「test generation method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

To provide a drag test method and a test device therefor tracking a cause of rotor abrasion growth by local dragging or the like, by enabling reproduction of a resetting behavior or the like after rotor fall which is a main cause of judder generation.例文帳に追加

ジャダー発生の主要因であるロータ倒れ後の復帰挙動等の再現を可能にして、局部引摺りによるロータ摩耗成長の要因等を追跡できる引摺り試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which a generation of cracks at a bonding pad part due to probing in a chip test are prevented and in bonding of which pads will not peel off.例文帳に追加

チップテスト時のプロービングによるボンディングパッド部のクラックの発生を防止すると共に、ボンディング時のパッド剥がれをなくすようにした半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加

電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method for failure verification and its device to simply prepare a test pattern with respect to a logic circuit by using an ATPG without introducing a scan circuit even if a sequence circuit is included in the logic circuit, and to provide a failure verification method and its device, and a program.例文帳に追加

論理回路に順序回路が含まれていても、スキャン回路を導入することなく、ＡＴＰＧを用いて論理回路に対するテストパターンを簡易に作成することができる故障検証用テストパターン生成方法及びその装置、故障検証方法及びその装置、並びにプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a printed circuit board capable of testing continuity between an integrated circuit and the printed circuit board in a short time, and capable of facilitating generation of a test signal.例文帳に追加

本発明は、集積回路とプリント回路板との接続性の試験を短時間で行うことができ、テスト信号の生成が容易となるプリント回路板の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide effective test generation for a Web application for substantially removing or reducing at least a portion of disadvantages or problems associated with a conventional method and system.例文帳に追加

従来の方法とシステムに付随する不利益や問題の少なくとも一部を実質的に除去または低減する、ウェブアプリケーションのための効果的なテスト生成を提供することを課題とする。 - 特許庁

A color development method of a phosphate ion contained in a test water by the generation of molybdenum blue comprises: a step of adding a first aqueous solution containing hexaammonium heptamolybdate, antimonyl potassium tartrate and sulfuric acid and a second aqueous solution containing an iodine salt and a hydroxyamine salt to the test water; and a step of heating a test water into which the first aqueous solution and the second test solution are added to 60°C or higher.例文帳に追加

モリブデン青の生成による、検査水に含まれるりん酸イオンの発色方法は、検査水に対し、七モリブデン酸六アンモニウム、酒石酸アンチモニルカリウムおよび硫酸を含む第一水溶液並びにヨウ化物塩およびヒドロキシルアミン塩を含む第二水溶液を添加する工程と、第一水溶液および第二水溶液を添加した検査水を６０℃以上に加熱する工程とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a hot water supply system capable of efficiently determining a positional relation between a temperature detection part and a bathtub water-introducing part by utilizing an operation to be performed for checking the generation of a high temperature liquid in a test run, and to provide a test run method for the hot water supply system.例文帳に追加

本発明は、試運転時に行われる高温液体が生成されたことの確認の動作を利用して、温度検知部と浴槽水引込部との位置関係の判定を効率よく行うことができる給湯システム及び給湯システムの試運転方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加

テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a survival voltage discharge method and a survival voltage discharge device of fuel cell which facilitate handling of a fuel cell stack from power generation test to mounting on a vehicle and can extend a lifetime of the cell.例文帳に追加

燃料電池スタックの発電試験後から車両へ搭載するまでの期間における取り扱いを容易なものとすると共に電池寿命を延ばすことのできる燃料電池の残電圧放電方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.例文帳に追加

側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁

To provide a water-absorbing fabric suppressed in generation of impurities and excellent in durability, to provide a production method of the fabric, to provide a water absorption wick using the water-absorbing fabric, and to provide an environmental test device using the water absorption wick.例文帳に追加

不純物の発生が抑制され、耐久性に優れた吸水性布帛とその製法、並びに上記吸水性布帛を用いた吸水ウイックおよびそれを用いた環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operation method for a pressurized-fluidized combined power generation plant in multi-coal type burning test, capable of performing operation adapted to an operation state by clarifying the criterion for whether the operation state in the multi-coal type burning test is poor, and an operation management device for managing the operation.例文帳に追加

多炭種燃焼試験時の運転状態が不良である否かの判定基準を明確し、運転状態に適応した運転を行うことが可能な多炭種燃焼試験時の加圧流動床複合発電プラントの運転方法及びこれら運転を管理する運転管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a verifying method for design which automatically generates a smart test bench having a function of automatically deciding proper restriction conditions of vector generation according to information on both the design and characteristics of an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象の設計と特性の両方の情報に基づいて、適切なベクトル生成の制約条件を自動的に判定する機能を備えるスマート・テストベンチを自動的に生成する、設計の検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

To provide a device and a method for monitoring partial discharge generation, reducing a data quantity of partial discharge in a charge lifetime test by a charge sample for evaluating insulation performance, and reducing a storage capacity for storing partial discharge data.例文帳に追加

絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A compound usable for treatment and/or prevention relative to a disease caused by production of the endoplasmic reticulum stress can be screened by selecting a test material for suppressing the generation level of the endoplasmic reticulum stress by utilizing the evaluation method.例文帳に追加

この評価方法を利用して、小胞体ストレスの生成レベルを抑制する被験物質を選択することにより、小胞体ストレスの産生に起因する疾患に対する治療および／または予防に使用し得る化合物をスクリーニングすることができる。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

To provide a can seam gap generation test method and its device faithfully reproducing changes in the can received at a market, forcedly generating a seam gap, and knowing beforehand how the shape and the strength of seam affect the leakage.例文帳に追加

市場において缶が受ける変化を忠実に再現し、強制的にシームギャップを発生させて、巻締の形状、強さなどが漏れにどの様に影響を与えるかを事前に知ることができる缶のシームギャップ発生試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To enable a spatial resolution of a display device to be accurately evaluated, even regarding the vicinity of the upper limit of a spatial resolution of a video signal by applying a signal generator, signal generation method and test method to subjective evaluation of a moving image resolution on the display device, for example.例文帳に追加

本発明は、信号発生装置、信号発生方法及び試験方法に関し、例えばディスプレイ装置における動画像解像度の主観評価に適用して、ビデオ信号の空間解像度の上限近傍についても、ディスプレイ装置の空間解像度を正確に評価することができるようにする。 - 特許庁

A carbonaceous material in which the bonding strength between carbon particles is made high so as to be ≥0.2 (g/mm^3) by a measured value according to an ACT-JP (Arata Coating Test with Jet Particles) method is used as a carbon electrode for generating high purity F_2 or NF_3, so that the generation of CF_4 is suppressed.例文帳に追加

炭素粒子間の結合力が、ＡＣＴ−ＪＰ法による測定値で０．２（ｇ／ｍｍ^３）以上である炭素粒子間の結合力の高い炭素質材料を高純度Ｆ_２またはＮＦ_３発生用炭素電極として使用することによってＣＦ_４の発生を抑制する。 - 特許庁

The control means 2 has an aromatic selection part 2a instructing the aroma generation means 3 about the selection of the aromatics, an aroma generation method or the like on the basis of the aroma generating time setting data, individual data (the data of birth, a schedule, a reply of a physicological test or the like), weather data and other various set data inputted from the input means 4.例文帳に追加

上記制御手段２は、上記入力手段４から入力される芳香発生の時間設定情報、個人情報（生年月日，スケジュール，心理テストの回答等）、気候情報その他の種々の設定情報に基づき、芳香材の選択及び芳香の発生方法等を上記芳香発生手段３に指示する芳香材選択部２ａを有するものとした。 - 特許庁

To provide an indoor chemical material measuring apparatus having a small facility, supporting a JIS small chamber method, measuring instantaneous value in the field, easily identifying a generation source, accurately measuring by a sampler, and quickly measuring by implementing an accelerated test.例文帳に追加

小型の設備で、ＪＩＳ小形チャンバー法に対応して現場における瞬時値の測定を行なうことができ、発生源の特定が容易であると共に、サンプラによる高精度な測定ができ、しかも加速試験を行なって短時間に測定することができる室内化学物質測定装置を提供するものである。 - 特許庁

To provide a water-washable water-based penetrant for a liquid penetrant test not having a flash point, capable of suppressing to the utmost generation of excess cleaning when removing an excess penetrant by water washing, and having a similar flaw detection performance to that of a water-washable oil-based penetrant, and a liquid penetrant testing method using the penetrant.例文帳に追加

引火点を有さず、かつ、水洗による余剰浸透液の除去に当たって、過洗浄の発生が可及的に抑制でき、水洗性油ベース浸透液と同等の探傷性能を具備している浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

In this method, the information is reproduced from an optical disk containing the DMA information or it is verified whether a recorder- reproducer which records the information on the optical disk generates or updates accurately the DMA information after the recorder-reproducer carried out its processing in a test mode where generation or updating of the DMA information is tested.例文帳に追加

この方法は、ＤＭＡ情報を持つ光ディスクから情報を再生したり、或いは光ディスクに情報を記録する記録及び再生装置がＤＭＡ情報の生成または更新をテストするためのテストモードにおいて処理を行った後にＤＭＡ情報を正確に生成または更新するかどうかを検証する。 - 特許庁

To provide a program development stage retrieval system and method capable of grasping the developed situation of the development stage of the downstream process of program development only by retrieving one repository server by managing repository information corresponding to each development stage from source program generation to module test success.例文帳に追加

ソースプログラム作成からモジュールのテスト合格までの各開発段階に対応したリポジトリ情報を管理することにより、１つのリポジトリサーバを検索するだけでプログラム開発における下流工程の開発段階について、この開発状況を把握できるプログラム開発段階検索システム及びプログラム開発段階検索方法を提供する点にある。 - 特許庁

To provide a local execution method of diffusion aluminide coating of high oxidation-resistant performance with less generation of cracks during an oxidation-resistant test or during the use of a component in which the coating of the stabilized quality can be easily executed for a part of a high-temperature metal component without using any additive such as inactive ceramic particles and oxide dispersant while using an Al source having the constant Al content.例文帳に追加

Ａｌ含有率が一定のＡｌ源を用い、不活性セラミックス粒子や酸化物分散剤等の添加物を用いずに、品質が安定したコーティングを高温金属部品の一部に容易に施工でき、これにより耐酸化試験或いは部品使用中の割れ等の発生が少なく高い耐酸化性能の拡散アルミナイドコーティング局部施工方法を提供する。 - 特許庁

To provide an adhesive sheet for inspection that permits an electric conduction test even in a state where a semiconductor wafer or a semiconductor chip formed by dicing a semiconductor wafer is laminated thereon and can prevent deformation (warpage) or breakage of a semiconductor wafer, or generation of flaws or scratches on the back surface in the inspection, and a method of manufacturing a semiconductor device using the same.例文帳に追加

半導体ウェハ、又は半導体ウェハのダイシングにより形成された半導体チップを貼り合わせた状態でも電気的な導通検査を行うことができ、その検査における半導体ウェハの変形（反り）や破損、裏面のキズやスクラッチの発生を防止することが可能な検査用粘着シート、及びそれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature control method for a semiconductor chip capable of rapidly raising the temperature of the semiconductor chip without causing the increase of the size of the semiconductor chip or causing characteristic degradation of the semiconductor chip and without needing to change the inside temperature of a test vessel even if semiconductor chips having different target temperatures or semiconductor chips having different heat generation amount are consecutively tested.例文帳に追加

半導体チップのサイズの増加を招くことがなく、かつ、半導体チップの特性劣化を招くこともなく、かつ、目標温度が異なる半導体チップあるいは発熱量が異なる半導体チップを連続して試験する場合であっても、試験容器の内部温度を変更する必要がなく、かつ、半導体チップの温度上昇を高速に行うことができる半導体チップの温度制御方法を提供する。 - 特許庁