庁

VIDEO TEST SYSTEM, AND VIDEO SEQUENCE DATA GENERATION METHOD例文帳に追加

ビデオ・テスト・システム及びビデオ・シーケンス・データ発生方法 - 特許庁

BEHAVIORAL SYNTHESIS DEVICE AND METHOD HAVING TEST BENCH GENERATION FUNCTION, AND PROGRAM例文帳に追加

テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁

DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

データパターン／テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁

METHOD FOR ADDING AMPLITUDE NOISE TO TEST SIGNAL AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号に振幅ノイズを加える方法及び信号生成装置 - 特許庁

AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM AND METHOD FOR WEB APPLICATION例文帳に追加

ウェブアプリケーションの自動テスト生成システム及び方法 - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR INPUT DATA GENERATION FOR TEST例文帳に追加

テスト用入力データ生成装置及び方法及びプログラム - 特許庁

TEST COMMAND FILE GENERATION SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テストコマンドファイル作成システムと方法およびプログラム - 特許庁

CIRCUIT, METHOD, AND APPARATUS FOR BURN-IN TEST AND PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加

バーンインテスト回路、方法、装置、及びパターン生成プログラム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST DATA GENERATION FOR LOOKUP TABLE例文帳に追加

ルックアップテーブルのための自動テストデータ発生方法およびシステム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SOLVING TEST GENERATION PROBLEM例文帳に追加

テスト生成問題解決システム及びテスト生成問題解決方法 - 特許庁

TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁

To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR SUPPORTING TEST SPECIFICATION GENERATION AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト仕様生成支援装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATOR, AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATING METHOD, AND AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム自動生成装置、テストプログラム自動生成方法及びテストプログラム自動生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁

To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.例文帳に追加

処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁